描述：ZJ-4型靜壓(ya)電D33電(dian)壓(ya)電流(liu)測試(shi)儀是壹(yi)款在(zai)原(yuan)來的設(she)備基(ji)礎(chu)上(shang)，額(e)外(wai)增(zeng)加了電壓(ya)和(he)電(dian)流采集(ji)系(xi)統的功(gong)能，該功(gong)能主要(yao)是針(zhen)對(dui)壓(ya)電PVDF薄膜，在(zai)不(bu)同(tong)的運(yun)動(dong)和(he)力的變化(hua)條(tiao)件(jian)下，測試(shi)其壓(ya)電性能變化(hua)，是研究壓(ya)電薄膜性能的重(zhong)要(yao)設(she)備。也是本(ben)儀器(qi)是從(cong)事(shi)壓(ya)電材(cai)料(liao)及壓(ya)電元(yuan)件生產(chan)、應用(yong)與研(yan)究部(bu)門(men)的儀器(qi)。

二(er)、參(can)考標(biao)準:
GB3389.4-82《壓(ya)電陶(tao)瓷材(cai)料(liao)性能測試(shi)方法 縱(zong)向(xiang)壓(ya)電應(ying)變常(chang)數(shu)d33的靜態測試(shi)》GB/T3389.5-

ZJ-4型靜壓(ya)電D33電(dian)壓(ya)電流(liu)測試(shi)儀

ZJ-4型靜壓(ya)電D33電(dian)壓(ya)電流(liu)測試(shi)儀

關(guan)鍵詞：D33系數(shu)，PVDF壓(ya)電薄膜，電(dian)壓(ya)，電流(liu)，D31,D15

ZJ-4型靜壓(ya)電D33電(dian)壓(ya)電流(liu)測試(shi)儀是壹(yi)款在(zai)原(yuan)來的設(she)備基(ji)礎(chu)上(shang)，額(e)外(wai)增(zeng)加了電壓(ya)和(he)電(dian)流采集(ji)系(xi)統的功(gong)能，該功(gong)能主要(yao)是針(zhen)對(dui)壓(ya)電PVDF薄膜，在(zai)不(bu)同(tong)的運(yun)動(dong)和(he)力的變化(hua)條(tiao)件(jian)下，測試(shi)其壓(ya)電性能變化(hua)，是研究壓(ya)電薄膜性能的重(zhong)要(yao)設(she)備。也是本(ben)儀器(qi)是從(cong)事(shi)壓(ya)電材(cai)料(liao)及壓(ya)電元(yuan)件生產(chan)、應用(yong)與研(yan)究部(bu)門(men)的儀器(qi)。

二(er)、參(can)考標(biao)準:
GB3389.4-82《壓(ya)電陶(tao)瓷材(cai)料(liao)性能測試(shi)方法 縱(zong)向(xiang)壓(ya)電應(ying)變常(chang)數(shu)d33的靜態測試(shi)》GB/T3389.5-1995《壓(ya)電陶(tao)瓷材(cai)料(liao)性能測試(shi)方法 圓片(pian)厚(hou)度伸(shen)縮振動模式》

GB000?Tj1.1/T3389.4-1982《壓(ya)電陶(tao)瓷材(cai)料(liao)性能測試(shi)方法 柱體縱(zong)向(xiang)長(chang)度伸(shen)縮振動模式》

GB/T 3389.7-1986《壓(ya)電陶(tao)瓷材(cai)料(liao)性能測試(shi)方法 強(qiang)場介電(dian)性能的測試(shi)》

GB/T3389.8-1986《壓(ya)電陶(tao)瓷材(cai)料(liao)性能測試(shi)方法 熱(re)釋(shi)電系數(shu)的測試(shi)

三(san)、產(chan)品主(zhu)要(yao)功能：

﹡測量壓(ya)電PVDFd33常(chang)數(shu)

﹡測量壓(ya)電陶(tao)瓷D33,D15,D31常數(shu)

﹡測量壓(ya)電PVDF在(zai)外作(zuo)用力條(tiao)件(jian)下的電(dian)壓(ya)，電流(liu)參數(shu)

四(si)、主要技術(shu)指(zhi)標(biao) 

d33測量範(fan)圍(wei)：

×1擋：  20 至(zhi)6000pC/N
×0.1擋： 2 至(zhi)400pC/N。

配D31/D15夾(jia)具(ju)
誤差：×1擋：±2%±1個數(shu)字(zi)，當(dang)d33在(zai)100到4000pC/N；

計量(liang)標(biao)定(ding)標(biao)準樣尺寸(cun)：18mm*0.8mm，老化(hua)時(shi)間(jian)：2-3年(nian)（評(ping)判壓(ya)電測試(shi)儀準確性能的重(zhong)要(yao)依據之(zhi)壹(yi)）

提供(gong)壓(ya)電薄膜標(biao)準片：20*20MM

電壓(ya)保護(hu)：的放電保(bao)護(hu)功能
±5%±1個數(shu)字(zi)，當(dang)d33在(zai)10到200pC/N；
×0.1擋：±2%±1個數(shu)字(zi)，(當(dang)d33在(zai)10到200pC/N)
±5%±1個數(shu)字(zi)，當(dang)d33在(zai)10到20pC/N。

電流(liu)測量範(fan)圍(wei)：1fA - 20mA

電壓(ya)測量範(fan)圍(wei)：10μV - 200V

電阻(zu)測量範(fan)圍(wei)：50Ω - 1016Ω

電荷(he)測量範(fan)圍(wei)：10fC - 2Μc

極性測量：正負±顯(xian)示

力值(zhi)：交變力0.25N 

施加(jia)力：0-5N
分(fen)辨率：×1擋：1 pC/N；×0.1擋：0.1 pC/N。
尺寸(cun)：施(shi)力裝(zhuang)置(zhi)：Φ110×140mm；儀器(qi)本(ben)體：240×200×80mm。
重(zhong)量(liang)：施力裝(zhuang)置(zhi)：約(yue)4公斤；    
儀器(qi)本(ben)體：2公(gong)斤。
電源：220伏，50赫(he)，20瓦(wa)。