描(miao)述：HTIM-1000A高溫(wen)電(dian)阻測(ce)試(shi)儀采用(yong)四(si)端(duan)測(ce)量方法在(zai)高溫(wen)環境下對(dui)導(dao)電(dian)及半(ban)導(dao)電(dian)材料(liao)的(de)電(dian)阻進(jin)行(xing)評(ping)估(gu)，適(shi)用於(yu)生產(chan)企(qi)業、高(gao)等院校(xiao)、科(ke)研(yan)部(bu)門，是檢(jian)驗(yan)和(he)分析(xi)導(dao)體材料(liao)和半(ban)導(dao)體材料(liao)在(zai)高溫(wen)、真空及氣氛(fen)條(tiao)件下測(ce)量的(de)壹(yi)種重(zhong)要的(de)工(gong)具。本(ben)儀器配置各類測(ce)量裝置可以測試(shi)不同材料(liao)。液晶顯示(shi)，無(wu)需人(ren)工計(ji)算，並(bing)帶有(you)溫(wen)度(du)補償功(gong)能(neng)。采用(yong)芯片(pian)控(kong) AD制(zhi)，恒(heng)流(liu)輸(shu)出(chu)，結(jie)構(gou)合(he)理、質(zhi)量輕便(bian)，配備(bei) 英寸觸摸(mo)屏(ping)， 10軟件可保存和(he)打(da)印數(shu)據(ju)，自(zi)動(dong)生成(cheng)

HTIM-1001A高(gao)溫(wen)電(dian)阻測(ce)試(shi)儀

關鍵詞：高(gao)溫(wen)電(dian)阻，高(gao)溫(wen)電(dian)阻率(lv)，電(dian)導(dao)率

  HTIM-1000A高(gao)溫(wen)電(dian)阻測(ce)試(shi)儀采用(yong)四(si)端(duan)測(ce)量方法在(zai)高溫(wen)環境下對(dui)導(dao)電(dian)及半(ban)導(dao)電(dian)材料(liao)的(de)電(dian)阻進(jin)行(xing)評(ping)估(gu)，適(shi)用於(yu)生產(chan)企(qi)業、高(gao)等院校(xiao)、科(ke)研(yan)部(bu)門，是檢(jian)驗(yan)和(he)分析(xi)導(dao)體材料(liao)和半(ban)導(dao)體材料(liao)在(zai)高溫(wen)、真空及氣氛(fen)條(tiao)件下測(ce)量的(de)壹(yi)種重(zhong)要的(de)工(gong)具。本(ben)儀器配置各類測(ce)量裝置可以測試(shi)不同材料(liao)。液晶顯示(shi)，無(wu)需人(ren)工計(ji)算，並(bing)帶有(you)溫(wen)度(du)補償功(gong)能(neng)。采用(yong)芯片(pian)控(kong) AD制(zhi)，恒(heng)流(liu)輸(shu)出(chu)，結(jie)構(gou)合(he)理、質(zhi)量輕便(bian)，配備(bei) 英寸觸摸(mo)屏(ping)， 10軟件可保存和(he)打(da)印數(shu)據(ju)，自(zi)動(dong)生成(cheng)報(bao)表；本儀器可顯示(shi)電(dian)阻、溫(wen)度(du)、單位(wei)換算、溫(wen)度(du)系數(shu)、電(dian)流(liu)、電(dian)壓(ya)配置不同的(de)測(ce)試(shi)治(zhi)具可(ke)以滿足(zu)不同材料(liao)的(de)測(ce)試(shi)要求。測(ce)試(shi)治(zhi)具可(ke)以根(gen)據(ju)產(chan)品(pin)及測(ce)試(shi)項(xiang)目(mu)要求選(xuan)購(gou)。

     高(gao)溫(wen)加(jia)熱(re)大(da)都(dou)為管(guan)式(shi)爐或(huo)馬(ma)弗(fu)爐，原理為加(jia)熱(re)絲或(huo)矽碳(tan)棒(bang)對(dui)爐體加(jia)熱(re)，加(jia)熱(re)與(yu)降溫速度(du)慢，效率(lv)低(di)下，這(zhe)種方式(shi)也易存在(zai)感應(ying)電(dian)流(liu)，無(wu)法實(shi)現溫度(du)的(de)測(ce)量，也加(jia)熱(re)區域(yu)也存在(zai)不均(jun)勻(yun)的(de)現象(xiang)，本(ben)設(she)備(bei)在(zai)高速(su)加(jia)熱(re)高速(su)冷卻時，具有(you)良(liang)好的(de)溫(wen)度(du)分布(bu)。 可實(shi)現寬域(yu)均(jun)熱(re)區，高(gao)速加(jia)熱(re)、高速(su)冷卻 ，用石(shi)英管(guan)保護加(jia)熱(re)式(shi)樣，無(wu)氣氛(fen)汙(wu)染(ran)。可(ke)在(zai)高真(zhen)空，高(gao)出純(chun)度(du)氣體(ti)中(zhong)加(jia)熱(re) 。大(da)大(da)提(ti)高精(jing)確(que)度(du),也可(ke)應用於(yu)產品(pin)檢(jian)測(ce)以及新(xin)材料(liao)電(dian)學研(yan)究(jiu)等用途.

   HTIM-1000A高(gao)溫(wen)電(dian)阻測(ce)試(shi)儀搭(da)配(pei)系(xi)統開(kai)發(fa)的(de)軟(ruan)件，具備(bei)彈性的(de)自(zi)定義(yi)功(gong)能(neng)，可進(jin)行(xing)電(dian)壓(ya)、電(dian)流(liu)、溫度(du)、時間(jian)等設置，符合(he)導(dao)體、半(ban)導(dao)體材料(liao)與(yu)其(qi)它新(xin)材料(liao)測試(shi)多(duo)樣化(hua)的(de)需求。

高(gao)溫(wen)低(di)電(dian)阻測(ce)試(shi)儀可(ke)實(shi)現高溫下的(de)勻(yun)速、階梯、降溫下的(de)全溫度(du)範圍(wei)的(de)測(ce)試(shi)。

高(gao)溫(wen)低(di)電(dian)阻測(ce)試(shi)儀可(ke)實(shi)現小於±0 .25 ℃溫(wen) 度(du)測量誤(wu)差（限(xian)反射(she)爐）。

二(er)、HTIM-1000A高(gao)溫(wen)電(dian)阻測(ce)試(shi)儀優(you)勢：

1、整(zheng)體(ti)為桌(zhuo)面型設計，采用(yong)紅(hong)外(wai)燈加(jia)熱(re)，無(wu)保溫(wen)爐膛結構(gou)，滿(man)足(zu)實(shi)驗室(shi)無(wu)灰(hui)塵(chen)排放的(de)要求。

2、內(nei)置工控機(ji)、觸摸(mo)屏(ping)，可以利(li)用工(gong)控(kong)機設定加(jia)熱(re)曲線，並實現和其(qi)他(ta)測試(shi)設(she)備的(de)集成控(kong)制(zhi)。

3、定點(dian)控溫(wen)模(mo)式(shi)下，可(ke)以將樣品(pin) 1 0s內加(jia)熱(re)到 1000攝氏度(du)。  

4、控(kong)溫(wen)加(jia)熱(re)下，可(ke)以5度(du)/s 速率下線性加(jia)熱(re)到1000 攝氏度(du)。

5、在(zai)1000度(du)下可(ke)以連續(xu)工作(zuo)時(shi)間(jian)不低(di)於1 小時。

6、采用(yong)鉑(bo)銠熱(re)電(dian)偶(ou)直(zhi)接測(ce)定樣品(pin)附(fu)近(jin)溫(wen)度(du)。

7、樣品(pin)可以工作(zuo)在(zai)大(da)氣、真(zhen)空、氣氛(fen)環(huan)境下加(jia)熱(re)。

8、配(pei)備(bei)真空泵(beng)，水冷設(she)備(bei)，配備超溫、缺(que)水、過流(liu)等報警(jing)保護裝(zhuang)置。

9、溫(wen)度(du)均勻區：60 m m *1 0 0m m。

10、的(de)高(gao)溫低(di)電(dian)阻測(ce)試(shi)系(xi)統軟(ruan)件將高(gao)溫(wen)測(ce)試(shi)平(ping)臺、高(gao)溫(wen)測(ce)試(shi)夾具與(yu)keithley（吉時利(li)）系列(lie)、2400、 2450、 2600  系(xi)列源(yuan)表測量設備(bei)無(wu)縫連接。

三(san)、高(gao)溫(wen)低(di)電(dian)阻測(ce)試(shi)儀硬件配置：

█ 集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ 雙(shuang)核(he)處(chu)理器

█ 集成打(da)機(ji)印接口(kou)，可擴(kuo)充8 個(ge) USB 接(jie)口(kou)

█ 支(zhi)持(chi)16G 內存， 60G固(gu)態硬盤(pan)，讓系統(tong)運行(xing) 流(liu)暢

軟(ruan)件功(gong)能(neng)：

測(ce)試(shi)系(xi)統的(de)軟(ruan)件平(ping)臺采用(yong)labview 系(xi)統開(kai)發(fa)，符(fu)合(he)絕(jue)緣(yuan)材料(liao)的(de)各(ge)項(xiang)測(ce)試(shi)需求，具備(bei)的(de)穩(wen)定性，並(bing)具備(bei)斷(duan)電(dian)資料(liao)的(de)保存功(gong)能(neng)，圖像(xiang)資(zi)料(liao)也可(ke)保存恢復。兼容(rong)XP 、win7  、 win10系(xi)統。  

█ 多(duo)語(yu)介(jie)面：支持中(zhong)文/英文 兩(liang)種語(yu)言界面；

█ 即時(shi)監控：系(xi)統測試(shi)狀態即時(shi)瀏覽，無(wu)須等待；

█ 圖(tu)例(li)管理：通(tong)過(guo)軟(ruan)件中的(de)狀態圖示(shi)，壹(yi)目(mu)了然(ran)，立即對(dui)狀態說明(ming)，了解測試(shi)狀態；

█ 使(shi)用(yong)權限(xian)：可設(she)定使(shi)用者(zhe)的(de)權(quan)限(xian)，方便管理；

█ 故(gu)障狀態：軟件具有(you)設(she)備的(de)故(gu)障報警(jing)功(gong)能(neng)。

產(chan)品(pin)特(te)點：

1、高(gao)速(su)加(jia)熱(re)與(yu)冷卻方式(shi)

     高(gao)能(neng)量的(de)紅(hong)外(wai)燈和(he)鍍金(jin)反射方式(shi)允許(xu)高(gao)速加(jia)熱(re)到高溫。同時(shi)爐體可(ke)配(pei)置水冷系(xi)統(tong)，增(zeng)設(she)氣體(ti)冷(leng)卻裝置，可實現快速(su)冷(leng)卻。

2、溫(wen)度(du)控制(zhi)

      過(guo)紅(hong)外(wai)鍍金(jin)聚(ju)焦(jiao)爐和溫(wen)度(du)控制(zhi)器的(de)組合(he)使(shi)用(yong)，可(ke)以精確(que)控(kong)制(zhi)樣品(pin)的(de)溫(wen)度(du)(遠比普通(tong)加(jia)溫(wen)方式(shi))。此(ci)外(wai)，冷卻速度(du)和保持(chi)在(zai)任(ren)何溫(wen)度(du)下可(ke)提(ti)供。

3、不同環(huan)境下的(de)加(jia)熱(re)與(yu)冷卻

    加(jia)熱(re)/冷卻可用(yong)真空、氣氛(fen)環(huan)境、低(di)溫（高(gao)純(chun)度(du)惰性氣體(ti),靜(jing)態或(huo)流(liu)動(dong)），操作(zuo)簡單，使(shi)用(yong)石(shi)英(ying)玻(bo)璃(li)制(zhi)成(cheng)。紅(hong)外(wai)線可傳送到加(jia)熱(re)/冷卻室(shi)。

四(si)、產(chan)品(pin)應用(yong)：

█ 多(duo)晶(jing)矽材料(liao)

█ 石(shi)墨(mo)功(gong)能(neng)材料(liao)

█ 導(dao)電(dian)功(gong)能(neng)薄膜(mo)材料(liao)

█ 導(dao)電(dian)玻璃(li)（ito ）材料(liao)

█ 石(shi)墨(mo)烯(xi)材料(liao)

█ 半(ban)導(dao)體材料(liao)

█ 鍺類(lei)功(gong)能(neng)材料(liao)

█ 柔(rou)性透(tou)明(ming) 導(dao)電(dian)薄膜(mo)

█ 其(qi)它導(dao)電(dian)材料(liao)等

功(gong)能(neng)特(te)點：

█ 多(duo)功(gong)能(neng)真空加(jia)熱(re)爐，壹(yi)體(ti)爐膛設計(ji)、可實現、高溫、真 空、氣氛(fen)環(huan)境下進(jin)行(xing)測(ce)試(shi)

█ 采用(yong)鉑(bo)材料(liao)作為導(dao)線、以減少(shao)信(xin)號(hao)衰(shuai)減、提(ti)高測(ce)試(shi)精(jing)度(du)；

█ 可(ke)以測量半(ban)導(dao)體薄(bo)膜材、薄片(pian)材料(liao)的(de)電(dian)阻、電(dian)阻率(lv)；

█ 可(ke)實(shi)現常溫、變(bian)溫、恒(heng)溫(wen)條(tiao)件的(de)I-V、R-T等測量功(gong)能(neng);

█ 溫(wen)度(du)傳感器、PID自動(dong)溫度(du)控制(zhi)，使(shi)測(ce)量溫度(du)精準(zhun)；

█ 儀器可自(zi)動(dong)計算試(shi)樣的(de)電(dian)阻率(lv)pv;

█ 10寸觸摸(mo)屏(ping)設計(ji)，壹(yi)體(ti)化(hua)設計(ji)機械結構(gou)，穩(wen)定、可(ke)靠；

█ 程(cheng)控(kong)電(dian)子(zi)升(sheng)壓(ya)技術(shu)，紋(wen)波低(di)、TVS防護系(xi)統，保證(zheng)儀器性；

█ 99氧化(hua)鋁陶(tao)瓷絕(jue)緣(yuan)、碳化(hua)鎢探針；

█自(zi)動(dong)分析(xi)控(kong)制(zhi)分析(xi)軟(ruan)件。

技術(shu)參(can)數(shu)：

1、溫(wen)度(du)範圍(wei)：室(shi)溫(wen)-1200℃, （反(fan)射(she)爐加(jia)溫(wen) ）配(pei)水冷機(ji)；

2、控(kong)溫(wen)精度(du)：（溫控最高(gao)） ±0 5℃ ；

3、測(ce)量精度(du)： ± 0.25℃；

4、升(sheng)溫斜率(lv)：20℃/min （可(ke)設(she)定）；

5、降溫斜率(lv)：  1-200℃/min ( 自(zi)調(tiao)整(zheng)）；

6、測(ce)量精度(du)：0.5%；

7、樣品(pin)規格(ge)：直(zhi)徑(jing)： 20mm 以內；厚(hou)度(du)： 5mm以內；

8、電(dian)極材料(liao)：鉑(bo)金(jin);

9、測(ce)量方式(shi)：2 線- 4線測量方式(shi)；

10、測(ce)量範圍(wei)： 0.1uΩ- 100MΩ

11、供(gong) 電(dian)：220V±10%，50Hz；

12、工(gong)作(zuo)環境：0℃ - 55℃；

13、存儲(chu)條(tiao)件:- 40℃-70℃；

14、尺(chi) 寸：850mmX750mmX450mm；

15、重(zhong) 量：30 kg

主要參(can)數(shu)：