
當(dang)前位(wei)置:首頁 > 產(chan)品(pin)中心(xin) > 材料(liao)電學性(xing)能(neng)測(ce)試儀(yi) > 材料(liao)高(gao)溫電學測(ce)試儀(yi) > GWJDN-600A建(jian)設*壓(ya)電材料(liao)高(gao)溫介(jie)電溫譜儀(yi)壹體化(hua)設備(bei)廠(chang)商(shang)性質
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2025-12-01訪(fang)問(wen)量
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材(cai)料(liao)電學性(xing)能(neng)測(ce)試儀(yi)
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詳(xiang)細介(jie)紹(shao)
| 品(pin)牌(pai) | Microtrac MRB/拜爾 | 產(chan)地(di)類別(bie) | 國產(chan) |
|---|---|---|---|
| 應用領(ling)域 | 地(di)礦,電子/電池,鋼(gang)鐵(tie)/金屬(shu),航(hang)空(kong)航(hang)天,汽車(che)及零部件 |
GWJDN-600A型(xing)壓(ya)電材料(liao)高(gao)溫介(jie)電溫譜儀(yi)
關(guan)鍵詞(ci):單通(tong)道(dao),雙通(tong)道(dao),四(si)通(tong)道(dao),高(gao)低(di)溫

GWJDN-600A壓電材料(liao)高(gao)溫介(jie)電溫譜儀(yi)本高(gao)頻(pin)介(jie)電溫譜系(xi)統主要(yao)用於絕緣材(cai)料在(zai)不同(tong)溫度不同(tong)頻(pin)率下(xia)的(de)電學性(xing)能(neng)測(ce)試,系(xi)統包(bao)含(han)高(gao)溫爐膛,阻抗(kang)分(fen)析儀,微電流(liu)表,夾(jia)具,測(ce)試軟(ruan)件於壹體(ti),可(ke)測(ce)試材(cai)料的(de)介(jie)電常數(shu),介(jie)質損耗(hao),阻(zu)抗(kang)譜(pu)Co-Co圖,機電耦合(he)系數,等,同時(shi)可(ke)分(fen)析被測(ce)樣品(pin)隨(sui)溫度,頻(pin)率,時(shi)間變化(hua)的(de)曲(qu)線,測(ce)試治具(ju)可(ke)以根(gen)據產(chan)品(pin)及測(ce)試項(xiang)目要(yao)求選購。
壹(yi)、應(ying)用領(ling)域:
1、新(xin)型(xing)復(fu)合絕緣材(cai)料
2、高(gao)分(fen)子絕緣材(cai)料
3、無(wu)機(ji)絕緣材(cai)料
4、有(you)機絕緣材(cai)料
5、其(qi)它(ta)絕緣材(cai)料等
二、產(chan)品(pin)優勢(shi):
1、高(gao)溫介(jie)電測(ce)試夾(jia)具、高(gao)溫四(si)探針(zhen)夾(jia)具、高(gao)溫兩探(tan)針(zhen)夾(jia)具,可(ke)與(yu)高(gao)溫測(ce)試平(ping)臺(tai)配(pei)套(tao)組(zu)成(cheng)壹(yi)套(tao)或(huo)多(duo)套(tao)高(gao)溫阻抗(kang)、介(jie)電測(ce)量系統。
2、溫度範(fan)圍從(cong)室(shi)溫至600℃、800℃、1000℃、1200℃,具(ju)備(bei)PID控(kong)制(zhi)算法,控(kong)溫精(jing)度(du)可(ke)到士(shi)1℃,確保(bao)溫度控(kong)制(zhi)不超調。提(ti)供7種(zhong)不同(tong)控(kong)溫方式(shi)。
3、高(gao)溫介(jie)電測(ce)試夾(jia)具采(cai)用平(ping)行板(ban)電極原(yuan)理設計(ji)。電極由上電極、下(xia)電極以(yi)及保(bao)護電極組(zu)成。上下(xia)電有(you)良好的(de)同心(xin)度和(he)平(ping)行(xing)度,保(bao)護電極可(ke)減少(shao)周圍(wei)空(kong)氣(qi)電容的(de)影(ying)響(xiang),使(shi)得(de)測(ce)試數(shu)據更(geng)加準(zhun)確可(ke)靠。
4、高(gao)溫阻抗(kang)、介(jie)電測(ce)量系統軟(ruan)件(jian)將(jiang)高(gao)溫測(ce)試平(ping)臺(tai)、高(gao)溫測(ce)試夾(jia)具與(yu)WK6500系列(lie)、Agile(Keysight)4294A/E4980A/E4990A、TonghuiTH2826/2827/TH2810、Solartron1260LCR測(ce)量設備(bei)連接(jie),實現(xian)了自動(dong)完(wan)成(cheng)高(gao)溫環(huan)境(jing)下的(de)阻抗(kang)、介(jie)電參(can)數的(de)測(ce)量與(yu)分(fen)析。另外(wai),還可(ke)根據用(yong)戶(hu)提(ti)供的(de)其他(ta)LCR品(pin)牌(pai)或(huo)型(xing)號(hao)完(wan)成(cheng)定(ding)制(zhi)需求。
5、軟(ruan)件(jian)可(ke)根據實(shi)驗方(fang)案(an)設計(ji),通(tong)過測(ce)量C和D值(zhi),自(zi)動完(wan)成(cheng)介(jie)電常數(shu)和(he)介(jie)電損耗(hao)隨(sui)頻(pin)率、電壓、偏(pian)壓(ya)、溫度、時(shi)間多(duo)維(wei)變化(hua)的(de)曲(qu)線。壹(yi)次(ci)測(ce)量,同時(shi)輸(shu)出,測(ce)量效(xiao)率(lv)高(gao)、數(shu)據豐富多(duo)樣。
三(san)、功能(neng)特點(dian):
測(ce)量精(jing)度(du)高(gao),智能(neng)控(kong)溫,測(ce)量頻(pin)率寬(kuan),抗(kang)交(jiao)流(liu)幹擾(rao);
介(jie)電軟件(jian)功能(neng)強(qiang)大(da),擁有(you)完(wan)善(shan)的(de)測(ce)量系統;
直接(jie)得(de)出介(jie)電常數(shu)實(shi)部和(he)虛(xu)部的(de)比值(zhi)曲(qu)線;
直接(jie)得(de)出復(fu)阻抗(kang)實(shi)部(bu)和虛(xu)部比值(zhi)曲(qu)線的(de)Cole-Cole圖;
直接(jie)得(de)出機(ji)械品(pin)質因(yin)數(shu)0m;
集方(fang)案(an)、測(ce)量、分(fen)析、數字(zi)化(hua)顯示(shi)於壹體(ti)集成(cheng)化(hua)設計(ji)
四(si)、主要(yao)技術(shu)指標(biao):
溫度:室(shi)溫~600℃,800℃,1000℃,1200℃,
低溫:-190℃,-160℃,-100℃
溫度精(jing)度(du):±1℃
測(ce)量精(jing)度(du):0.05%
升溫速率:10℃
控(kong)溫方式(shi):PID
頻(pin)率範(fan)圍:極(ji)低(di)頻(pin)10HZ-1MHZ, 極低(di)頻(pin)10HZ-2MHZ, 極低(di)頻(pin)10HZ-5MHZ, 極低(di)頻(pin)-高(gao)頻(pin)(10HZ-10HZM)極低(di)頻(pin)-高(gao)頻(pin)(10HZ-20MHZ)
電極材(cai)料:紫銅(tong)鍍(du)金,鉑(bo)金電極,鉑(bo)依金電極
通(tong)道(dao)數:1-4通(tong)道(dao)可(ke)選
測(ce)量環(huan)境(jing):常溫\真空(kong)\氣(qi)氛
通(tong)訊(xun)方(fang)式(shi):USB
配合測(ce)試系(xi)統:1、高(gao)低(di)溫D33測(ce)試 量程:0-8000PC/N
2、PZT-JH10/4型(xing) 極(ji)化(hua)設備(bei):1-4片(pian) ,10kv
軟(ruan)件:自動計算(suan)並(bing)輸(shu)出數(shu)據,軟(ruan)件可(ke)根據實(shi)驗方(fang)案(an)設計(ji),通(tong)過測(ce)量C和D值(zhi),自(zi)動完(wan)成(cheng)介(jie)電常數(shu)和(he)介(jie)電損耗(hao)隨(sui)頻(pin)率、電壓、偏(pian)壓(ya)、溫度、時(shi)間多(duo)維(wei)變化(hua)的(de)曲(qu)線。壹(yi)次(ci)測(ce)量,同時(shi)輸(shu)出,測(ce)量效(xiao)率(lv)高(gao)、數(shu)據豐富多(duo)樣。
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