描(miao)述(shu)：常用(yong)的(de)壓(ya)電(dian)材(cai)料及測(ce)試儀(yi)器(qi)（PZT, ZrO2, Nb2O5, PVDF）

常(chang)用(yong)的(de)壓(ya)電(dian)材(cai)料及測(ce)試儀(yi)器(qi)有(you)以(yi)下幾種(zhong)（PZT, ZrO2, Nb2O5, PVDF）：

1.鉛(qian)鋯(gao)鈦(tai)酸鋇（PZT）：PZT是的(de)壓(ya)電(dian)陶瓷(ci)材料之壹，具有(you)較高(gao)的(de)壓(ya)電(dian)系(xi)數(shu)和(he)較(jiao)大的(de)壓(ya)電(dian)變(bian)形能(neng)力。

2.氧化鋯(gao)（ZrO2）：氧化鋯(gao)是壹種(zhong)高性能的(de)壓(ya)電(dian)陶瓷(ci)材料，具有(you)較高(gao)的(de)壓(ya)電(dian)系(xi)數(shu)和(he)較(jiao)穩定的(de)性能。

3.氧化鈮(ni)（Nb2O5）：氧化鈮(ni)是壹種(zhong)壓(ya)電(dian)

ZJ-3型(xing)精(jing)密D333

測(ce)試儀(yi)

ZJ-3型(xing)壓(ya)電(dian)測(ce)試儀(yi)（靜(jing)壓(ya)電(dian)系(xi)數(shu)d33測(ce)量(liang)儀(yi)）是為(wei)測(ce)量(liang)壓(ya)電(dian)材(cai)料的(de)d33常(chang)數(shu)而(er)設計的(de)專(zhuan)用(yong)儀(yi)器(qi)，它(ta)可用(yong)來測(ce)量(liang)具(ju)有(you)大壓(ya)電(dian)常(chang)數(shu)的(de)壓(ya)電(dian)陶瓷(ci)，小壓(ya)電(dian)常(chang)數(shu)的(de)壓(ya)電(dian)單晶及(ji)壓(ya)電(dian)高(gao)分(fen)子(zi)材料。此外(wai)，也可測(ce)量(liang)任(ren)意(yi)取(qu)向壓(ya)電(dian)單晶以(yi)及(ji)某些(xie)壓(ya)電(dian)器(qi)件(jian)的(de)等(deng)效(xiao)壓(ya)電(dian)d’33常(chang)數(shu)，儀(yi)器(qi)測(ce)量(liang)範(fan)圍寬(kuan)，分辨(bian)率(lv)細(xi)，可靠性高，操(cao)作(zuo)簡(jian)單，對試樣大小及(ji)形狀(zhuang)無(wu)特(te)殊要(yao)求(qiu)，圓(yuan)片(pian)、圓(yuan)環(huan)、圓(yuan)管、方(fang)塊、長條(tiao)、柱(zhu)形及(ji)半(ban)球殼(ke)等(deng)均(jun)可測(ce)量(liang)，測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)和(he)極(ji)性在三位(wei)半(ban)數(shu)字(zi)面板表(biao)上(shang)直(zhi)接顯(xian)示(shi)。ZJ-3型(xing)增加(jia)了(le)對被(bei)測(ce)元件(jian)的(de)放(fang)電保(bao)護、放電提示以(yi)及(ji)被(bei)測(ce)波(bo)形輸(shu)出等(deng)功(gong)能，使得儀(yi)器(qi)在(zai)測(ce)量(liang)未放電(dian)（尤其是較大尺(chi)寸）的(de)壓(ya)電(dian)元件(jian)時(shi)具備(bei)了(le)高電(dian)壓(ya)放(fang)電(dian)提示及保(bao)護功能，本儀(yi)器(qi)是從事壓(ya)電(dian)材(cai)料及壓(ya)電(dian)元件(jian)生(sheng)產、應(ying)用(yong)與研究(jiu)部門(men)的(de)儀(yi)器(qi)。

d33測(ce)量(liang)範(fan)圍：

 ×1擋(dang)：10到(dao)2000pC/N，20 至4000pC/N，可以(yi)升級到(dao)10000PC/N.
  ×0.1擋(dang)： 1到(dao)200pC/N，2 至400pC/N。

可配D31塊體(ti)夾具，D15塊體(ti)夾具，D15圓(yuan)管夾具，薄(bo)膜(mo)拉(la)伸(shen)夾具(ju)

可以(yi)配(pei)套PZT-JH10/4/8/12型(xing)壓(ya)電(dian)極(ji)化裝(zhuang)置使用(yong)

可以(yi)配(pei)套ZJ-D33-YP15壓(ya)電(dian)壓(ya)片(pian)機使用(yong)
  誤(wu)差(cha)：×1擋(dang)：±2%±1個(ge)數(shu)字(zi)，當(dang)d33在(zai)100到(dao)4000pC/N；

計量(liang)標(biao)定標(biao)準樣(yang)尺寸：18mm*0.8mm，老化時(shi)間：2-3年(nian)（評(ping)判壓(ya)電(dian)測(ce)試儀(yi)準(zhun)確(que)性能的(de)重(zhong)要依(yi)據之壹）
  ±5%±1個(ge)數(shu)字(zi)，當(dang)d33在(zai)10到(dao)200pC/N；
  ×0.1擋(dang)：±2%±1個(ge)數(shu)字(zi)，(當(dang)d33在(zai)10到(dao)200pC/N)
  ±5%±1個(ge)數(shu)字(zi)，當(dang)d33在(zai)10到(dao)20pC/N。
  分辨(bian)率(lv)：   ×1擋(dang)：1 pC/N；×0.1擋(dang)：0.1   pC/N。
  尺寸(cun)：施力裝(zhuang)置：Φ110×140mm；儀(yi)器(qi)本體(ti)：240×200×80mm。
  重(zhong)量(liang)：施(shi)力裝(zhuang)置：約(yue)4公(gong)斤；     
  儀(yi)器(qi)本體(ti)：2公斤。
  電(dian)源(yuan)：220伏(fu)，50赫，20瓦(wa)。

補(bu)充(chong)參(can)數(shu):

TDZT-04C鐵(tie)電性能綜合(he)測(ce)試系統(tong)

TDZT-04C鐵(tie)電性能綜合(he)測(ce)試系統(tong)是新(xin)壹代鐵(tie)電材(cai)料參數(shu)測(ce)試儀(yi)適(shi)用(yong)於鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)、鐵(tie)電體(ti)材料（既(ji)可塊體(ti)材料）的(de)電(dian)性能測(ce)量(liang)，可測(ce)量(liang)鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)、I—V特(te)性及開(kai)關特(te)性，可精確(que)地測(ce)出具(ju)有(you)非對(dui)稱電滯(zhi)回(hui)線(xian)鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)的(de)Pr值(zhi)。可測(ce)鐵(tie)電體(ti)材料的(de)電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)及(ji)I—V特(te)性。

主要技術(shu)指標(biao)：

1.輸出信(xin)號(hao)電(dian)壓(ya)：：薄(bo)膜(mo)：0～±10V 陶瓷(ci)、材料：0～±2000V

2.輸出信(xin)號(hao)頻(pin)率(lv)：薄(bo)膜(mo)材(cai)料1-1000HZ，陶瓷(ci)：0-1Hz

3.電容範圍：1000nf～ 100nf, 精(jing)度: ≤1%。

4.電流範(fan)圍: 1nA～10A ,精(jing)度: ≤1%。

5、測(ce)試樣品：0-20mm  5個(ge)

6、高壓(ya)樣(yang)品池(chi)：開放(fang)式(shi)：8CM*5CM

7、三維(wei)移動(dong)薄(bo)膜(mo)測(ce)試平臺(tai)：直立式(shi)探(tan)針(zhen)壹(yi)套

8、電流：1-10倍(bei)放(fang)大，信(xin)號(hao)：1-20倍(bei)。.數(shu)據結口(kou)：USB或BNC接口(kou)。

9. 數(shu)據采(cai)集分析(xi)軟件(jian)： 能(neng)畫(hua)出鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)的(de)電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)，定量(liang)得(de)到(dao)鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)材(cai)料的(de)飽(bao)和(he)極(ji)化Ps、剩余(yu)極(ji)化Pr、矯(jiao)頑場Ec、漏(lou)電(dian)流等(deng)參(can)數(shu);可以(yi)進(jin)行鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)材(cai)料的(de)鐵(tie)電疲(pi)勞性能、鐵(tie)電保(bao)持性能的(de)測(ce)試，電阻(zu)測(ce)量(liang)，漏(lou)電(dian)流測(ce)量(liang)。

10.可以(yi)配(pei)合(he)ZJ-3和(he)ZJ-6型(xing)壓(ya)電(dian)測(ce)試儀(yi)操(cao)作系統(tong)

PZT-JH10/4壓(ya)電(dian)極(ji)化裝(zhuang)置（10KV以(yi)下壓(ya)電(dian)陶瓷(ci)同時(shi)極化1-4片(pian)）

PZT-JH10/4壓(ya)電(dian)極(ji)化裝(zhuang)置（10KV以(yi)下壓(ya)電(dian)陶瓷(ci)同時(shi)極化1-4片(pian)）

關鍵(jian)詞(ci)：壓(ya)電(dian)極(ji)化，壓(ya)電(dian)陶瓷(ci)材料，1-4片

主要特(te)點(dian)：

1.能夠同時(shi)極化1-4片(pian)試樣

2.提供(gong)多(duo)套(tao)測(ce)試夾具(ju)（可以(yi)測(ce)試粉末(mo)，單樣品，及薄(bo)的(de)壓(ya)電(dian)陶瓷(ci)片）

2. 安(an)全可靠，溫(wen)度補(bu)償快(kuai)、恒溫(wen)精(jing)度高

3. 每(mei)路(lu)當(dang)漏(lou)電(dian)流超(chao)過規(gui)定值(zhi)時(shi)，都(dou)具有(you)切(qie)斷保(bao)護功能，不(bu)影響其它(ta)樣(yang)片的(de)極(ji)化，其(qi)它回(hui)路(lu)可按正(zheng)常極(ji)化時(shi)間完成極化。

4. 任(ren)意(yi)夾(jia)持樣品尺寸(cun)為(wei)0-40mm片(pian)方(fang)型(xing)或(huo)是圓(yuan)型(xing)試樣

7、工作電(dian)源(yuan)：AC220V  50/60HZ

8、額(e)定功率(lv)：2.0kw

9、壓(ya)電(dian)材(cai)料極化或(huo)耐(nai)壓(ya)測(ce)試：DC：0-10KV（±5％+2個(ge)字(zi)）連(lian)續(xu)可調(tiao)

10、總電流(liu)：10mA

11、每(mei)路(lu)切(qie)斷電(dian)流：0.5mA

12、加(jia)熱時(shi)間：可以(yi)自(zi)動設(she)定

13、加(jia)熱元件(jian) ：優(you)質電阻(zu)絲

14、1次測(ce)試試樣數(shu)量(liang):可加(jia)載1-4片(pian)試樣

15、額(e)定溫(wen)度 ：≤180℃

16、最(zui)高溫(wen)度 ：200℃

17、控溫(wen)方(fang)式(shi) ：智能(neng)化恒(heng)溫(wen)控制（進(jin)口(kou)表(biao)），多(duo)段(duan)程(cheng)序可控

18、樣片 ：樣(yang)品尺寸(cun)為(wei)3-40mm片(pian)方(fang)型(xing)或(huo)是圓(yuan)型(xing)試樣

19、外形尺(chi)寸(cun) ： 875*470*400（mm)

20、極化探(tan)頭(tou)：優(you)質銅(tong)電極(ji)（0.2mm）

21、標(biao)準極(ji)化樣(yang)品：8片（10mm*1.5mm）

21、配套設(she)備(bei)裝(zhuang)置：能(neng)夠(gou)配合(he)ZJ-3和(he)ZJ-6壓(ya)電(dian)測(ce)試儀(yi)進(jin)行測(ce)量(liang)

22、配套設(she)備(bei)裝(zhuang)置：可以(yi)配(pei)置10MM，20MM，30MM，40MM壓(ya)片(pian)夾(jia)具(ju)

JKZC-YDZK03A 

Dielectric tester型(xing)

壓(ya)電(dian)阻(zu)抗

測(ce)試儀(yi)

JKZC-YDZK03A Dielectric   tester型(xing)壓(ya)電(dian)阻(zu)抗測(ce)試儀(yi)

關鍵(jian)詞(ci)：介電常數(shu)，諧(xie)振(zhen)頻(pin)率(lv)Fp，機電耦合(he)系(xi)數(shu)Keff，機械品質因(yin)素(su) Qm

JKZC-YDZK03A   Dielectric tester型(xing)介(jie)電(dian)測(ce)試儀(yi)是壹款多功能的(de)介(jie)電測(ce)試儀(yi)，即(ji)可測(ce)試包括(kuo)介(jie)電常數(shu)、介(jie)電(dian)損(sun)耗(hao)、電容等(deng)參(can)數(shu)，又(you)可以(yi)測(ce)量(liang)諧(xie)振(zhen)頻(pin)率(lv)Fs，反諧(xie)振頻(pin)率(lv)Fp，機電耦合(he)系(xi)數(shu)   Keff，機械品質因(yin)素(su) Qm，最(zui)大導納(na)Gmax等(deng)材(cai)料參數(shu)，為(wei)材(cai)料研究(jiu)測(ce)試提供(gong)第(di)壹(yi)手原(yuan)始(shi)數(shu)據，提供(gong)元整(zheng)的(de)數(shu)據圖，是高等(deng)院(yuan)校，科(ke)研(yan)院(yuan)所(suo)及(ji)材料研究(jiu)生(sheng)產的(de)重(zhong)要工具,同時(shi)還可以(yi)配(pei)合(he)高(gao)溫(wen)設(she)備(bei)，進(jin)行高(gao)溫(wen)設(she)備(bei)測(ce)試。

壹、主要(yao)特(te)點(dian)：

自動平(ping)衡(heng)技術(shu)電(dian)橋(qiao)，測(ce)量(liang)準(zhun)確(que)度高

4端對開(kai)爾(er)文測(ce)試端，測(ce)量(liang)範(fan)圍準(zhun)確(que)度高

提供(gong)內(nei)部(bu)直(zhi)流(liu)偏壓(ya)-5V～+5V

可選配(pei)內(nei)部(bu)±40V偏置電(dian)壓(ya)源(yuan)

簡(jian)體(ti)中文、英(ying)文操作(zuo)語(yu)言

分檔測(ce)量(liang)、列表(biao)掃(sao)描(miao)、繪(hui)圖掃(sao)描、開(kai)路(lu)、短路(lu)、負(fu)載校正(zheng)等(deng)等(deng)功(gong)能

配備(bei)電(dian)導率(lv)σ·介電(dian)常數(shu)ε的(de)運(yun)算(suan)功能

進行測(ce)試數(shu)據、測(ce)試條件(jian)保(bao)存(cun)（U盤(pan)或(huo)內(nei)部(bu)）

繪圖掃(sao)描圖像(xiang)直接拷(kao)屏(ping)到(dao)U盤(pan)功(gong)能

加(jia)強的(de)測(ce)試端保(bao)護功能

USB、GPIB、RS232、LAN等(deng)上(shang)位(wei)機連(lian)接接口(kou)

二(er)、主(zhu)要技術(shu)參(can)數(shu)

1、頻(pin)率(lv)：20HZ-1MHZ,5MHZ,10MHZ,15MHZ,30MHZ，50MHZ多種(zhong)可選

2、D33測(ce)試範圍：0-6000PC/N(選配(pei)ZJ-3型(xing)精(jing)密壓(ya)電(dian)系(xi)數(shu)測(ce)試儀(yi))

5、基本精度 ：0.05%

6、測(ce)試電平(ping): 5mV—2Vrms

7、輸出阻(zu)抗: 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

8、測(ce)試參數(shu)：D33，電(dian)容，介電(dian)常(chang)數(shu)，諧(xie)振(zhen)頻(pin)率(lv)Fs，反諧(xie)振頻(pin)率(lv)Fp，機電耦合(he)系(xi)數(shu)   Keff，機械品質因(yin)素(su) Qm，最(zui)大導納(na)Gmax等(deng)

9、通道數(shu)：1通(tong)道(dao)

10、電極： 雙(shuang)面夾(jia)持探針

11、軟件(jian)：自(zi)動計算(suan)並輸出數(shu)據，軟件(jian)可根據實驗(yan)方(fang)案設(she)計，通(tong)過(guo)測(ce)量(liang)C和(he)D值(zhi)，自動(dong)完成介電常數(shu)和(he)介(jie)電損(sun)耗(hao)隨頻(pin)率(lv)、電壓(ya)、偏壓(ya)多(duo)維(wei)變(bian)化的(de)曲(qu)線(xian)。