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廠商(shang)性質(zhi)
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2025-12-01訪問量(liang)
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詳細(xi)介紹(shao)
| 品(pin)牌(pai) | 東碩(shuo)電氣(qi) | 產地類(lei)別 | 國(guo)產(chan) |
|---|---|---|---|
| 應(ying)用領域 | 電子(zi)/電池,鋼鐵(tie)/金(jin)屬(shu),航空航天(tian),電氣(qi) |
BJJK-05A粉末材料電阻率(lv)測試儀


關鍵詞:電阻率(lv), 粉(fen)末,四(si)探針
壹、產品(pin)概(gai)述
BJJK-05A粉末材料電阻率(lv)測試儀是運用四(si)端子(zi)法或四(si)探針法測試粉末(mo)電阻率(lv)的測量(liang)儀器,該(gai)儀器采(cai)用通(tong)用(yong)的電流(liu)、電壓(ya)四(si)端子(zi)測量(liang)法(儀器電流(liu)源(yuan)和(he)電壓(ya)表兩個(ge)單元(yuan)分別(bie)從(cong)獨(du)立回(hui)路(lu)連至(zhi)電極(ji)同時和(he)樣品(pin)接觸),可以消除電極(ji)與連接導(dao)線導(dao)通電阻產(chan)生(sheng)的誤差,克服了(le)傳統(tong)的二端法測量(liang)粉(fen)末(mo)電阻率(lv)儀器的弊病,可以真(zhen)實地測量(liang)出粉末(mo)樣品(pin)的電阻率(lv),因(yin)此(ci)重(zhong)復性也(ye)好。符合GB/T 24521-2009和(he)YS/T 587.6-2006有關(guan)國(guo)標和(he)行業標準。產(chan)品(pin)設(she)計符合國標和(he)行業規範,國(guo)內。
二、主要應用(yong)領域:
三、產品(pin)符合:
1.符合GBT 30835-2014《鋰(li)離(li)子(zi)電池用炭(tan)復合磷酸鐵(tie)鋰(li)正(zheng)極材(cai)料》中(zhong)關(guan)於粉(fen)末電阻率(lv)測試的原理(li)和(he)規範
2.GB/T 1551-2009 《矽(gui)單(dan)晶(jing)電阻率(lv)測定(ding)方(fang)法》
3.GB/T 1552-1995《矽(gui)、鍺單(dan)晶(jing)電阻率(lv)測定(ding)直流(liu)四探針法》並參(can)考美(mei)國(guo)A.S.T.M 標準。
四、產品(pin)特點:
1. 整個系(xi)統(tong)電氣(qi)控制(zhi)顯示(shi)核(he)心(xin)部分,主要由(you)精(jing)密恒流(liu)源(yuan)、高(gao)分辨率ADC、嵌(qian)入(ru)式單(dan)片機(ji)系(xi)統(tong)單(dan)元以及(ji)壓(ya)力(li)厚度顯示(shi)單(dan)元(yuan)組(zu)成(cheng)。
2. 粉末測試臺(tai) 是(shi)連(lian)接測試主機(ji),用(yong)來(lai)裝(zhuang)夾(jia)半(ban)導(dao)體(ti)粉末(含高分子(zi)粉末(mo)和(he)金(jin)屬(shu)粉末(mo)等),進行壓(ya)力(li)施(shi)加(jia)(壓(ya)片),並同步(bu)進行電阻率(lv)測試的裝(zhuang)置(zhi)(以下簡(jian)稱測試臺(tai))同步(bu)壓(ya)力(li)連續(xu)測試粉末(mo)“電阻率(lv)-壓(ya)強曲線,”。
3. 配(pei)有成(cheng)套PC軟(ruan)件(jian),故(gu)不(bu)但(dan)可(ke)以單獨(du)(脫(tuo)機(ji))操作,還可以連接PC軟(ruan)件(jian),自(zi)動(dong)保存(cun)當前(qian)測試數(shu)據(ju)、查詢並統(tong)計(ji)分析歷史(shi)數(shu)據(ju)、打印測試報告等!
4.儀器所有參(can)數(shu)設(she)定(ding)、功能轉換(huan)全(quan)部采(cai)用(yong)數(shu)字化鍵盤(pan)輸(shu)入(ru);具(ju)有零(ling)位、滿度自(zi)校(xiao)功能;電壓(ya)電流(liu)全(quan)自(zi)動(dong)轉換(huan)量(liang)程(cheng);測試結果(guo)由(you)數(shu)字表頭直接顯示(shi)。
5. 可壹邊(bian)加(jia)壓(ya)壹邊(bian)同步(bu)測試電阻率(lv),可(ke)方便(bian)測繪(hui)粉末樣品(pin)“電阻率(lv)-壓(ya)強”的性能曲線;也(ye)可以單獨(du)作為(wei)粉(fen)末(mo)壓(ya)制(zhi)成(cheng)片的工具使用,成(cheng)片後(hou)可脫(tuo)模(mo)取(qu)出,用普通(tong)四(si)探針法測試相(xiang)關參(can)數(shu)!
五、主要技術(shu)參(can)數(shu)
1. 電阻率(lv)測量(liang)範(fan)圍(wei)、分辨率
電 阻 率(lv): 15.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.5×10-6 ~ 0.1×103 Ω-cm
(1.0×10-6 ~ 200.0×101 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ~ 0.1×101 Ω-cm)
2. 電阻率(lv)量(liang)程(cheng)劃(hua)分及(ji)誤差等級(ji)
滿度顯示(shi) | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | |
拓展量(liang)程(cheng) | KΩ-cm | Ω-cm | mΩ-cm | ||||||
基本誤差 | ±2%讀數(shu)±4字 | ±1.5%讀數(shu)±4字 | ±0.5%讀數(shu) ±2字 | ±0.5%讀數(shu) ±4字 | |||||
3. 數(shu)字電壓(ya)表:
⑴量(liang)程(cheng):10mV ~ 100 mV,自(zi)動(dong)
⑵顯示(shi): 4位有效(xiao)數(shu)字,顯示(shi)999.9 小(xiao)數(shu)點(dian)、單位自(zi)動(dong)顯示(shi)
4. 數(shu)控恒流(liu)源(yuan)
電流(liu)輸(shu)出:直流(liu)電流(liu)0.1µA~1000mA可(ke)調(tiao),系(xi)統(tong)自(zi)動(dong)步(bu)進調整。
5.粉末測試臺(tai)部分參(can)數(shu):
(1)試樣成(cheng)份(fen):成(cheng)份(fen)不(bu)限(xian),但(dan)不(bu)得(de)含有對(dui)測試臺(tai)和(he)電極(ji)有腐蝕作用的成(cheng)份(fen)。
(2)試樣粒(li)度:標準以40目以下—60目以上(標準篩(shai)網),壹般其他粒度也(ye)可!
(3)試樣容(rong)器:內徑:Φ11.28mm(S=1.0cm2)
高 度:0~20mm可(ke)調(tiao),帶高(gao)度傳感器監(jian)測,測量(liang)誤差:±0.05mm。
(4)測試壓(ya)強:
標準壓(ya)強:P0=4Mpa±0.05Mpa。
壓(ya)強量(liang)程(cheng):20Mpa, P=0~20 Mpa可(ke)調(tiao)。
(5)壓(ya)力(li)機構采用手(shou)動操作、壓(ya)力(li)平穩(wen)可(ke)調。
四位有效(xiao)顯示(shi)數(shu)00.00~20.00MPa,分別(bie)率(lv)±0.01 MPa。
6.測試儀外形(xing)與重量(liang)
體(ti) 積:250mm×220 mm×540mm
重 量(liang):10Kg
7. 電源(yuan):
功 耗:< 10W
輸 入(ru):220V±10% 50Hz
8. 本儀器工(gong)作條(tiao)件(jian)為(wei):
溫 度:0-40℃
相(xiang)對濕度:≥60%
工作室內應無(wu)強電磁(ci)場(chang)幹(gan)擾,不(bu)與高頻(pin)設(she)備(bei)共(gong)用電源(yuan)。

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