ZJ-3型(xing)精(jing)密(mi)D333測(ce)試(shi)儀主(zhu)要介紹(shao)

ZJ-3型(xing)壓電測(ce)試(shi)儀（靜壓電系數(shu)d33測(ce)量(liang)儀）是為測(ce)量(liang)壓(ya)電材料(liao)的d33常(chang)數(shu)而(er)設(she)計的專(zhuan)用儀器，它可(ke)用來(lai)測(ce)量(liang)具(ju)有(you)大(da)壓(ya)電常(chang)數(shu)的壓(ya)電陶瓷，小(xiao)壓(ya)電常(chang)數(shu)的壓(ya)電單(dan)晶及(ji)壓電高(gao)分(fen)子(zi)材料(liao)。此(ci)外，也(ye)可(ke)測(ce)量(liang)任(ren)意(yi)取(qu)向(xiang)壓電單(dan)晶以及(ji)某(mou)些壓(ya)電器件(jian)的等(deng)效壓(ya)電d’33常(chang)數(shu)，儀器測(ce)量(liang)範(fan)圍寬(kuan)，分(fen)辨率細(xi)，可(ke)靠性高(gao)，操作(zuo)簡(jian)單(dan)，對試(shi)樣大(da)小(xiao)及(ji)形(xing)狀無(wu)特殊(shu)要求(qiu)，圓(yuan)片、圓(yuan)環(huan)、圓(yuan)管、方塊、長條(tiao)、柱(zhu)形(xing)及(ji)半球殼(ke)等(deng)均可(ke)測(ce)量(liang)，測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)和(he)極性在(zai)三位(wei)半數字(zi)面板表上直接顯(xian)示。ZJ-3型(xing)增加(jia)了(le)對被(bei)測(ce)元件(jian)的放電保護(hu)、放電提示(shi)以及(ji)被(bei)測(ce)波形輸(shu)出(chu)等(deng)功能(neng)，使得儀器在(zai)測(ce)量(liang)未(wei)放電（尤其(qi)是(shi)較大(da)尺(chi)寸(cun)）的壓(ya)電元件(jian)時具(ju)備了高(gao)電壓放電提示(shi)及保護(hu)功能(neng)，本儀器是從(cong)事壓(ya)電材料(liao)及(ji)壓電元件(jian)生產、應用與(yu)研(yan)究(jiu)部(bu)門(men)的儀器。

ZJ-3型(xing)精(jing)密(mi)D333測(ce)試(shi)儀主(zhu)要技術(shu)參數

d33測(ce)量(liang)範(fan)圍：

 ×1擋(dang)：10到(dao)2000pC/N，20 至(zhi)4000pC/N，可(ke)以升級到10000PC/N.
  ×0.1擋(dang)： 1到(dao)200pC/N，2 至(zhi)400pC/N。

可(ke)配D31塊體(ti)夾具(ju)，D15塊體(ti)夾具(ju)，D15圓(yuan)管夾具(ju)，薄膜(mo)拉伸(shen)夾具(ju)

可(ke)以配(pei)套PZT-JH10/4/8/12型(xing)壓電極化(hua)裝(zhuang)置使用

可(ke)以配(pei)套ZJ-D33-YP15壓電壓片機使用
  誤差：×1擋(dang)：±2%±1個(ge)數字，當(dang)d33在(zai)100到(dao)4000pC/N；

計量(liang)標(biao)定標(biao)準樣(yang)尺(chi)寸(cun)：18mm*0.8mm，老(lao)化(hua)時(shi)間：2-3年（評判(pan)壓電測(ce)試(shi)儀準確性能的重(zhong)要依(yi)據(ju)之壹(yi)）
  ±5%±1個數字(zi)，當(dang)d33在(zai)10到(dao)200pC/N；
  ×0.1擋(dang)：±2%±1個(ge)數字，(當(dang)d33在(zai)10到(dao)200pC/N)
  ±5%±1個數(shu)字(zi)，當(dang)d33在(zai)10到(dao)20pC/N。
  分辨率：   ×1擋(dang)：1 pC/N；×0.1擋(dang)：0.1   pC/N。
  尺(chi)寸(cun)：施(shi)力(li)裝置：Φ110×140mm；儀器本體(ti)：240×200×80mm。
  重(zhong)量(liang)：施(shi)力(li)裝置：約(yue)4公斤；     
  儀器本體(ti)：2公斤。
  電源：220伏，50赫(he)，20瓦(wa)。

補充參數:

TDZT-04C鐵(tie)電性能綜(zong)合測(ce)試(shi)系統(tong)

TDZT-04C鐵(tie)電性能綜(zong)合測(ce)試(shi)系統(tong)是最(zui)新壹(yi)代(dai)鐵(tie)電材料(liao)參數測(ce)試(shi)儀適用於(yu)鐵(tie)電薄膜(mo)、鐵(tie)電體(ti)材料(liao)（既(ji)可(ke)塊體(ti)材料(liao)）的電性能測(ce)量(liang)，可(ke)測(ce)量(liang)鐵(tie)電薄膜(mo)電滯回(hui)線(xian)、I—V特性及開(kai)關(guan)特(te)性，可(ke)精(jing)確地測(ce)出(chu)具(ju)有非(fei)對稱電滯回(hui)線(xian)鐵(tie)電薄膜(mo)的Pr值。可(ke)測(ce)鐵(tie)電體(ti)材料(liao)的電滯回(hui)線(xian)及I—V特(te)性。

TDZT-04C鐵(tie)電性能綜(zong)合測(ce)試(shi)系統(tong)

主(zhu)要技術(shu)參數

主(zhu)要技術(shu)指(zhi)標(biao)：

1.輸出(chu)信(xin)號(hao)電壓：：薄膜(mo)：0～±10V 陶瓷、材料(liao)：0～±2000V

2.輸出(chu)信(xin)號(hao)頻(pin)率：薄膜(mo)材料(liao)1-1000HZ，陶瓷：0-1Hz

3.電容範(fan)圍：1000nf～ 100nf, 精(jing)度(du): ≤1%。

4.電流範(fan)圍:   1nA～10A   ,精(jing)度(du):   ≤1%。

5、測(ce)試(shi)樣品：0-20mm  5個

6、高(gao)壓(ya)樣(yang)品池：開(kai)放式(shi)：8CM*5CM

7、三維(wei)移(yi)動薄膜(mo)測(ce)試(shi)平臺(tai)：直立(li)式(shi)探針壹(yi)套

8、電流：1-10倍放大(da)，信(xin)號(hao)：1-20倍。.數據(ju)結(jie)口(kou)：USB或BNC接口(kou)。

9. 數據(ju)采(cai)集分析(xi)軟件(jian)： 能畫出(chu)鐵(tie)電薄膜(mo)的電滯回(hui)線(xian)，定量(liang)得到鐵(tie)電薄膜(mo)材料(liao)的飽(bao)和(he)極化(hua)Ps、剩余極化(hua)Pr、矯頑(wan)場Ec、漏電流等(deng)參數;可(ke)以進(jin)行(xing)鐵(tie)電薄膜(mo)材料(liao)的鐵(tie)電疲(pi)勞性能、鐵(tie)電保持(chi)性能的測(ce)試(shi)，電阻測(ce)量(liang)，漏電流測(ce)量(liang)。

10.可(ke)以配(pei)合ZJ-3和(he)ZJ-6型(xing)壓電測(ce)試(shi)儀操作(zuo)系(xi)統(tong)

PZT-JH10/4壓電極化(hua)裝(zhuang)置（10KV以下(xia)壓(ya)電陶瓷同(tong)時(shi)極化(hua)1-4片）

         PZT-JH10/4壓電極化(hua)裝(zhuang)置（10KV以下(xia)壓(ya)電陶瓷同(tong)時(shi)極化(hua)1-4片）

關(guan)鍵(jian)詞：壓電極化(hua)，壓(ya)電陶瓷材料(liao)，1-4片

主(zhu)要特點(dian)：

1.能夠同時極化(hua)1-4片試(shi)樣

2.提供(gong)多套測(ce)試(shi)夾具(ju)（可(ke)以測(ce)試(shi)粉(fen)末(mo)，單(dan)樣品，及薄的壓(ya)電陶瓷片）

2. 安(an)全(quan)可(ke)靠，溫度補償快(kuai)、恒溫(wen)精(jing)度(du)高(gao)

3. 每(mei)路(lu)當(dang)漏電流超過規(gui)定(ding)值時，都(dou)具有切(qie)斷(duan)保護(hu)功能(neng)，不影(ying)響其它樣片的極(ji)化(hua)，其(qi)它回路可(ke)按(an)正常(chang)極(ji)化(hua)時(shi)間完成(cheng)極化(hua)。

4. 任(ren)意(yi)夾持(chi)樣(yang)品尺(chi)寸(cun)為0-40mm片方型(xing)或是(shi)圓(yuan)型(xing)試(shi)樣

7、工作(zuo)電源：AC220V    50/60HZ

8、額定功率：2.0kw

9、壓電材料(liao)極(ji)化(hua)或(huo)耐壓測(ce)試(shi)：DC：0-10KV（±5％+2個字）連(lian)續(xu)可(ke)調(tiao)

10、總電流：10mA

11、每(mei)路(lu)切(qie)斷(duan)電流：0.5mA

12、加(jia)熱(re)時間：可(ke)以自動設定(ding)  

13、加(jia)熱(re)元件(jian) ：優質(zhi)電阻絲(si)

14、1次(ci)測(ce)試(shi)試(shi)樣數量(liang):可(ke)加(jia)載(zai)1-4片試(shi)樣

15、額定溫(wen)度(du) ：≤180℃

16、最(zui)高(gao)溫(wen)度(du) ：200℃

17、控溫方(fang)式(shi) ：智能化(hua)恒(heng)溫控(kong)制（進(jin)口(kou)表），多段(duan)程序(xu)可(ke)控

18、樣片 ：樣品尺(chi)寸(cun)為3-40mm片方型(xing)或是(shi)圓(yuan)型(xing)試(shi)樣

19、外形尺(chi)寸(cun) ：   875*470*400（mm)

20、極化(hua)探頭：優質(zhi)銅電極（0.2mm）

21、標(biao)準極(ji)化(hua)樣(yang)品：8片（10mm*1.5mm）

21、配套設(she)備(bei)裝置：能(neng)夠配合ZJ-3和(he)ZJ-6壓電測(ce)試(shi)儀進行(xing)測(ce)量(liang)

22、配套設(she)備(bei)裝置：可(ke)以配(pei)置(zhi)10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾具(ju)

DLT-01 Dielectric tester型(xing)介電測(ce)試(shi)儀

DLT-01 Dielectric tester型(xing)介電測(ce)試(shi)儀

關(guan)鍵(jian)詞：介電常(chang)數(shu)，諧(xie)振(zhen)頻(pin)率Fp，機電耦合系(xi)數(shu)Keff，機(ji)械品質(zhi)因素 Qm

     DLT-01 Dielectric tester型(xing)介電測(ce)試(shi)儀是壹(yi)款(kuan)多功能(neng)的介(jie)電測(ce)試(shi)儀，即可(ke)測(ce)試(shi)包(bao)括介電常(chang)數(shu)、介(jie)電損(sun)耗、電容等(deng)參數，又可(ke)以測(ce)量(liang)諧(xie)振(zhen)頻(pin)率Fs，反諧(xie)振頻(pin)率Fp，機電耦合系(xi)數(shu)   Keff，機械品質(zhi)因素 Qm，最(zui)大(da)導(dao)納Gmax等材料(liao)參數，為材料(liao)研(yan)究(jiu)測(ce)試(shi)提供(gong)第壹(yi)手(shou)原(yuan)始數據(ju)，提供(gong)元(yuan)整的數(shu)據(ju)圖(tu)，是高(gao)等(deng)院(yuan)校(xiao)，科(ke)研院(yuan)所(suo)及(ji)材料(liao)研(yan)究(jiu)生(sheng)產的重(zhong)要工具(ju),同(tong)時(shi)還(hai)可(ke)以配(pei)合高(gao)溫(wen)設(she)備(bei)，進(jin)行(xing)高(gao)溫(wen)設(she)備(bei)測(ce)試(shi)。

壹(yi)、主(zhu)要特點(dian)：

●自動平衡(heng)技術電橋(qiao)，測(ce)量(liang)準(zhun)確度高(gao)

●4端對開(kai)爾文(wen)測(ce)試(shi)端，測(ce)量(liang)範(fan)圍準確度高(gao)

●提供(gong)內部(bu)直(zhi)流(liu)偏(pian)壓(ya)-5V～+5V

●可(ke)選配內部(bu)±40V偏(pian)置(zhi)電壓源(yuan)

●簡體(ti)中文(wen)、英(ying)文(wen)操作(zuo)語(yu)言(yan)

●分檔測(ce)量(liang)、列(lie)表(biao)掃(sao)描(miao)、繪圖掃(sao)描(miao)、開(kai)路、短(duan)路(lu)、負載(zai)校(xiao)正等(deng)等(deng)功能(neng)

●配備電導(dao)率σ·介電常(chang)數(shu)ε的運(yun)算(suan)功能(neng)

●進行(xing)測(ce)試(shi)數據(ju)、測(ce)試(shi)條(tiao)件(jian)保存(cun)（U盤或內部(bu)）

●繪圖掃(sao)描(miao)圖像(xiang)直(zhi)接(jie)拷(kao)屏到U盤功能(neng)

●加(jia)強(qiang)的測(ce)試(shi)端保護(hu)功能(neng)

●USB、GPIB、RS232、LAN等上位(wei)機(ji)連接接口(kou)

二、主(zhu)要技術(shu)參數

1、頻(pin)率：20HZ-1MHZ,5MHZ,10MHZ,15MHZ,30MHZ，50MHZ多種可(ke)選

2、D33測(ce)試(shi)範(fan)圍：0-6000PC/N(選配ZJ-3型(xing)精(jing)密(mi)壓電系數(shu)測(ce)試(shi)儀)

5、基本精(jing)度(du) ：0.05%

6、測(ce)試(shi)電平: 5mV—2Vrms

7、輸出(chu)阻(zu)抗: 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

8、測(ce)試(shi)參數：D33，電容，介(jie)電常(chang)數(shu)，諧(xie)振(zhen)頻(pin)率Fs，反諧(xie)振頻(pin)率Fp，機電耦合系(xi)數(shu) Keff，機械品質(zhi)因素 Qm，最(zui)大(da)導(dao)納Gmax等

9、通(tong)道(dao)數(shu)：1通(tong)道(dao)

10、電極： 雙(shuang)面(mian)夾持(chi)探針

11、軟件(jian)：自動計算(suan)並輸出(chu)數(shu)據(ju)，軟件(jian)可(ke)根據(ju)實(shi)驗(yan)方案(an)設計，通(tong)過測(ce)量(liang)C和(he)D值，自動完成(cheng)介電常(chang)數(shu)和(he)介電損(sun)耗隨頻(pin)率、電壓、偏(pian)壓(ya)多維變化(hua)的曲(qu)線(xian)。