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2025-12-02訪(fang)問量(liang)
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材料高(gao)溫(wen)電學(xue)測試(shi)儀(yi)
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詳細介(jie)紹(shao)
| 品牌 | ACE Controls/美國(guo) | 產地類(lei)別 | 國(guo)產 |
|---|---|---|---|
| 應(ying)用領(ling)域 | 能源(yuan),電子(zi)/電池(chi),鋼(gang)鐵/金屬,航(hang)空(kong)航天,電氣(qi) |
高(gao)溫材料測試(shi)I高(gao)溫(wen)介(jie)電測試(shi)儀(yi)I介(jie)電溫(wen)譜(pu)儀
GWJDN-1000型高(gao)溫介電測量(liang)系(xi)統(tong)高溫介(jie)電測量(liang)系(xi)統(tong)應(ying)用於(yu)高溫(wen)環(huan)境下材料、器(qi)件的(de)導電、介(jie)電特(te)性測量(liang)與分(fen)析,可以測量(liang)帶(dai)電極和(he)不帶電極的(de)樣品,通過配置(zhi)不同的測試(shi)設(she)備,完成(cheng)不同參數(shu)的測試(shi)。是(shi)新壹代高溫(wen)介(jie)電測試(shi)系(xi)統(tong),科(ke)研測試(shi)裝(zhuang)置(zhi),是(shi)國(guo)家科(ke)研院所(suo)和高等(deng)學(xue)府的(de)設(she)備。
GWJDN-1000型高(gao)溫介電測量(liang)系(xi)統(tong)高溫介(jie)電測量(liang)系(xi)統(tong)應(ying)用於(yu)高溫(wen)環(huan)境下材料、器(qi)件的(de)導電、介(jie)電特(te)性測量(liang)與分(fen)析,可以測量(liang)帶(dai)電極和(he)不帶電極的(de)樣品,通過配置(zhi)不同的測試(shi)設(she)備,完成(cheng)不同參數(shu)的測試(shi)。是(shi)新壹代高溫(wen)介(jie)電測試(shi)系(xi)統(tong),科(ke)研測試(shi)裝(zhuang)置(zhi),是(shi)國(guo)家科(ke)研院所(suo)和高等(deng)學(xue)府的(de)設(she)備。
壹、主要(yao)技(ji)術參數(shu):
1、溫度範(fan)圍: -190℃-1000℃
2、測溫(wen)精(jing)度: 0.1℃
3.升溫速(su)度: 1—20℃/min
4、控(kong)溫模(mo)式(shi): 程(cheng)序(xu)控(kong)制,提(ti)供常(chang)溫、變溫(wen)、恒溫、升溫、降溫(wen)等(deng)多種(zhong)組合方式(shi)
5、通訊(xun)接(jie)口(kou): RS-485
8、電極材質(zhi): 鉑銥合金
9、上(shang)電極: 直徑(jing)1.6mm球(qiu)頭電極,引(yin)線帶(dai)同軸(zhou)屏(ping)蔽(bi)層
10、下電極:直(zhi)徑(jing)26.8mm平面電極,引(yin)線帶(dai)同軸(zhou)屏(ping)蔽(bi)層
11、保(bao)護(hu)電極: 帶保(bao)護(hu)電極,消除寄(ji)生(sheng)電容(rong)、邊界電容(rong)對(dui)測試(shi)的(de)影響(xiang)
12、電極幹(gan)擾(rao)屏(ping)蔽(bi):電極引(yin)線帶(dai)同軸(zhou)屏(ping)蔽(bi),樣品平臺(tai)帶屏(ping)蔽(bi)罩
13、夾(jia)具(ju)升降控(kong)制: 帶(dai)程(cheng)序(xu)和(he)手(shou)動(dong)控制,可(ke)更換(huan)夾(jia)具(ju)的(de)電動(dong)升降裝(zhuang)置(zhi)
14、熱(re)電偶 :熱(re)電偶探(tan)頭與樣品平臺(tai)為同壹(yi)熱(re)沈(chen),測控(kong)溫(wen)度與樣品溫度保(bao)持壹致
15、無(wu)電極樣品尺寸:直(zhi)徑(jing)小於40mm,厚度小於8mm
16、帶電極樣品尺寸: 直(zhi)徑(jing)小於26mm,厚度小於8mm
17、軟(ruan)件功能:自動(dong)分(fen)析數據(ju),可以分(fen)類保存(cun),樣品和測量(liang)方案結合(he)在壹(yi)起,生成(cheng)系(xi)統所需的實驗(yan)方案,輸(shu)出(chu)TXT、XLS、BMP等(deng)格式(shi)文(wen)件
18、測量(liang)方案:提供靈(ling)活(huo)、豐富(fu)的測試(shi)設(she)置(zhi)功能,包(bao)括(kuo)頻(pin)率(lv)譜(pu)、阻抗(kang)譜、介(jie)電譜(pu)及(ji)其(qi)組合
19、標(biao)準(zhun)極化(hua)樣品:8片(pian)(10mm*1.5mm)
20、配(pei)套(tao)設(she)備裝置(zhi):能夠配合ZJ-3和(he)ZJ-6壓電測試(shi)儀(yi)進行測量(liang)
21、配套設(she)備裝置(zhi):可以配(pei)置(zhi)10MM,20MM,30MM,40MM壓片夾(jia)具(ju)
23、測試(shi)頻(pin)率(lv):20HZ-50MHZ
24、測試(shi)電平:100mV—2V
25、分(fen)辨率(lv):1MHZ
26、輸(shu)出(chu)阻(zu)抗(kang): 100Ω
27、測試(shi)參數(shu):Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc
28、基本(ben)準(zhun)確(que)度: 0.05%
29、顯(xian)示:液晶(jing)顯(xian)示
30、參數(shu)測量(liang):多功能圖(tu)形(xing)和(he)參數(shu)測量(liang)
31、接口(kou)方式(shi): RS232C或HANDLER
二、主(zhu)要測量(liang)參數(shu)功能:
1、測量(liang)以下參數(shu)隨溫度(T)、頻率(lv)(f)、電平(V)、偏(pian)壓(Vi)的(de)變化(hua)規(gui)律:
2、測量(liang)電容(rong)(C)、電感(gan)(L)、電阻(zu)(R)、電抗(kang)(X)、阻抗(kang)(Z)、相位角(¢)、電導(G)、電納(na)(B)、導納(Y)、損耗因(yin)子(D)、品質因(yin)素(Q)等(deng)參數(shu),
3、同時計算獲(huo)得反(fan)應(ying)材料導電、介(jie)電性能的復介電常(chang)數(shu)(εr)和介(jie)質損耗(D)參數(shu)。
4、可測試(shi)低溫環(huan)境下材料、器(qi)件的(de)介(jie)電性能
5、可以根據(ju)用戶(hu)需求,定制開發居(ju)裏(li)溫(wen)度點Tc、機電耦(ou)合(he)系數(shu)Kp、機械(xie)品質因(yin)素Qm及磁(ci)導率(lv)μ等(deng)參數(shu)的測量(liang)與分(fen)析。
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