全自動(dong)ZKSJD-600型(xing)高(gao)低(di)溫(wen)介電(dian)溫(wen)譜儀用於分析寬(kuan)頻、高(gao)低(di)溫(wen)條件(jian)下(xia)被(bei)測(ce)樣(yang)品的(de)介電(dian)系(xi)數、阻(zu)抗Z、電(dian)抗X、導(dao)納Y、電(dian)導(dao)G、電(dian)納B、電(dian)感L、介電(dian)損(sun)耗D、品質因(yin)數Q等(deng)物理量(liang)，得到(dao)這些變(bian)化(hua)曲線(xian)的(de)頻率(lv)譜、溫(wen)度譜、介電(dian)譜曲線(xian)，可(ke)廣(guang)泛(fan)應(ying)用於(yu)鐵(tie)電(dian)壓(ya)電(dian)陶瓷(ci)材料、半導體(ti)器(qi)件(jian)及(ji)功能(neng)薄(bo)膜材料等(deng)研究。測(ce)溫(wen)範(fan)圍(wei)從(cong)-190℃-600℃，滿(man)足(zu)目前(qian)條件(jian)下(xia)測(ce)試(shi)的(de)要求，同(tong)時(shi)高(gao)低(di)溫(wen)阻抗。

GDPT-600A型(xing)變(bian)溫(wen)壓電(dian)d33測(ce)量(liang)系(xi)統(tong)是我(wo)院(yuan)研制(zhi)的(de)即可低(di)溫(wen)測試D33系(xi)數，又可(ke)以(yi)高(gao)溫(wen)測試D33系(xi)數。主(zhu)要是針對高(gao)低(di)溫(wen)壓電(dian)陶瓷(ci)材料和薄(bo)膜材料的(de)測試。 二(er)、主(zhu)要應(ying)用領(ling)域(yu)：無損檢測(ce)超(chao)聲(sheng)檢測(ce)，醫療(liao)超(chao)聲(sheng)檢測(ce)，航空(kong)航天，石(shi)油天然器(qi)，汽車物聯網(wang)，，工業(ye)，消(xiao)費(fei)者程(cheng)序(xu)等(deng)。 二(er)、主(zhu)要技

GWZK-03A高(gao)溫(wen)精(jing)密(mi)壓(ya)電(dian)阻(zu)抗分析測(ce)量(liang)系(xi)統(tong)是國(guo)內符合LXI標(biao)準(zhun)的(de)新壹代(dai)高(gao)溫(wen)壓電(dian)阻(zu)抗測(ce)試(shi)儀器(qi)，其(qi)0.1%的(de)基本精(jing)度(du)、20Hz～5MHz的(de)頻率(lv)範(fan)圍(wei)可(ke)以(yi)滿(man)足(zu)元(yuan)件(jian)與(yu)材料絕大部(bu)分低(di)壓(ya)參(can)數的(de)測量(liang)要求(qiu)，可廣(guang)泛(fan)應(ying)用於(yu)諸(zhu)如(ru)傳聲(sheng)器(qi)、諧(xie)振器(qi)、電(dian)感器(qi)、陶瓷(ci)電(dian)容(rong)器(qi)、液(ye)晶(jing)顯示(shi)器(qi)、變(bian)容(rong)二(er)極管、變(bian)壓(ya)器(qi)等(deng)進(jin)行(xing)諸多(duo)電(dian)氣(qi)性(xing)能(neng)的(de)分析及(ji)低(di)ESR電(dian)容(rong)器(qi)和高(gao)Q電(dian)感器(qi)的(de)測量(liang)。