
當(dang)前位(wei)置:首(shou)頁(ye) > 產(chan)品(pin)中心 > 材料(liao)電(dian)學(xue)性能測(ce)試(shi)儀(yi) > 準(zhun)靜(jing)態d33測量儀(yi) > ZJ-4AN常(chang)溫(wen)準靜(jing)態D33測試(shi)儀(yi)四件套設備





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2025-12-01訪問(wen)量
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PRODUCT我(wo)們相(xiang)信(xin)好的產(chan)品(pin)是(shi)信(xin)譽的(de)保(bao)證!
材(cai)料(liao)電(dian)學(xue)性能測(ce)試(shi)儀(yi)
ARTICLES致(zhi)力於成(cheng)為(wei)更好的解(jie)決(jue)方(fang)案供(gong)應商!
詳細(xi)介紹(shao)
| 品(pin)牌 | ABB | 產(chan)地類(lei)別(bie) | 國(guo)產(chan) |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電(dian)子/電(dian)池,鋼鐵(tie)/金屬(shu),航(hang)空航(hang)天,汽(qi)車及零(ling)部件,電氣(qi) |
ZJ-4 型壓(ya)電測(ce)試儀(yi)(靜(jing)壓(ya)電系(xi)數(shu)d33測量儀(yi)),薄(bo)膜(mo)PVDF壓(ya)電系(xi)數(shu)測試儀(yi)
關鍵詞(ci):壓(ya)電,陶(tao)瓷(ci)材料(liao),高(gao)分子,d33/d15,15圓(yuan)管(guan)夾(jia)具(ju)

壹(yi)、產(chan)品(pin)介紹(shao):
ZJ-4型壓(ya)電測(ce)試儀(yi)(靜(jing)壓(ya)電系(xi)數(shu)d33測量儀(yi))是(shi)為(wei)測量壓(ya)電材(cai)料(liao)的(de)d33常數而設計的專用儀(yi)器,它可(ke)用(yong)來(lai)測量具(ju)有大壓(ya)電常(chang)數的(de)壓(ya)電陶(tao)瓷(ci),小壓(ya)電常(chang)數的(de)壓(ya)電單(dan)晶(jing)及壓(ya)電高(gao)分子材(cai)料(liao),PVDF薄(bo)膜壓(ya)樣品(pin)。ZJ-4擴展了(le)D31塊(kuai)體(ti),D31薄膜拉伸(shen)夾具(ju),D15條狀(zhuang)夾具(ju),D15圓管(guan)夾(jia)具(ju),本(ben)儀(yi)器是(shi)從事(shi)壓(ya)電材(cai)料(liao)及壓(ya)電元(yuan)件生產(chan)、應用與研究(jiu)部門的(de)儀(yi)器。
二、參考標準:
GB3389.4-82《壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)材料(liao)性能測(ce)試(shi)方(fang)法 縱(zong)向(xiang)壓(ya)電應變(bian)常(chang)數(shu)d33的(de)靜態測試(shi)》
GB/T3389.5-1995《壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)材料(liao)性能測(ce)試(shi)方(fang)法 圓片(pian)厚(hou)度(du)伸(shen)縮振(zhen)動(dong)模(mo)式》
GB000?Tj1.1/T3389.4-1982《壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)材料(liao)性能測(ce)試(shi)方(fang)法 柱體(ti)縱(zong)向(xiang)長度(du)伸(shen)縮振(zhen)動(dong)模(mo)式》
GB/T 3389.7-1986《壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)材料(liao)性能測(ce)試(shi)方(fang)法 強(qiang)場(chang)介電(dian)性能的(de)測(ce)試》
GB/T3389.8-1986《壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)材料(liao)性能測(ce)試(shi)方(fang)法 熱釋電(dian)系(xi)數(shu)的測試
三(san)、產(chan)品(pin)主要(yao)功能:
測量壓(ya)電材(cai)料(liao)的(de)d33常數
測量具(ju)有大壓(ya)電常(chang)數的(de)壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)
測量小壓(ya)電常(chang)數的(de)壓(ya)電單(dan)晶(jing)及壓(ya)電高(gao)分子材(cai)料(liao)
測量任(ren)意(yi)取向(xiang)壓(ya)電單(dan)晶(jing)以(yi)及某些壓(ya)電器件的等(deng)效(xiao)壓(ya)電d’33常(chang)數
薄膜PVDF壓(ya)電系(xi)數(shu)D33測試
D31塊(kuai)體(ti),D31薄膜拉伸(shen)夾具(ju),D15條狀(zhuang)夾具(ju),D15圓管(guan)夾(jia)具(ju)四套夾具(ju)
四、主(zhu)要(yao)技(ji)術指標
d33測量範圍(wei):
×1擋: 20 至6000pC/N
×0.1擋: 2 至400pC/N。
可(ke)以(yi)配(pei)套PZT-JH10/4/8/12型壓(ya)電極(ji)化(hua)裝置使(shi)用
可(ke)以(yi)配(pei)套ZJ-D33-YP15壓(ya)電壓(ya)片機(ji)使(shi)用
D31塊(kuai)體(ti),D33薄膜拉伸(shen)夾具(ju),D15條狀(zhuang)夾具(ju),D15圓管(guan)夾(jia)具(ju),GDPT高(gao)溫(wen)夾具(ju)四套夾具(ju)
誤差:×1擋:±2%±1個數(shu)字(zi),當(dang)d33在100到(dao)4000pC/N;
計量標定標準(zhun)樣(yang)尺寸(cun):18mm*0.8mm,老(lao)化(hua)時(shi)間:2-3年(nian)(評判壓(ya)電測(ce)試儀(yi)準(zhun)確(que)性能的(de)重要(yao)依(yi)據(ju)之壹(yi))
提供(gong)壓(ya)電薄(bo)膜標(biao)準片:20*20MM
電壓(ya)保(bao)護:放(fang)電保(bao)護功能
極(ji)化(hua)電壓(ya):±10KV
±5%±1個數(shu)字(zi),當(dang)d33在10到(dao)200pC/N;
×0.1擋(dang):±2%±1個數(shu)字(zi),(當(dang)d33在10到(dao)200pC/N)
±5%±1個數(shu)字(zi),當(dang)d33在10到(dao)20pC/N。
分辨(bian)率(lv): ×1擋(dang):1 pC/N;×0.1擋:0.1 pC/N。
尺寸(cun):施力裝置:Φ110×140mm;儀(yi)器本(ben)體(ti):240×200×80mm。
重量:施力裝置:約4公斤(jin);
儀(yi)器本(ben)體(ti):2公斤(jin)。
電源(yuan):220伏,50赫,20瓦(wa)。
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