描述：ZJ-3型壓(ya)電測試(shi)儀（靜(jing)壓(ya)電系(xi)數(shu)d33測量儀）是(shi)為(wei)測量壓(ya)電材(cai)料(liao)的d33常(chang)數(shu)而(er)設(she)計的(de)專用(yong)儀器(qi)，它(ta)可(ke)用(yong)來(lai)測量具有(you)大(da)壓(ya)電常(chang)數(shu)的(de)壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)，小壓(ya)電常(chang)數(shu)的(de)壓(ya)電單(dan)晶及(ji)壓(ya)電高(gao)分(fen)子(zi)材(cai)料(liao)。此(ci)外(wai)，也可(ke)測量任意(yi)取向壓(ya)電單(dan)晶以(yi)及(ji)某些(xie)壓(ya)電器(qi)件(jian)的(de)等效(xiao)壓(ya)電d’33常(chang)數(shu)，儀器(qi)測量範圍寬，分(fen)辨(bian)率(lv)細(xi)，可(ke)靠(kao)性(xing)高，操(cao)作(zuo)簡(jian)單(dan)，對(dui)試樣(yang)大(da)小及(ji)形狀無特殊(shu)要求，圓(yuan)片(pian)、圓環、圓管、方(fang)塊(kuai)、長條、柱(zhu)形及(ji)半(ban)球殼等均可(ke)測量，測量結果和(he)極(ji)性(xing)在三位(wei)半(ban)數字(zi)面(mian)板表上

ZJ-3型(xing)壓(ya)電測試(shi)儀（靜(jing)壓(ya)電系(xi)數(shu)d33測量儀），PVDF壓(ya)電薄(bo)膜測試(shi)儀
關(guan)鍵詞:壓(ya)電,陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao),高分(fen)子(zi),d33，d15，D15，薄膜拉(la)伸(shen)

壹、產品介紹(shao)：

ZJ-3型壓(ya)電測試(shi)儀（靜(jing)壓(ya)電系(xi)數(shu)d33測量儀）是(shi)為(wei)測量壓(ya)電材(cai)料(liao)的d33常(chang)數(shu)而(er)設(she)計的(de)專用(yong)儀器(qi)，它(ta)可(ke)用(yong)來(lai)測量具有(you)大(da)壓(ya)電常(chang)數(shu)的(de)壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)，小壓(ya)電常(chang)數(shu)的(de)壓(ya)電單(dan)晶及(ji)壓(ya)電高(gao)分(fen)子(zi)材(cai)料(liao)。此(ci)外(wai)，也可(ke)測量任意(yi)取向壓(ya)電單(dan)晶以(yi)及(ji)某些(xie)壓(ya)電器(qi)件(jian)的(de)等效(xiao)壓(ya)電d’33常(chang)數(shu)，儀器(qi)測量範圍寬，分(fen)辨(bian)率(lv)細(xi)，可(ke)靠(kao)性(xing)高，操(cao)作(zuo)簡(jian)單(dan)，對(dui)試樣(yang)大(da)小及(ji)形狀無特殊(shu)要求，圓(yuan)片(pian)、圓環、圓管、方(fang)塊(kuai)、長條、柱(zhu)形及(ji)半(ban)球殼等均可(ke)測量，測量結果和(he)極(ji)性(xing)在三位(wei)半(ban)數字(zi)面(mian)板表上直接顯(xian)示。ZJ-3型增(zeng)加了(le)對(dui)被測元(yuan)件(jian)的放電保(bao)護(hu)、放電提(ti)示以(yi)及(ji)被測波(bo)形輸出(chu)等功(gong)能(neng)，使(shi)得儀器(qi)在(zai)測量未放電（尤(you)其(qi)是(shi)較(jiao)大尺寸）的(de)壓(ya)電元(yuan)件(jian)時具備了(le)高電壓(ya)放電提(ti)示及(ji)保護功(gong)能(neng)，本(ben)儀器(qi)是(shi)從(cong)事壓(ya)電材(cai)料(liao)及(ji)壓(ya)電元(yuan)件(jian)生產、應(ying)用(yong)與(yu)研(yan)究部門(men)的儀器(qi)。

可(ke)配(pei)D31塊體(ti)夾具，D15塊體(ti)夾具，D15圓管夾具，D31塊體(ti)夾具，薄膜拉(la)伸(shen)夾具（新增(zeng)功(gong)能(neng)）

二、主(zhu)要應用(yong)領域(yu)：無(wu)損(sun)檢測超聲檢測，醫(yi)療超聲檢測，航(hang)空航(hang)天(tian)，石油(you)天(tian)然(ran)器(qi)，汽車物(wu)聯網，工(gong)業(ye)，消費(fei)者(zhe)程(cheng)序等。

三、參考標(biao)準:
GB3389.4-82《壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao)性(xing)能測試(shi)方(fang)法(fa) 縱向壓(ya)電應(ying)變(bian)常(chang)數(shu)d33的(de)靜(jing)態測試(shi)》

GB/T3389.5-1995《壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao)性(xing)能測試(shi)方(fang)法(fa) 圓片(pian)厚(hou)度伸(shen)縮振動(dong)模式(shi)》

GB000?Tj1.1/T3389.4-1982《壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao)性(xing)能測試(shi)方(fang)法(fa) 柱體縱(zong)向(xiang)長度伸(shen)縮振動(dong)模式(shi)》

GB/T 3389.7-1986《壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao)性(xing)能測試(shi)方(fang)法(fa) 強場介電性(xing)能的(de)測試(shi)》

GB/T3389.8-1986《壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao)性(xing)能測試(shi)方(fang)法(fa) 熱(re)釋(shi)電系(xi)數(shu)的測試(shi)》
四、產品主(zhu)要功(gong)能(neng)：

﹡測量塊體壓(ya)電材(cai)料(liao)的d33常(chang)數(shu)

﹡測量具有(you)大(da)壓(ya)電常(chang)數(shu)的(de)壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)

﹡測量小壓(ya)電常(chang)數(shu)的(de)壓(ya)電單(dan)晶及(ji)壓(ya)電高(gao)分(fen)子(zi)材(cai)料(liao) 

﹡測量任意(yi)取向壓(ya)電單(dan)晶以(yi)及(ji)某些(xie)壓(ya)電器(qi)件(jian)的(de)等效(xiao)壓(ya)電d’33常(chang)數(shu)

﹡測量薄膜材(cai)料(liao)即(ji)PVDF等薄(bo)膜材(cai)料(liao)d33常(chang)數(shu)

五(wu)、主(zhu)要技(ji)術指(zhi)標(biao) 

d33測量範圍：

★ ×1擋(dang)：10到2000pC/N，20 至(zhi)4000pC/N，可(ke)以(yi)升級到10000PC/N.
★×0.1擋(dang)： 1到200pC/N，2 至(zhi)400pC/N。

★可(ke)配(pei)D31塊體(ti)夾具，D15塊體(ti)夾具，D15圓管夾具，D31塊體(ti)夾具，薄膜拉(la)伸(shen)夾具（新增(zeng)功(gong)能(neng)）

★可(ke)以(yi)配(pei)套PZT-JH10/4/8/12型(xing)壓(ya)電極(ji)化(hua)裝置(zhi)使(shi)用

★可(ke)以(yi)配(pei)套ZJ-D33-YP15壓(ya)電壓(ya)片(pian)機使(shi)用

誤差：×1擋(dang)：±2%±1個數(shu)字(zi)，當(dang)d33在100到4000pC/N；

★計量標(biao)定標(biao)準樣(yang)尺寸：18mm*0.8mm，老(lao)化時間(jian)：2-3年（評判(pan)壓(ya)電測試(shi)儀準確性(xing)能的(de)重要依據(ju)之壹）
±5%±1個數字(zi)，當(dang)d33在10到200pC/N；
×0.1擋(dang)：±2%±1個數(shu)字(zi)，(當(dang)d33在10到200pC/N)
±5%±1個數(shu)字(zi)，當(dang)d33在10到20pC/N。
分辨(bian)率(lv)：   ×1擋(dang)：1 pC/N；×0.1擋(dang)：0.1 pC/N。
尺寸：施(shi)力(li)裝(zhuang)置：Φ110×140mm；儀器(qi)本(ben)體(ti)：240×200×80mm。
重量：施(shi)力(li)裝(zhuang)置：約4公斤；   
儀器(qi)本(ben)體(ti)：2公斤。
電源(yuan)：220伏，50赫(he)，20瓦。

★補充(chong)參數(shu):