ZT-4C鐵(tie)電(dian)性(xing)能(neng)綜合(he)測(ce)試儀為(wei)妳解釋什麽(me)是(shi)鐵(tie)電(dian)材料（鐵(tie)電(dian)篇壹(yi)）

                          （鐵(tie)電(dian)篇壹(yi)）

         ZT-4C鐵(tie)電(dian)性(xing)能(neng)綜合(he)測(ce)試儀為(wei)妳解釋什麽(me)是(shi)鐵(tie)電(dian)材料

     鐵(tie)電(dian)材料是(shi)指(zhi)具(ju)有(you)鐵(tie)電(dian)效(xiao)應(ying)的(de)壹(yi)類材(cai)料(liao)，它是(shi)熱釋電材(cai)料(liao)的(de)壹(yi)個(ge)分(fen)支(zhi)。鐵(tie)電(dian)材料及其應用研(yan)究(jiu)已(yi)成(cheng)為(wei)凝(ning)聚態物(wu)理、固(gu)體電(dian)子(zi)學(xue)領(ling)域zui熱門的研(yan)究課(ke)題(ti)之壹(yi)。晶(jing)體，其原(yuan)因在(zai)於他(ta)們具(ju)有(you)相(xiang)當優異(yi)的性(xing)能(neng)。許多電(dian)光晶(jing)體、壓電(dian)材(cai)料就(jiu)是鐵(tie)電(dian)晶(jing)體。鐵(tie)電(dian)晶(jing)體無(wu)論(lun)在技(ji)術上或理(li)論(lun)上都(dou)具有(you)重要(yao)的(de)意義。

ZT-4C型(xing)鐵(tie)電(dian)性(xing)能(neng)綜合(he)測(ce)試系統(tong)是(shi)壹(yi)代(dai)鐵(tie)電(dian)材料參數(shu)測(ce)試儀適用於鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜(mo)、鐵(tie)電(dian)體材(cai)料（既(ji)可(ke)塊(kuai)體材(cai)料）的(de)電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)量(liang)，可(ke)測(ce)量(liang)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜(mo)電(dian)滯回(hui)線(xian)、I—V特(te)性(xing)及(ji)開關特性(xing)，可(ke)地測(ce)出(chu)具(ju)有(you)非(fei)對稱電滯回(hui)線(xian)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜(mo)的(de)Pr值。可(ke)測(ce)鐵(tie)電(dian)體材(cai)料的(de)電(dian)滯回(hui)線(xian)及(ji)I—V特性(xing)。

前(qian)言：鐵(tie)電(dian)材料具有(you)良(liang)好(hao)的鐵(tie)電(dian)性(xing)、壓電(dian)性(xing)、熱釋電性(xing)以(yi)及(ji)非(fei)線性(xing)光學(xue)等(deng)特性(xing), 是(shi)當前高(gao)新技(ji)術材(cai)料(liao)中非(fei)常活躍(yue)的(de)研(yan)究(jiu)領域之壹(yi)，其研究熱點正向實用化(hua)發(fa)展。

背景：高(gao)性(xing)能(neng)的鐵(tie)電(dian)材料是壹(yi)類具(ju)有(you)廣(guang)泛(fan)應用(yong)前(qian)景的功(gong)能(neng)材料,從(cong)目前(qian)的(de)研(yan)究現狀來(lai)看,對(dui)於具(ju)有(you)高(gao)性(xing)能(neng)的鐵(tie)電(dian)材料的研(yan)究(jiu)和(he)開發(fa)應用(yong)仍(reng)然處於發(fa)展階(jie)段.研(yan)究者們選用不(bu)同的(de)鐵(tie)電(dian)材料進行(xing)研(yan)究(jiu),並不(bu)斷(duan)探(tan)索制(zhi)備(bei)工(gong)藝,只(zhi)是(shi)到(dao)目前為(wei)止對(dui)於鐵(tie)電(dian)材料的壹(yi)些性(xing)能(neng)的研究還沒有(you)達(da)到(dao)令(ling)人滿(man)意的(de)地步.比(bi)如,用(yong)於制(zhi)備(bei)鐵(tie)電(dian)復合(he)材(cai)料的(de)陶瓷粉(fen)體和(he)聚合(he)物(wu)的種類還很單(dan)壹(yi),對(dui)其復合(he)界(jie)面的理(li)論(lun)研究(jiu)也(ye)剛(gang)剛(gang)開始,鐵(tie)電(dian)記憶器件(jian)抗(kang)疲勞(lao)特性(xing)的(de)研究還有(you)待發展。

壹(yi)、產(chan)品介(jie)紹：

ZT-4C型(xing)鐵(tie)電(dian)性(xing)能(neng)綜合(he)測(ce)試系統(tong)是(shi)壹(yi)代(dai)鐵(tie)電(dian)材料參數(shu)測(ce)試儀適用於鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜(mo)、鐵(tie)電(dian)體材(cai)料（既(ji)可(ke)塊(kuai)體材(cai)料）的(de)電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)量(liang)，可(ke)測(ce)量(liang)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜(mo)電(dian)滯回(hui)線(xian)、I—V特(te)性(xing)及(ji)開關特性(xing)，可(ke)地測(ce)出(chu)具(ju)有(you)非(fei)對稱電滯回(hui)線(xian)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜(mo)的(de)Pr值。可(ke)測(ce)鐵(tie)電(dian)體材(cai)料的(de)電(dian)滯回(hui)線(xian)及(ji)I—V特性(xing)。

主(zhu)要(yao)技(ji)術指(zhi)標：
1.輸出信號電(dian)壓：薄(bo)膜(mo)：0～±10V ,精(jing)度：±1mV;陶(tao)瓷材(cai)料(liao)：0～±2200V,精(jing)度：±1V。
2.輸出信號頻率：薄(bo)膜(mo)材(cai)料0～2kHz,精(jing)度：±1Hz;壓電(dian)陶(tao)瓷：1HZ, 精(jing)度(du)：±0.01Hz。
3.電(dian)容範(fan)圍(wei)：1000nf～ 100nf, 精(jing)度: ≤1%。
4.電(dian)流範(fan)圍(wei): 1nA～10A ,精(jing)度: ≤1%。
5.測(ce)試用信號源(yuan)：計算(suan)機(ji)控(kong)制(zhi)正(zheng)弦(xian)波、三(san)角(jiao)波、間(jian)歇三(san)角(jiao)波、梯(ti)形(xing)波。
6.電(dian)流放(fang)大(da)器(qi)：計算(suan)機(ji)控(kong)制(zhi)，1、2、5倍(bei)。
7.信號放(fang)大(da)器(qi)：計算(suan)機(ji)控(kong)制(zhi)，1、2、5、10、15倍(bei)。8

8.數(shu)據結(jie)口(kou)：USB或BNC接(jie)口(kou)。

9. 數(shu)據采集(ji)分析(xi)軟件： 能(neng)畫出鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜(mo)的(de)電滯回(hui)線(xian)，定(ding)量(liang)得到鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜(mo)材(cai)料的飽和(he)極化(hua)Ps、剩余極(ji)化Pr、矯頑場(chang)Ec、漏電(dian)流(liu)等(deng)參數(shu);可以(yi)進(jin)行鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜(mo)材(cai)料的鐵(tie)電(dian)疲勞(lao)性(xing)能(neng)、鐵(tie)電(dian)保(bao)持(chi)性(xing)能(neng)的測(ce)試，電阻(zu)測(ce)量(liang)，漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)量(liang)。