描(miao)述：DLT-01 Dielectric tester型介(jie)電(dian)測(ce)試(shi)儀是(shi)壹款多功(gong)能(neng)的(de)介(jie)電(dian)測(ce)試(shi)儀，即(ji)可(ke)測(ce)試(shi)包括介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)、介(jie)電(dian)損耗(hao)、電(dian)容等(deng)參數(shu)，又可(ke)以測(ce)量(liang)諧(xie)振頻率(lv)Fs，反(fan)諧(xie)振頻率(lv)Fp，機(ji)電(dian)耦合(he)系數Keff，機械(xie)品質(zhi)因(yin)素Qm，最大(da)導納(na)Gmax等(deng)材料(liao)參數(shu)，為材料研(yan)究(jiu)測(ce)試(shi)提供(gong)第壹手(shou)原(yuan)始數(shu)據，提(ti)供(gong)元整的(de)數(shu)據圖，是(shi)高(gao)等(deng)院校(xiao)，科(ke)研(yan)院所(suo)及材(cai)料研究(jiu)生產(chan)的(de)重(zhong)要(yao)工(gong)具(ju),同時(shi)還可(ke)以配合(he)高溫(wen)設備(bei)，進行(xing)高溫設備(bei)測(ce)試(shi)。

DLT-01 Dielectric tester型(xing)介(jie)電(dian)測(ce)試(shi)儀介(jie)紹：

關(guan)鍵詞：介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)，諧(xie)振頻率(lv)Fp，機(ji)電(dian)耦合(he)系數Keff，機械(xie)品質(zhi)因(yin)素Qm。

DLT-01 Dielectric tester型(xing)介(jie)電(dian)測(ce)試(shi)儀是(shi)壹款多功(gong)能(neng)的(de)介(jie)電(dian)測(ce)試(shi)儀，即(ji)可(ke)測(ce)試(shi)包括介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)、介(jie)電(dian)損耗(hao)、電(dian)容等(deng)參數(shu)，又可(ke)以測(ce)量(liang)諧(xie)振頻率(lv)Fs，反(fan)諧(xie)振頻率(lv)Fp，機(ji)電(dian)耦合(he)系數Keff，機械(xie)品質(zhi)因(yin)素Qm，最大(da)導納(na)Gmax等(deng)材料(liao)參數(shu)，為材料研(yan)究(jiu)測(ce)試(shi)提供(gong)第壹手(shou)原(yuan)始數(shu)據，提(ti)供(gong)元整的(de)數(shu)據圖，是(shi)高(gao)等(deng)院校(xiao)，科(ke)研(yan)院所(suo)及材(cai)料研究(jiu)生產(chan)的(de)重(zhong)要(yao)工(gong)具(ju),同時(shi)還可(ke)以配合(he)高溫(wen)設備(bei)，進行(xing)高溫設備(bei)測(ce)試(shi)。

壹、主(zhu)要特點(dian)：

●自(zi)動(dong)平衡技(ji)術(shu)電(dian)橋，測(ce)量(liang)準確度高

●4端(duan)對(dui)開爾文測(ce)試(shi)端(duan)，測(ce)量(liang)範圍(wei)準(zhun)確度高

●提供(gong)內(nei)部(bu)直(zhi)流(liu)偏壓(ya)-5V～+5V

●可(ke)選配內部(bu)±40V偏置電(dian)壓(ya)源(yuan)

●簡體中(zhong)文、英(ying)文操(cao)作(zuo)語(yu)言

●分檔(dang)測(ce)量(liang)、列表掃描(miao)、繪圖掃描(miao)、開路(lu)、短路、負(fu)載校(xiao)正等(deng)等(deng)功(gong)能(neng)

●配(pei)備電(dian)導率(lv)σ·介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)ε的(de)運算功(gong)能(neng)

●進行(xing)測(ce)試(shi)數據、測(ce)試(shi)條(tiao)件保存（U盤或內(nei)部(bu)）

●繪圖掃描(miao)圖像(xiang)直(zhi)接拷屏(ping)到(dao)U盤功(gong)能(neng)

●加(jia)強(qiang)的(de)測(ce)試(shi)端(duan)保護(hu)功(gong)能(neng)

●USB、GPIB、RS232、LAN等(deng)上位(wei)機連(lian)接接口(kou)

二(er)、主(zhu)要技(ji)術(shu)參數：

1、頻(pin)率(lv)：20HZ-1MHZ、5MHZ、10MHZ、15MHZ、30MHZ、50MHZ多種可(ke)選

2、D33測(ce)試(shi)範圍(wei)：0-6000PC/N(選(xuan)配(pei)ZJ-3型(xing)精(jing)密(mi)壓(ya)電(dian)系數測(ce)試(shi)儀)

3、基本(ben)精度(du)：0.05%

4、測(ce)試(shi)電(dian)平：5mV—2Vrms

5、輸出(chu)阻(zu)抗：10Ω、30Ω、50Ω、100Ω

6、測(ce)試(shi)參數：D33，電(dian)容，介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)，諧(xie)振頻率(lv)Fs，反(fan)諧(xie)振頻率(lv)Fp，機(ji)電(dian)耦合(he)系數Keff，機械(xie)品質(zhi)因(yin)素Qm，最大(da)導納(na)Gmax等(deng)

7、通道數：1通道

8、電(dian)極(ji)：雙面夾持(chi)探針

9、軟件(jian)：自動(dong)計(ji)算(suan)並輸(shu)出數(shu)據，軟(ruan)件(jian)可(ke)根據實(shi)驗(yan)方案設計(ji)，通過測(ce)量(liang)C和D值(zhi)，自(zi)動(dong)完(wan)成介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)和(he)介(jie)電(dian)損耗(hao)隨頻率、電(dian)壓(ya)、偏壓(ya)多維變(bian)化(hua)的(de)曲線(xian)。