DCD-100型儲能電(dian)介質(zhi)充(chong)放電(dian)測試系統

關(guan)鍵(jian)詞：儲能，電(dian)介質(zhi)，充(chong)放電(dian)

目(mu)前(qian)常規(gui)的(de)方(fang)法(fa)是(shi)通(tong)過電(dian)滯(zhi)回(hui)線計(ji)算(suan)高(gao)壓下(xia)電介(jie)質(zhi)的(de)能(neng)量(liang)密(mi)度，測試時，樣(yang)品(pin)的(de)電(dian)荷(he)是(shi)放(fang)回(hui)到高(gao)壓源(yuan)上(shang)，而不(bu)是釋放(fang)到負載(zai)上(shang)，通(tong)過電(dian)滯(zhi)回(hui)線測得(de)的(de)儲能密(mi)度壹(yi)般會(hui)大(da)於(yu)樣(yang)品(pin)實(shi)際(ji)釋放(fang)的(de)能(neng)量(liang)密(mi)度，無法(fa)正(zheng)確評(ping)估(gu)電介(jie)質(zhi)材料的(de)正(zheng)常放(fang)電(dian)性能。DCD-100儲能型(xing)電介(jie)質(zhi)充(chong)放電(dian)測試系統專(zhuan)為(wei)研(yan)究(jiu)儲能電(dian)介質(zhi)材料快速充(chong)放電(dian)性能而設計(ji)，適(shi)用(yong)陶(tao)瓷(ci)、薄膜(mo)材料，可(ke)進(jin)行(xing)變(bian)溫下(xia)的(de)欠、過阻尼(ni)充(chong)放電(dian)測試。是目(mu)前(qian)研(yan)究儲能材(cai)料的(de)重(zhong)要科(ke)研(yan)設備(bei)，是目(mu)前(qian)高(gao)等(deng)院(yuan)校(xiao)和科(ke)研(yan)院(yuan)所的(de)設(she)備(bei)。

壹(yi)、產品(pin)特(te)點：    

1、內(nei)置直流(liu)高(gao)壓模(mo)塊(kuai)，最(zui)大(da)電(dian)壓(ya)：10kV，20KV 多種(zhong)可(ke)選，電(dian)流：0-5mA；

2、通(tong)過電(dian)流探頭(tou)監(jian)測放電電流(liu)，最(zui)高(gao)可(ke)達(da)100A-200A；

3、可(ke)以(yi)實(shi)現(xian)欠阻尼(ni)和過(guo)阻尼(ni)兩(liang)種(zhong)測試模(mo)式(shi)，欠阻尼(ni)測試時，放電回(hui)路短路，不使(shi)用(yong)電(dian)阻負載(zai)，過(guo)阻尼(ni)測試時，使(shi)用(yong)較大(da)的(de)高(gao)精(jing)度無感(gan)電(dian)阻作(zuo)為(wei)放(fang)電(dian)負載(zai)；

4、通(tong)過示(shi)波(bo)器采(cai)集(ji)數據(ju)，並(bing)能(neng)直接(jie)計(ji)算(suan)儲能密(mi)度；

9、專業(ye)的(de)載(zai)樣(yang)平臺，適用(yong)於(yu)陶(tao)瓷(ci)和薄(bo)膜(mo)樣(yang)品(pin)測試；

10、可(ke)以(yi)變(bian)溫測試，0-250℃；

11、可(ke)以(yi)疲(pi)勞測試，飽(bao)和極(ji)化，剩(sheng)余(yu)極(ji)化等(deng)功(gong)能(neng)

12、本(ben)系統采(cai)用(yong)特(te)殊高(gao)壓開關(guan)，通(tong)過單刀雙(shuang)擲(zhi)控(kong)制充(chong)電和放(fang)電(dian)過程(cheng)，開關(guan)可(ke)以(yi)承(cheng)受(shou)10kV高(gao)壓，寄生(sheng)電容小(xiao)，動(dong)作(zuo)時間(jian)短；

二、主(zhu)要(yao)參數

1、電(dian)流探頭(tou)帶寬：120MHz

2、峰值電(dian)流(liu)：0-100A，150 A(多種(zhong)電流可(ke)監(jian)測）

3、電流采(cai)集(ji)精(jing)度：1mA

4、高(gao)壓源(yuan)模(mo)塊(kuai)：3KV，5KV， 10kV，15KV多可(ke)選（電(dian)流：0-5mA）

5、開關(guan)適用(yong)：100萬(wan)次(ci)，最(zui)高(gao)耐(nai)壓(ya)15kV。

6、溫控(kong)範(fan)圍(wei)：0-250℃。

7、溫度穩定(ding)性和精(jing)度：0.1℃

8、探頭(tou)：鈹(pi)銅鍍(du)金(jin)

9、示(shi)波(bo)器參數帶寬≤350M

10、采(cai)樣(yang)率≤5GSa/s

11、測試樣(yang)品(pin)：薄(bo)膜(mo)，厚膜(mo)，陶(tao)瓷(ci)，玻(bo)璃等(deng)

12、可(ke)以(yi)疲(pi)勞測試，飽(bao)和極(ji)化，剩(sheng)余(yu)極(ji)化等(deng)多種(zhong)參數測試

13、可(ke)以(yi)配合(he)各(ge)種(zhong)極化設(she)備(bei)進(jin)行(xing)多種(zhong)壓電材料和介(jie)電(dian)材料(liao)的(de)測試