描(miao)述(shu)：JGWDZ-1000型(xing)金(jin)屬材(cai)料(liao)高(gao)溫(wen)電阻(zu)測量系統(tong)

JGWDZ-1000型(xing)金(jin)屬材(cai)料(liao)高(gao)溫(wen)電阻(zu)測量系統(tong)

JGWDZ-1000型(xing)金(jin)屬材(cai)料(liao) 高(gao)溫(wen)電阻(zu)測量系統(tong)通(tong)過(guo)4線(xian)法(fa)，可以測量金(jin)屬導體材(cai)料(liao)的低(di)電(dian)阻(zu)及體積電(dian)阻(zu)率(lv)，同時(shi)，也(ye)可以通(tong)過(guo)2線(xian)法(fa)測量絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)的高(gao)電(dian)阻(zu)及體積電(dian)阻(zu)率(lv)、表(biao)面電阻(zu)率(lv)。

系統(tong)操作簡單(dan)、方(fang)便(bian)，可靈(ling)活定(ding)制測試項(xiang)目(mu)。測試材(cai)料(liao)的R-T曲(qu)線(xian)、I-T曲(qu)線(xian)、V-T曲線、I-V曲線(xian)、V-I曲線特(te)性(xing)、體積電(dian)阻(zu)率(lv)和(he)表(biao)面電阻(zu)率(lv)。

系統(tong)集(ji)高(gao)溫(wen)環(huan)境、溫度控(kong)制、樣品安裝於壹(yi)體，具有體積小、操作簡單(dan)、控(kong)溫精度高(gao)等(deng)特(te)點.

壹、主要應(ying)用(yong)範(fan)圍(wei)：

1、  廣(guang)泛用(yong)於(yu)碳(tan)系導電材(cai)料(liao)的電(dian)阻(zu)率(lv)和(he)電(dian)導率(lv)測量

2、  金(jin)屬系(xi)導電材(cai)料(liao)的電(dian)阻(zu)率(lv)和(he)電(dian)導率(lv)測量

3、  金(jin)屬氧化(hua)物系導電材(cai)料(liao)的電(dian)阻(zu)率(lv)和(he)電(dian)導率(lv)測量

4、  高(gao)分(fen)子(zi)導電材(cai)料(liao)的電(dian)阻(zu)率(lv)和(he)電(dian)導率(lv)測量

5、  復合導電材(cai)料(liao)等(deng)材(cai)料(liao)的電(dian)阻(zu)率(lv)測量

6、  可以測量矽、鍺單晶(jing)（棒(bang)料(liao)、晶片）電阻(zu)率(lv)

7、  薄(bo)膜材(cai)料(liao)電阻(zu)測試

8、  金(jin)屬材(cai)料(liao)高(gao)溫(wen)電阻(zu)測試

二、產(chan)品特(te)點：

1、溫度範(fan)圍(wei)：-160℃~600℃/800℃/1000℃；

2、電流範(fan)圍(wei)：電(dian)流(liu)範(fan)圍(wei)100fA到(dao)100mA

3、電阻(zu)範(fan)圍(wei)：10nΩ 至 200MΩ

4、測溫(wen)精度：0.1℃；

5、控(kong)溫精度：、±0.1℃；

6、升降(jiang)溫(wen)速度：1~10℃/min；

7、控(kong)溫模(mo)式：程序控(kong)制，包括(kuo)常溫、變(bian)溫、恒(heng)溫、升(sheng)降(jiang)溫(wen)及組合(he)；

8、通(tong)信接口：RS-485；

9、電極結(jie)構(gou)：四線法(fa)；

10、測試接(jie)口(kou)：兩(liang)個接(jie)線(xian)柱(zhu)；

11、設計標(biao)準：ASTM B193-02和(he)GBT 6146-2010、GBT15662-1995

12、儀(yi)表接(jie)口(kou)：適配(pei)keithley6221+2182A，2450等(deng)相關(guan)表(biao)組合(he)測量