描(miao)述(shu)：常(chang)用的(de)壓電材(cai)料(liao)及(ji)D33測試儀(yi)（PZT, ZrO2, Nb2O5, PVDF）

常(chang)用的(de)壓電材(cai)料(liao)及(ji)測試儀(yi)器有以下幾(ji)種（PZT, ZrO2, Nb2O5, PVDF）：

1.鉛(qian)鋯(gao)鈦(tai)酸(suan)鋇（PZT）：PZT是常(chang)用的(de)壓電陶瓷(ci)材(cai)料之壹(yi)，具有較高的壓電系(xi)數(shu)和(he)較大的壓(ya)電變(bian)形能(neng)力(li)。

2.氧化鋯(gao)（ZrO2）：氧化鋯(gao)是壹(yi)種(zhong)高性能(neng)的(de)壓(ya)電陶瓷(ci)材(cai)料，具有較高的壓電系(xi)數(shu)和(he)較穩定(ding)的性(xing)能(neng)。

3.氧化鈮(ni)（Nb2O5）：氧化鈮(ni)是

ZJ-3型精密(mi)D333

測試儀(yi)

ZJ-3型壓電測試儀(yi)（靜壓(ya)電系(xi)數(shu)d33測量儀(yi)）是為(wei)測量壓(ya)電材(cai)料(liao)的(de)d33常(chang)數(shu)而(er)設計的專用(yong)儀(yi)器，它(ta)可用來測量具有大壓電常(chang)數(shu)的(de)壓(ya)電陶瓷(ci)，小(xiao)壓電常(chang)數(shu)的(de)壓(ya)電單(dan)晶(jing)及(ji)壓(ya)電高分子材料(liao)。此(ci)外(wai)，也可(ke)測量任(ren)意取向壓電單(dan)晶(jing)以(yi)及(ji)某些(xie)壓電器(qi)件(jian)的(de)等(deng)效壓(ya)電d’33常(chang)數(shu)，儀(yi)器測量範(fan)圍寬，分辨(bian)率(lv)細(xi)，可靠性高，操作簡(jian)單，對試(shi)樣大小及(ji)形狀無特殊要求，圓(yuan)片(pian)、圓環、圓管(guan)、方塊(kuai)、長條、柱(zhu)形及(ji)半球(qiu)殼等均(jun)可(ke)測量，測量結(jie)果和(he)極(ji)性(xing)在(zai)三(san)位(wei)半數(shu)字(zi)面(mian)板表(biao)上(shang)直接(jie)顯示。ZJ-3型增加了對(dui)被(bei)測元(yuan)件的放電保(bao)護、放(fang)電提(ti)示以(yi)及(ji)被(bei)測波形輸(shu)出等(deng)功能(neng)，使(shi)得儀(yi)器在(zai)測量未(wei)放(fang)電（尤其(qi)是較大尺寸(cun)）的(de)壓電元(yuan)件時具備(bei)了高電壓(ya)放(fang)電提(ti)示及(ji)保(bao)護功(gong)能(neng)，本(ben)儀(yi)器是從(cong)事壓(ya)電材(cai)料(liao)及(ji)壓(ya)電元(yuan)件生(sheng)產、應(ying)用(yong)與(yu)研究部(bu)門的(de)儀(yi)器。

d33測量範(fan)圍：

 ×1擋(dang)：10到2000pC/N，20 至(zhi)4000pC/N，可(ke)以升(sheng)級(ji)到10000PC/N.
  ×0.1擋(dang)： 1到200pC/N，2 至(zhi)400pC/N。

可配D31塊(kuai)體(ti)夾具，D15塊(kuai)體(ti)夾具，D15圓管(guan)夾具，薄膜拉伸夾具

可以配(pei)套(tao)PZT-JH10/4/8/12型壓電極(ji)化裝置使(shi)用

可以配(pei)套(tao)ZJ-D33-YP15壓(ya)電壓(ya)片(pian)機(ji)使(shi)用
  誤(wu)差：×1擋(dang)：±2%±1個數(shu)字(zi)，當d33在(zai)100到4000pC/N；

計量標定(ding)標準(zhun)樣尺寸：18mm*0.8mm，老化時(shi)間(jian)：2-3年(nian)（評判壓電測試儀(yi)準(zhun)確(que)性(xing)能(neng)的(de)重(zhong)要(yao)依(yi)據之(zhi)壹）
  ±5%±1個(ge)數(shu)字(zi)，當d33在(zai)10到200pC/N；
  ×0.1擋(dang)：±2%±1個數(shu)字(zi)，(當d33在(zai)10到200pC/N)
  ±5%±1個(ge)數(shu)字(zi)，當d33在(zai)10到20pC/N。
  分(fen)辨(bian)率(lv)：   ×1擋(dang)：1 pC/N；×0.1擋(dang)：0.1   pC/N。
  尺寸：施(shi)力(li)裝置：Φ110×140mm；儀(yi)器本(ben)體(ti)：240×200×80mm。
  重量：施(shi)力(li)裝置：約(yue)4公(gong)斤(jin)；     
  儀(yi)器本(ben)體(ti)：2公(gong)斤(jin)。
  電源(yuan)：220伏(fu)，50赫，20瓦。

補充參(can)數(shu):

TDZT-04C鐵(tie)電性(xing)能(neng)綜合測試系(xi)統(tong)

TDZT-04C鐵(tie)電性(xing)能(neng)綜合測試系(xi)統(tong)是最新壹代(dai)鐵(tie)電材(cai)料(liao)參(can)數(shu)測試儀(yi)適用(yong)於鐵(tie)電薄膜、鐵(tie)電體(ti)材料（既(ji)可塊(kuai)體(ti)材料）的(de)電性(xing)能(neng)測量，可(ke)測量鐵(tie)電薄膜電滯回(hui)線(xian)、I—V特(te)性(xing)及(ji)開(kai)關(guan)特性(xing)，可精(jing)確地(di)測出具有非對稱(cheng)電滯回(hui)線(xian)鐵(tie)電薄膜的Pr值(zhi)。可測鐵(tie)電體(ti)材料的(de)電滯回(hui)線(xian)及(ji)I—V特(te)性(xing)。

主要技(ji)術(shu)指(zhi)標：

1.輸(shu)出信(xin)號電壓(ya)：：薄膜：0～±10V 陶瓷(ci)、材(cai)料：0～±2000V

2.輸(shu)出信(xin)號頻(pin)率(lv)：薄膜材料1-1000HZ，陶瓷(ci)：0-1Hz

3.電容範圍：1000nf～ 100nf, 精度: ≤1%。

4.電流(liu)範圍: 1nA～10A ,精度: ≤1%。

5、測試樣品：0-20mm  5個(ge)

6、高壓樣品池(chi)：開(kai)放(fang)式(shi)：8CM*5CM

7、三(san)維(wei)移動薄膜測試平(ping)臺(tai)：直立(li)式(shi)探(tan)針(zhen)壹(yi)套(tao)

8、電流(liu)：1-10倍放(fang)大，信(xin)號：1-20倍(bei)。.數(shu)據(ju)結(jie)口：USB或BNC接口。

9. 數(shu)據(ju)采(cai)集分(fen)析(xi)軟件： 能(neng)畫出(chu)鐵(tie)電薄膜的電滯回(hui)線(xian)，定(ding)量得到鐵(tie)電薄膜材料的飽和(he)極(ji)化Ps、剩余(yu)極(ji)化Pr、矯(jiao)頑(wan)場(chang)Ec、漏(lou)電流(liu)等參(can)數(shu);可(ke)以(yi)進行鐵(tie)電薄膜材料的鐵(tie)電疲勞性(xing)能(neng)、鐵(tie)電保(bao)持性(xing)能(neng)的(de)測試，電阻(zu)測量，漏(lou)電流(liu)測量。

10.可以配(pei)合ZJ-3和(he)ZJ-6型壓電測試儀(yi)操作系統(tong)

PZT-JH10/4壓電極(ji)化裝置（10KV以(yi)下壓(ya)電陶瓷(ci)同時(shi)極(ji)化1-4片(pian)）

PZT-JH10/4壓電極(ji)化裝置（10KV以(yi)下壓(ya)電陶瓷(ci)同時(shi)極(ji)化1-4片(pian)）

關鍵詞(ci)：壓(ya)電極(ji)化，壓(ya)電陶瓷(ci)材(cai)料，1-4片(pian)

主要特(te)點：

1.能(neng)夠同時(shi)極(ji)化1-4片(pian)試樣

2.提(ti)供多(duo)套(tao)測試夾具（可以(yi)測試粉末，單樣品，及(ji)薄的(de)壓電陶瓷(ci)片(pian)）

2. 安全可(ke)靠，溫度(du)補(bu)償(chang)快、恒溫(wen)精(jing)度高

3. 每路(lu)當漏(lou)電流(liu)超過(guo)規定(ding)值(zhi)時，都具有切斷保(bao)護功(gong)能(neng)，不影(ying)響(xiang)其(qi)它樣片(pian)的極(ji)化，其(qi)它回(hui)路(lu)可按正(zheng)常(chang)極(ji)化時(shi)間(jian)完(wan)成極(ji)化。

4. 任意夾持樣品尺(chi)寸為0-40mm片(pian)方型或是圓(yuan)型試樣

7、工(gong)作電源(yuan)：AC220V  50/60HZ

8、額定(ding)功率(lv)：2.0kw

9、壓電材(cai)料(liao)極(ji)化或耐(nai)壓測試：DC：0-10KV（±5％+2個(ge)字）連(lian)續(xu)可(ke)調(tiao)

10、總(zong)電流(liu)：10mA

11、每路(lu)切斷(duan)電流(liu)：0.5mA

12、加熱時間(jian)：可(ke)以自動設定(ding)

13、加熱元(yuan)件 ：優質(zhi)電阻(zu)絲

14、1次測試試(shi)樣數(shu)量:可(ke)加載1-4片(pian)試樣

15、額定(ding)溫度(du) ：≤180℃

16、最高溫度 ：200℃

17、控溫(wen)方式(shi) ：智能(neng)化恒(heng)溫(wen)控制(zhi)（進口表），多(duo)段(duan)程序(xu)可控

18、樣片(pian) ：樣品尺(chi)寸為3-40mm片(pian)方型或是圓(yuan)型試樣

19、外(wai)形尺寸(cun) ： 875*470*400（mm)

20、極(ji)化探(tan)頭：優質(zhi)銅電極(ji)（0.2mm）

21、標準(zhun)極(ji)化樣品：8片(pian)（10mm*1.5mm）

21、配套(tao)設(she)備(bei)裝置：能(neng)夠配(pei)合ZJ-3和(he)ZJ-6壓電測試儀(yi)進行測量

22、配套(tao)設(she)備(bei)裝置：可(ke)以配(pei)置10MM，20MM，30MM，40MM壓(ya)片(pian)夾具

JKZC-YDZK03A 

Dielectric tester型

壓電阻(zu)抗

測試儀(yi)

JKZC-YDZK03A Dielectric   tester型壓電阻(zu)抗測試儀(yi)

關鍵詞(ci)：介電常(chang)數(shu)，諧(xie)振(zhen)頻率(lv)Fp，機(ji)電耦(ou)合系(xi)數(shu)Keff，機(ji)械(xie)品質(zhi)因(yin)素 Qm

JKZC-YDZK03A   Dielectric tester型介電測試儀(yi)是壹(yi)款多(duo)功(gong)能(neng)的(de)介電測試儀(yi)，即(ji)可(ke)測試包(bao)括介電常(chang)數(shu)、介電損(sun)耗(hao)、電容等參(can)數(shu)，又(you)可(ke)以測量諧(xie)振(zhen)頻(pin)率(lv)Fs，反諧(xie)振(zhen)頻率(lv)Fp，機(ji)電耦(ou)合系(xi)數(shu)   Keff，機(ji)械(xie)品質(zhi)因(yin)素 Qm，最大導納Gmax等(deng)材料(liao)參數(shu)，為(wei)材(cai)料研究測試提(ti)供第壹手原始(shi)數(shu)據(ju)，提(ti)供元(yuan)整的數(shu)據(ju)圖(tu)，是高等院校(xiao)，科(ke)研院所(suo)及(ji)材(cai)料(liao)研究生(sheng)產的重(zhong)要(yao)工(gong)具,同時(shi)還(hai)可以(yi)配合高溫設備(bei)，進行高溫設備(bei)測試。

壹、主要特(te)點：

自動平衡(heng)技(ji)術(shu)電橋(qiao)，測量準(zhun)確(que)度(du)高

4端對開(kai)爾(er)文測試端(duan)，測量範(fan)圍準(zhun)確(que)度(du)高

提(ti)供內(nei)部直流(liu)偏(pian)壓-5V～+5V

可選配內(nei)部(bu)±40V偏(pian)置電壓(ya)源(yuan)

簡(jian)體(ti)中文、英(ying)文操(cao)作語(yu)言(yan)

分檔(dang)測量、列表掃(sao)描(miao)、繪(hui)圖(tu)掃描(miao)、開(kai)路(lu)、短路(lu)、負(fu)載校(xiao)正(zheng)等等(deng)功(gong)能(neng)

配備(bei)電導(dao)率(lv)σ·介電常(chang)數(shu)ε的(de)運(yun)算功能(neng)

進行測試數(shu)據(ju)、測試條件保(bao)存（U盤或內部）

繪圖掃(sao)描(miao)圖(tu)像(xiang)直接(jie)拷(kao)屏到U盤功能(neng)

加強(qiang)的測試端(duan)保(bao)護功(gong)能(neng)

USB、GPIB、RS232、LAN等上(shang)位機(ji)連(lian)接(jie)接(jie)口

二、主要技(ji)術(shu)參(can)數(shu)

1、頻率(lv)：20HZ-1MHZ,5MHZ,10MHZ,15MHZ,30MHZ，50MHZ多(duo)種(zhong)可選

2、D33測試範(fan)圍：0-6000PC/N(選配ZJ-3型精密(mi)壓電系(xi)數(shu)測試儀(yi))

5、基本精(jing)度 ：0.05%

6、測試電平(ping): 5mV—2Vrms

7、輸(shu)出阻(zu)抗: 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

8、測試參(can)數(shu)：D33，電容，介電常(chang)數(shu)，諧(xie)振(zhen)頻率(lv)Fs，反諧(xie)振(zhen)頻率(lv)Fp，機(ji)電耦(ou)合系(xi)數(shu)   Keff，機(ji)械(xie)品質(zhi)因(yin)素 Qm，最大導納Gmax等(deng)

9、通(tong)道數(shu)：1通(tong)道

10、電極(ji)： 雙面(mian)夾持探(tan)針(zhen)

11、軟件：自動計算並(bing)輸(shu)出數(shu)據(ju)，軟件可根(gen)據實(shi)驗(yan)方案(an)設計，通(tong)過(guo)測量C和(he)D值(zhi)，自動完成介電常(chang)數(shu)和(he)介電損(sun)耗(hao)隨(sui)頻率(lv)、電壓(ya)、偏(pian)壓多(duo)維(wei)變化的(de)曲(qu)線。