描(miao)述：ZJ-3型壓(ya)電(dian)測試(shi)儀（靜(jing)壓(ya)電系數d33測(ce)量儀）是(shi)為(wei)測量(liang)壓電(dian)材料(liao)的d33常(chang)數而設計(ji)的(de)專用儀器，它(ta)可(ke)用(yong)來測量(liang)具(ju)有(you)大壓電(dian)常(chang)數的(de)壓電(dian)陶(tao)瓷(ci)，小壓電(dian)常(chang)數的(de)壓電(dian)單(dan)晶及壓(ya)電(dian)高分子(zi)材(cai)料(liao)。此(ci)外(wai)，也可(ke)測(ce)量(liang)任意(yi)取(qu)向(xiang)壓電單(dan)晶以及(ji)某(mou)些(xie)壓電器件(jian)的等(deng)效(xiao)壓電d’33常(chang)數，儀器測(ce)量範圍寬(kuan)，分辨率(lv)細，可(ke)靠(kao)性高，操作簡(jian)單(dan)，對試樣(yang)大小及(ji)形(xing)狀無特(te)殊要(yao)求(qiu)，圓片、圓環(huan)、圓(yuan)管、方(fang)塊、長條、柱形(xing)及半(ban)球(qiu)殼(ke)等(deng)均(jun)可(ke)測(ce)量(liang)，測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)和極(ji)性在三(san)位半(ban)數字(zi)面板(ban)表(biao)上

ZJ-3型精密D33

測(ce)試儀

ZJ-3型壓(ya)電(dian)測試(shi)儀（靜(jing)壓(ya)電系數d33測(ce)量儀）是(shi)為(wei)測量(liang)壓電(dian)材料(liao)的d33常(chang)數而設計(ji)的(de)專用儀器，它(ta)可(ke)用(yong)來測量(liang)具(ju)有(you)大壓電(dian)常(chang)數的(de)壓電(dian)陶(tao)瓷(ci)，小壓電(dian)常(chang)數的(de)壓電(dian)單(dan)晶及壓(ya)電(dian)高分子(zi)材(cai)料(liao)。此(ci)外(wai)，也可(ke)測(ce)量(liang)任意(yi)取(qu)向(xiang)壓電單(dan)晶以及(ji)某(mou)些(xie)壓電器件(jian)的等(deng)效(xiao)壓電d’33常(chang)數，儀器測(ce)量範圍寬(kuan)，分辨率(lv)細，可(ke)靠(kao)性高，操作簡(jian)單(dan)，對試樣(yang)大小及(ji)形(xing)狀無特(te)殊要(yao)求(qiu)，圓片、圓環(huan)、圓(yuan)管、方(fang)塊、長條、柱形(xing)及半(ban)球(qiu)殼(ke)等(deng)均(jun)可(ke)測(ce)量(liang)，測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)和極(ji)性在三(san)位半(ban)數字(zi)面板(ban)表(biao)上直(zhi)接(jie)顯示。ZJ-3型增(zeng)加(jia)了(le)對被(bei)測元件的(de)放(fang)電(dian)保護(hu)、放(fang)電(dian)提示(shi)以及被測波(bo)形(xing)輸出等(deng)功(gong)能(neng)，使(shi)得(de)儀器在測(ce)量未(wei)放(fang)電(dian)（尤其是(shi)較(jiao)大尺寸(cun)）的(de)壓電元件時(shi)具備(bei)了(le)高電壓放(fang)電(dian)提示(shi)及保護功能(neng)，本儀器是(shi)從(cong)事壓電(dian)材(cai)料(liao)及壓(ya)電(dian)元件生(sheng)產(chan)、應(ying)用與研(yan)究(jiu)部門的(de)儀器。

d33測(ce)量(liang)範圍：

 ×1擋：10到(dao)2000pC/N，20 至4000pC/N，可(ke)以(yi)升(sheng)級(ji)到(dao)10000PC/N.
  ×0.1擋： 1到(dao)200pC/N，2 至400pC/N。

可(ke)配(pei)D31塊體夾(jia)具，D15塊體夾(jia)具，D15圓管夾(jia)具，薄膜(mo)拉伸(shen)夾(jia)具

可(ke)以(yi)配(pei)套(tao)PZT-JH10/4/8/12型壓(ya)電(dian)極(ji)化(hua)裝置使(shi)用(yong)

可(ke)以(yi)配(pei)套(tao)ZJ-D33-YP15壓(ya)電壓片機使(shi)用(yong)
  誤差(cha)：×1擋：±2%±1個數字(zi)，當d33在100到(dao)4000pC/N；

計(ji)量(liang)標(biao)定標(biao)準(zhun)樣(yang)尺(chi)寸(cun)：18mm*0.8mm，老(lao)化(hua)時(shi)間：2-3年(nian)（評判壓(ya)電測試儀準(zhun)確(que)性能(neng)的重(zhong)要(yao)依(yi)據之壹(yi)）
  ±5%±1個數字(zi)，當d33在10到(dao)200pC/N；
  ×0.1擋：±2%±1個數字(zi)，(當d33在10到(dao)200pC/N)
  ±5%±1個數字(zi)，當d33在10到(dao)20pC/N。
  分(fen)辨率(lv)：   ×1擋：1 pC/N；×0.1擋：0.1   pC/N。
  尺寸(cun)：施(shi)力裝置(zhi)：Φ110×140mm；儀器本(ben)體：240×200×80mm。
  重量(liang)：施力裝置(zhi)：約(yue)4公(gong)斤(jin)；     
  儀器本(ben)體：2公(gong)斤(jin)。
  電(dian)源：220伏，50赫，20瓦(wa)。

補(bu)充(chong)參數:

PZT-JH10/4壓電(dian)極(ji)化(hua)裝置（10KV以(yi)下壓電陶(tao)瓷(ci)同時(shi)極(ji)化(hua)1-4片）

主要(yao)特點：

1.能(neng)夠同(tong)時(shi)極(ji)化(hua)1-4片試樣(yang)

2.提(ti)供多(duo)套(tao)測試夾(jia)具（可(ke)以(yi)測(ce)試(shi)粉(fen)末，單(dan)樣(yang)品(pin)，及薄的壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷(ci)片）

2. 安全(quan)可(ke)靠(kao)，溫(wen)度(du)補(bu)償快(kuai)、恒溫精度(du)高

3. 每路當漏電流(liu)超(chao)過規定值(zhi)時(shi)，都具(ju)有(you)切(qie)斷保護(hu)功(gong)能(neng)，不影響其它(ta)樣(yang)片的極(ji)化(hua)，其它(ta)回路可(ke)按(an)正(zheng)常(chang)極(ji)化(hua)時(shi)間完成(cheng)極(ji)化(hua)。

4. 任意(yi)夾(jia)持樣(yang)品(pin)尺寸(cun)為(wei)0-40mm片方型或(huo)是(shi)圓型試(shi)樣(yang)

7、工(gong)作(zuo)電(dian)源：AC220V  50/60HZ

8、額定功(gong)率(lv)：2.0kw

9、壓電(dian)材(cai)料(liao)極(ji)化(hua)或耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)：DC：0-10KV（±5％+2個字）連續(xu)可(ke)調(tiao)

10、總(zong)電(dian)流(liu)：10mA

11、每路切(qie)斷電流(liu)：0.5mA

12、加(jia)熱時(shi)間：可(ke)以(yi)自(zi)動設定

13、加(jia)熱元件 ：優(you)質(zhi)電阻絲

14、1次(ci)測(ce)試試(shi)樣(yang)數量(liang):可(ke)加(jia)載(zai)1-4片試樣(yang)

15、額(e)定溫(wen)度(du) ：≤180℃

16、最高溫度(du) ：200℃

17、控(kong)溫方(fang)式(shi) ：智(zhi)能(neng)化(hua)恒溫控制（進(jin)口表(biao)），多段程序可(ke)控(kong)

18、樣(yang)片 ：樣(yang)品(pin)尺寸(cun)為(wei)3-40mm片方型或(huo)是(shi)圓型試(shi)樣(yang)

19、外(wai)形(xing)尺寸(cun) ： 875*470*400（mm)

20、極(ji)化(hua)探頭(tou)：優(you)質(zhi)銅(tong)電(dian)極(ji)（0.2mm）

21、標(biao)準(zhun)極(ji)化(hua)樣(yang)品(pin)：8片（10mm*1.5mm）

21、配套設備(bei)裝置(zhi)：能(neng)夠配(pei)合ZJ-3和ZJ-6壓(ya)電(dian)測試(shi)儀進(jin)行測量(liang)

22、配套(tao)設(she)備(bei)裝(zhuang)置：可(ke)以(yi)配(pei)置(zhi)10MM，20MM，30MM，40MM壓(ya)片夾(jia)具

JKZC-YDZK03A 

Dielectric   tester型

壓(ya)電(dian)阻抗(kang)

測試(shi)儀

JKZC-YDZK03A   Dielectric tester型介(jie)電(dian)測試(shi)儀是(shi)壹(yi)款多(duo)功能(neng)的介(jie)電測(ce)試(shi)儀，即可(ke)測(ce)試(shi)包(bao)括(kuo)介(jie)電常數、介(jie)電損(sun)耗(hao)、電(dian)容(rong)等(deng)參數，又可(ke)以(yi)測(ce)量(liang)諧(xie)振頻(pin)率(lv)Fs，反諧(xie)振(zhen)頻(pin)率(lv)Fp，機電(dian)耦(ou)合系數   Keff，機(ji)械品(pin)質(zhi)因素(su) Qm，最大導納Gmax等(deng)材(cai)料(liao)參數，為(wei)材料(liao)研(yan)究(jiu)測試提(ti)供第(di)壹(yi)手原始(shi)數據，提(ti)供元整的(de)數據圖(tu)，是(shi)高等(deng)院(yuan)校，科研(yan)院(yuan)所及材(cai)料(liao)研(yan)究(jiu)生產(chan)的(de)重(zhong)要(yao)工(gong)具(ju),同(tong)時(shi)還可(ke)以(yi)配(pei)合(he)高溫設備(bei)，進(jin)行高溫設備(bei)測(ce)試。    

壹(yi)、主要(yao)特點：

自(zi)動平衡(heng)技(ji)術(shu)電橋(qiao)，測量準(zhun)確(que)度(du)高

4端對開(kai)爾文測(ce)試(shi)端，測量(liang)範圍準(zhun)確(que)度(du)高

提供內部(bu)直(zhi)流(liu)偏(pian)壓(ya)-5V～+5V

可(ke)選(xuan)配(pei)內部(bu)±40V偏(pian)置(zhi)電壓源

簡(jian)體中文、英文操(cao)作(zuo)語言(yan)

分(fen)檔測量(liang)、列(lie)表(biao)掃描(miao)、繪(hui)圖(tu)掃(sao)描(miao)、開(kai)路(lu)、短路、負(fu)載(zai)校(xiao)正(zheng)等(deng)等(deng)功(gong)能(neng)

配備(bei)電導率(lv)σ·介電(dian)常(chang)數ε的(de)運算功(gong)能(neng)

進行測試(shi)數據、測(ce)試(shi)條件(jian)保存（U盤或(huo)內部(bu)）

繪(hui)圖(tu)掃(sao)描(miao)圖(tu)像(xiang)直(zhi)接(jie)拷屏(ping)到(dao)U盤(pan)功能(neng)

加(jia)強(qiang)的(de)測試(shi)端保護(hu)功能(neng)

USB、GPIB、RS232、LAN等(deng)上(shang)位機連接(jie)接(jie)口

二、主要(yao)技術(shu)參數

1、頻(pin)率(lv)：20HZ-1MHZ,5MHZ,10MHZ,15MHZ,30MHZ，50MHZ多種(zhong)可(ke)選(xuan)

2、D33測(ce)試(shi)範圍：0-6000PC/N(選(xuan)配(pei)ZJ-3型精密壓(ya)電系數測(ce)試儀)

5、基本精度(du) ：0.05%

6、測(ce)試電(dian)平: 5mV—2Vrms

7、輸出阻抗(kang): 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

8、測試(shi)參數：D33，電(dian)容，介(jie)電常(chang)數，諧(xie)振頻(pin)率(lv)Fs，反諧(xie)振(zhen)頻(pin)率(lv)Fp，機電(dian)耦(ou)合系數   Keff，機(ji)械品(pin)質(zhi)因素(su) Qm，最大導納Gmax等(deng)

9、通(tong)道(dao)數：1通(tong)道(dao)

10、電(dian)極(ji)： 雙面夾(jia)持探針(zhen)

11、軟(ruan)件：自(zi)動計(ji)算(suan)並(bing)輸出數據，軟(ruan)件可(ke)根據實驗(yan)方(fang)案(an)設計(ji)，通(tong)過測(ce)量C和D值(zhi)，自(zi)動完成(cheng)介(jie)電常數和介(jie)電(dian)損耗(hao)隨(sui)頻(pin)率(lv)、電壓(ya)、偏(pian)壓(ya)多維變化(hua)的曲線(xian)。