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      1. <dl id="R85knp"></dl>

        1. 當前位(wei)置(zhi):首(shou)頁(ye)  >  產品(pin)中(zhong)心(xin)  >  材(cai)料電學(xue)性(xing)能測試(shi)儀  >  材料高(gao)溫電學(xue)測(ce)試(shi)儀  >  GWJDN-600三兼(jian)容多(duo)用(yong)途(tu)自校(xiao)準高(gao)溫介電溫(wen)譜(pu)儀
          型號(hao):GWJDN-600
          三兼(jian)容多用(yong)途(tu)自校(xiao)準高(gao)溫介電溫(wen)譜(pu)儀

          描述(shu):GWJDN-300高(gao)溫介電溫(wen)譜(pu)儀是(shi)壹(yi)款專(zhuan)門(men)用(yong)於(yu)評估電介(jie)質材料高(gao)溫介電機(ji)制(材(cai)料極化(hua)、儲(chu)能(neng)、馳(chi)豫、相(xiang)變(bian)、微結構變(bian)化(hua)、分(fen)子團(tuan)重(zhong)新(xin)取(qu)向等(deng))的重要(yao)測(ce)量系統,該(gai)系(xi)統通(tong)過測量介電常(chang)數、介(jie)電損(sun)耗(hao)和阻抗(kang)、相位(wei)隨溫度(du)、頻(pin)率(lv)變(bian)化(hua)的關系,直接得(de)出電介(jie)質材料的溫度(du)譜(pu)、頻(pin)率(lv)譜、阻(zu)抗譜、Cole-Cole圖(tu)等重(zhong)要(yao)的物理(li)性(xing)能(neng)參(can)數。高(gao)溫介電溫(wen)譜(pu)儀是(shi)科(ke)研實(shi)驗(yan)室新(xin)材料的開(kai)發(fa)和研究(jiu)、生產質量控制和生產工(gong)藝優(you)化(hua)的重要(yao)工(gong)具(ju)。

          • 廠商性(xing)質

            生產廠家
          • 更新(xin)時間(jian)

            2025-12-01
          • 訪(fang)問(wen)量

            1921
          產品(pin)分(fen)類PRODUCT

          我們相信(xin)好(hao)的產品(pin)是(shi)信(xin)譽(yu)的保證!

          詳細(xi)介(jie)紹
          品(pin)牌(pai)BOROSA/德國(guo)產地類別國(guo)產
          應(ying)用(yong)領(ling)域電子(zi)/電池,道(dao)路(lu)/軌(gui)道(dao)/船(chuan)舶,鋼(gang)鐵/金屬(shu),航(hang)空航(hang)天(tian),電氣

          三兼容多用(yong)途(tu)高(gao)溫介電溫(wen)譜(pu)儀GWJDN-300

          關(guan)鍵(jian)詞:高(gao)溫介電,變(bian)溫,電容(rong),損(sun)耗

             

                                                         

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          GWJDN-300高(gao)溫介電溫(wen)譜(pu)儀是(shi)壹(yi)款專(zhuan)門(men)用(yong)於(yu)評估電介(jie)質材料高(gao)溫介電機(ji)制(材(cai)料極化(hua)、儲(chu)能(neng)、馳(chi)豫、相(xiang)變(bian)、微結構變(bian)化(hua)、分(fen)子團(tuan)重(zhong)新(xin)取(qu)向等(deng))的重要(yao)測(ce)量系統,該(gai)系(xi)統通(tong)過測量介電常(chang)數、介(jie)電損(sun)耗(hao)和阻抗(kang)、相位(wei)隨溫度(du)、頻(pin)率(lv)變(bian)化(hua)的關系,直接得(de)出電介(jie)質材料的溫度(du)譜(pu)、頻(pin)率(lv)譜、阻(zu)抗譜、Cole-Cole圖(tu)等重(zhong)要(yao)的物理(li)性(xing)能(neng)參(can)數。高(gao)溫介電溫(wen)譜(pu)儀是(shi)科(ke)研實(shi)驗(yan)室新(xin)材料的開(kai)發(fa)和研究(jiu)、生產質量控制和生產工(gong)藝優(you)化(hua)的重要(yao)工(gong)具(ju)。

          主(zhu)要(yao)產品(pin)特點:

          10.05%基(ji)本(ben)精(jing)度(du)

          2、可(ke)內建1Amp 或(huo) 2Amp DC Bias,外(wai)加達到40Amp DC Bias

          可(ke)將(jiang)測(ce)試(shi)波(bo)形儲(chu)存(cun)成(cheng)CSV格(ge)式,放(fang)大、縮(suo)小及MARKER功能(neng)

          20Hz~120MHz,七種機(ji)型,可(ke)隨時升級 ,達(da)升(sheng)級到120MHz

          直覺(jiao)的用(yong)戶(hu)操(cao)作介面,USBLANGPIBHANDLER

          可(ke)使用(yong)滑(hua)鼠及鍵(jian)盤操(cao)控,也可外接(jie)印(yin)表(biao)機(ji)及使用(yong)USB介(jie)面儲(chu)存(cun)資(zi)料

          具(ju)等(deng)效電路(lu)模(mo)擬功能(neng),內建同(tong)頻(pin)率(lv)LCR Meter壹(yi)

          主(zhu)要(yao)測(ce)試(shi)參(can)數:

          電容(rong)(C), 電感(gan)(L), 電阻(zu)(R), 電導(dao)(G), 電納(B), 電抗(kang)(X), 消耗因(yin)素(su)(D), 品(pin)質因素(su)(Q), 阻(zu)抗(kang)(Z), Y參(can)數(Y), 相(xiang)位(wei)角(Ø)

          高(gao)精度(du)量(liang)測(ce):電容(rong),電感(gan)及阻抗(kang)基(ji)本精(jing)度(du)為±0.05%.消耗因(yin)素(su)精(jing)度(du)為±0.0005及品(pin)質因素(su)精(jing)度(du)為±0.05%.

          元(yuan)件圖(tu)形掃(sao)描;精(jing)密(mi)阻抗(kang)分(fen)析儀不(bu)僅(jin)提(ti)供(gong)高(gao)頻(pin)率(lv),高(gao)精度(du)的量測. 該(gai)設備(bei)還(hai)是(shi)壹(yi)個(ge)包含豐(feng)富特性(xing)的元件分(fen)析儀.

          圖(tu)形掃(sao)描可(ke)依據(ju)頻(pin)率(lv), 驅(qu)動值(zhi)及直流偏壓源同(tong)時在(zai)高(gao)清晰(xi),大(da)型(xing)彩(cai)色(se)顯示幕上顯示任意兩種參(can)數的圖(tu)形.

          顯示格(ge)式包括 串聯 或(huo)並聯等同(tong)電路(lu)和兩極形(xing)式.單測某(mou)壹(yi)頻(pin)率(lv)時可(ke)以(yi)從圖(tu)形掃(sao)描轉(zhuan)換(huan)成(cheng)標準電表(biao)讀(du)值(zhi)模式(shi).

          可(ke)變(bian)的輸出和偏壓源

          交(jiao)流(liu)輸出可選(xuan)高(gao)達1伏或(huo)20mA,實(shi)現(xian)在真實(shi)操(cao)作環境(jing)中來(lai)評(ping)估元件.可(ke)變(bian)偏壓直流源可(ke)提(ti)供(gong)達100mA的電流(liu).

          外(wai)部控制

          在(zai)品(pin)管(guan)或(huo)制(zhi)作檔譜(pu)的過程中可通(tong)過 GPIB介(jie)面來(lai)控制儀器(qi)和收取(qu)讀值(zhi).

          網(wang)端(duan)介(jie)面也具(ju)有同(tong)樣的控制儀器(qi)和傳輸資(zi)料的功能(neng) 使儀器(qi)能(neng)適(shi)應(ying)許多不(bu)同(tong)的測試(shi)環境(jing).

          多(duo)選(xuan)擇(ze)的介面

          VGA介(jie)面可(ke)連接(jie)到PC顯示器(qi)或(huo)投(tou)影機(ji), 這(zhe)種功能(neng)為生產環境或(huo)教(jiao)學(xue)培訓都(dou)提供(gong)無法(fa)衡量的價(jia)值(zhi). 本(ben)機(ji)還可(ke)通(tong)過外接鍵(jian)盤和滑鼠(shu)來(lai)操(cao)控,任(ren)何(he)PS2或(huo)USB鍵(jian)盤和滑鼠(shu)都(dou)能簡(jian)單的接插到系(xi)統中(zhong), 提(ti)供(gong)控制和操(cao)作儀器(qi)的另壹(yi)種可行(xing)方(fang)式.

          資(zi)料儲(chu)存(cun)和提取(qu)

          所(suo)有的測試(shi)結果(guo)及設制(zhi)都(dou)可以(yi)通過網路介面或(huo)USB閃(shan)盤來(lai)儲(chu)存(cun).

          分(fen)類處理(li)介(jie)面

          Bin Handler 為可選(xuan)設制(zhi), 通(tong)過25相(xiang)D型(xing)接(jie)頭(tou)提(ti)供(gong)獨(du)立(li)(24V)和非獨(du)立(li)(5V)的信(xin)號(hao).

          印(yin)表(biao)機(ji)輸出

          測(ce)試(shi)結果(guo)可(ke)通(tong)過幾種不(bu)同(tong)的途經(jing)列印出,其中包括直接列印至(zhi)HP-PCL匹(pi)配(pei)的圖(tu)形印(yin)表(biao)機(ji), EPSON相(xiang)匹(pi)配(pei)的文(wen)字(zi)印表(biao)機(ji)或(huo)直接通過儀器(qi)的網口(kou)經(jing)局域(yu)網列印.

          待(dai)測(ce)元件連接(jie)

          可(ke)通(tong)過面板(ban)的BNC接(jie)頭(tou)來(lai)實(shi)現(xian)倆端(duan),三(san)端(duan)或(huo)四(si)埠(bu)的連接以(yi)及可能(neng)的接地狀況.備(bei)有許多的可選(xuan)附(fu)件以(yi)供(gong)不(bu)同(tong)的測試(shi)需(xu)要(yao).

          主(zhu)要(yao)技(ji)術(shu)參(can)數:

          不(bu)壹(yi)樣(yang)的應(ying)用(yong)場(chang)景

          多(duo)種應(ying)用(yong)場(chang)景.png

           

           

          溫度(du)範(fan)圍: RT-800 (max1650)°C

          控溫精(jing)度(du):±0.25°C      

          升溫(wen)斜率(lv):10°C/min(可設定(ding))  

          測試(shi)頻(pin)率(lv) : 10Hz~120MHz

          加熱方(fang)式:近紅外加熱

          冷(leng)卻(que)方(fang)式:水冷(leng)

          輸入(ru)電壓:110~220V

          樣品(pin)尺(chi)寸:φ<25mmd4mm  

          電極材(cai)料:鉑金(jin)

          夾具(ju)輔(fu)助(zhu)材料:99氧(yang)化(hua)鋁陶瓷  

          絕(jue)緣材(cai)料:99氧(yang)化(hua)鋁陶瓷

          測試(shi)功能(neng):介電溫(wen)譜(pu)、頻(pin)譜

          數據(ju)傳(chuan)輸:4個(ge)USB接(jie)口(kou)
          設備(bei)尺(chi)寸:600x500x350mm

          ε介(jie)電常(chang)數、(ε'ε''介(jie)電常(chang)數實(shi)部與虛(xu)部)、C電容(rong)、(C’、C''電容(rong)實(shi)部與虛(xu)部、D損耗(hao)、R電阻(zu)、(R'R''電阻(zu)實(shi)部與虛(xu)部)、Z、(Z'Z''阻抗(kang)實(shi)部與虛(xu)部)、Y導(dao)納、Y’、Y''(導(dao)納實(shi)部與虛(xu)部)、X電抗(kang)、Q品(pin)質因數、cole-cole圖(tu)譜、機(ji)電耦(ou)合系數Kp、等(deng)壹(yi)系(xi)列測量(liang)參(can)數及介電溫(wen)譜(pu)與頻(pin)譜等(deng)測試(shi)功能(neng)。

           

          測(ce)試(shi)系統(tong)的軟件平臺采用(yong)labview系(xi)統開(kai)發(fa),符(fu)合功能(neng)材料的各項測試(shi)需(xu)求(qiu),具(ju)備(bei)較(jiao)強的穩定(ding)性(xing)與操(cao)作安全性(xing),並具(ju)備(bei)斷電資(zi)料的保存功能(neng),圖(tu)像資(zi)料也可保存(cun)恢復(fu)。兼容(rong)XPwin7win10系(xi)統(tong)。
          █ 多(duo)語(yu)介面:支(zhi)持(chi)中(zhong)文(wen)/英文(wen) 兩種語(yu)言界面;
          █ 狀態監控:系統(tong)測試(shi)狀態瀏(liu)覽(lan);
          █ 圖(tu)例管理(li):通(tong)過軟件中的狀態圖(tu)示,對狀態說(shuo)明,了解(jie)測(ce)試(shi)狀態;
          █ 使用(yong)權(quan)限:可(ke)設定(ding)使用(yong)者(zhe)的權(quan)限,方(fang)便管理(li);
          █ 故(gu)障(zhang)狀態:軟件具(ju)有設備(bei)的故(gu)障(zhang)報(bao)警(jing)功能(neng)。
          █ 試(shi)驗報(bao)告(gao):自(zi)定(ding)義(yi)報(bao)表(biao)格(ge)式,壹(yi)鍵(jian)打印(yin)試(shi)驗報(bao)告(gao),可(ke)導(dao)出EXCELPDF格(ge)式報(bao)表(biao)
          軟件兼容(rong):Keithley648765146517b)、Keysight B2985AB2987A)、同(tong)惠(2683A2684A


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