描(miao)述(shu)：BKTEM-Dx熱電材(cai)料(liao)性能測試儀是(shi)我(wo)國熱電材(cai)料(liao)的設備，是(shi)國(guo)家材(cai)料(liao)計劃中(zhong)前(qian)沿(yan)裝備其(qi)測試性(xing)能(neng)遠超(chao)越(yue)國(guo)內(nei)外(wai)熱電材(cai)料(liao)測試儀，不(bu)僅可以(yi)用於塊(kuai)體(ti)材(cai)料(liao)同(tong)時也(ye)可(ke)以(yi)用於薄(bo)材(cai)料(liao)的測試，是(shi)目(mu)前(qian)國(guo)內(nei)高(gao)等(deng)院(yuan)校(xiao)和材(cai)料(liao)研(yan)究所的重要設(she)備。

BKTEM-D1熱電性能(neng)分析(xi)系(xi)統(tong)

關(guan)鍵(jian)詞：熱電材(cai)料(liao)，Seebeck系數(shu)，電導(dao)率(lv)， 電阻(zu)率(lv)，V-1裝(zhuang)置(zhi)

產品(pin)介(jie)紹(shao)：     

BKTEM-Dx熱電材(cai)料(liao)性能測試儀是(shi)我(wo)國熱電材(cai)料(liao)的設備，是(shi)國(guo)家材(cai)料(liao)計劃中(zhong)前(qian)沿(yan)裝備其(qi)測試性(xing)能(neng)遠超(chao)越(yue)國(guo)內(nei)外(wai)熱電材(cai)料(liao)測試儀，不(bu)僅可以(yi)用於塊(kuai)體(ti)材(cai)料(liao)同(tong)時也(ye)可(ke)以(yi)用於薄(bo)材(cai)料(liao)的測試，是(shi)目(mu)前(qian)國(guo)內(nei)高(gao)等(deng)院(yuan)校(xiao)和材(cai)料(liao)研(yan)究所的重要設(she)備。

     對(dui)於(yu)熱電材(cai)料(liao)的研(yan)究，熱電性能(neng)測試是(shi)*的試驗(yan)數(shu)據。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系(xi)列可(ke)以(yi)精(jing)確地(di)測定(ding)半導(dao)體(ti)材(cai)料(liao)、金屬(shu)材(cai)料(liao)及其(qi)他熱電材(cai)料(liao)(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等(deng))及薄膜(mo)材(cai)料(liao)的Seebeck系數(shu)及電導(dao)率(lv)。主要原(yuan)理(li)和特點如(ru)下(xia):

該(gai)裝(zhuang)置由(you)高精(jing)度，高(gao)靈敏度溫(wen)度可(ke)控的電阻(zu)爐和控制溫(wen)度用的微型(xing)加熱源構(gou)成。通(tong)過(guo)PID程序控溫(wen)，采(cai)用四點法(fa)的方式精(jing)確測定(ding)半導(dao)體(ti)材(cai)料(liao)及熱電材(cai)料(liao)的Seebeck系數(shu)及電導(dao)率(lv)、電阻(zu)率(lv)。試樣(yang)與(yu)引(yin)線(xian)的接(jie)觸(chu)是(shi)否(fou)正常V-1裝(zhuang)置(zhi)可(ke)以(yi)自動(dong)檢出。

壹(yi)、適用範圍：

1、精(jing)確地(di)測定(ding)半導(dao)體(ti)材(cai)料(liao)、金屬(shu)材(cai)料(liao)及其(qi)他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢(wu)等(deng)金屬(shu)，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等(deng))的Seebeck系數(shu)及電導(dao)率(lv)、電阻(zu)率(lv)。

3、塊(kuai)體(ti)和薄膜(mo)材(cai)料(liao)測均可以(yi)測試。

4、試樣(yang)與(yu)引(yin)線(xian)的接(jie)觸(chu)是(shi)否(fou)正常V-1裝(zhuang)置(zhi)可(ke)以(yi)自動(dong)檢出。

5、擁有(you)自身(shen)分析(xi)軟(ruan)件(jian)，獨(du)立(li)分析(xi)，過(guo)程自動(dong)控制，界(jie)面友(you)好(hao)。

6、國(guo)內(nei)高(gao)等(deng)院(yuan)校(xiao)材(cai)料(liao)系研(yan)究或(huo)是(shi)熱電材(cai)料(liao)生(sheng)產單位。

7、汽車和燃(ran)油、能(neng)源(yuan)利用效率(lv)、替(ti)代(dai)能(neng)源(yuan)領域、熱電制冷(leng).
8、很多(duo)其(qi)他工(gong)業(ye)和研(yan)究領域-每年都會(hui)誕(dan)生(sheng)新的應(ying)用領域(yu).

二(er)、技術特(te)點：

·解(jie)決高溫(wen)下(xia)溫(wen)控精(jing)度不(bu)準的問(wen)題，靜態法(fa)測量更加直觀(guan)的了(le)解產品(pin)熱電材(cai)料(liao)的真正表征物理(li)屬(shu)性(xing)。

溫(wen)度檢測可采用J、K型(xing)熱電偶，降(jiang)低測試成(cheng)本(ben)。

每次(ci)可測試1-3個(ge)樣(yang)品(pin).
采用高級(ji)數(shu)據采(cai)集技術，避免(mian)電路板(ban)數(shu)據采(cai)集技術帶(dai)來(lai)的幹擾(rao)誤差(cha)，可(ke)控溫(wen)場(chang)下(xia)同(tong)步(bu)測量賽(sai)貝(bei)克系數(shu)和電阻(zu)率(lv)。
三(san)：主要技(ji)術：

測量溫(wen)度：室(shi)溫(wen)-600℃,800℃,1200℃ 可(ke)選(xuan)

同(tong)時測試樣(yang)品(pin)數(shu)量：1個，2個(ge)，3個(ge) 可選(xuan)

控溫(wen)精(jing)度：0.5K（溫(wen)度波(bo)動:≤±0.1℃）

測量原理：塞貝克系數(shu)：靜態直(zhi)流(liu)電；電阻(zu)系數(shu)：四端法(fa)

測量範圍：塞貝克系數(shu)：0.5μV/K_25V/K；電阻(zu)系數(shu)：0.2Ohm-2.5KOhm

分辨率(lv)：塞貝克系數(shu)：10nV/K;電阻(zu)系數(shu)： 10nOhm

測量精(jing)度：塞貝克系數(shu)：＜±6％；電阻(zu)系數(shu)：＜±5％

樣品尺(chi)寸：塊(kuai)體(ti)方條(tiao)形(xing)：2-3×2-3 mm×10-23mm長(chang)，薄(bo)膜(mo)材(cai)料(liao)：≥50 nm

熱電偶導(dao)距(ju): ≥6 mm

電   流: 0 to 200 Ma

氣(qi)   氛(fen)：0 to 160 mA

加熱電極相(xiang)數(shu)/電壓(ya)：單相(xiang)，220V，

夾(jia)具接(jie)觸(chu)熱阻(zu)：≤0.05 m2K/W

溫(wen)度檢測：采用J、K型(xing)熱電偶