HLDT-400型(xing)高低溫(wen)介(jie)電(dian)溫(wen)譜測試儀(yi)適用(yong)於電(dian)介(jie)質(zhi)材(cai)料介(jie)電(dian)溫(wen)譜、阻抗譜、頻譜(pu)掃(sao)描的(de)測試。系統(tong)軟(ruan)件將高低溫(wen)測試箱(xiang)、高低溫(wen)測試夾具(ju)、多通道切(qie)換器(qi)、阻抗分(fen)析(xi)儀(yi)等(deng)設(she)備無(wu)縫連接(jie)，測量在(zai)不(bu)同溫(wen)度、不(bu)同(tong)測試頻率(lv)下(xia)電(dian)容(rong)(C)、阻抗(Z)、相位(wei)角(θ)、損耗(hao)(D)等(deng)參數(shu)，通過計算(suan)獲(huo)得復(fu)介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)、電(dian)模量(liang)等(deng)參數(shu)，直(zhi)接得出(chu)材料的(de)介(jie)電(dian)溫(wen)譜、頻譜(pu)、阻抗譜、電模量(liang)、Cole-Cole等(deng)圖(tu)譜，壹次測量，同時(shi)輸(shu)出(chu)，測量效率(lv)高，數據

HTIM-1000高溫(wen)絕緣(yuan)電(dian)阻測試儀(yi) 儀(yi)器簡介(jie)： 高溫(wen)絕緣(yuan)電(dian)阻測試儀(yi)器運(yun)用(yong)三(san)電極法設(she)計原理測量。利用(yong)三(san)電極測試系統(tong)，重(zhong)復(fu)性(xing)與穩定(ding)性(xing)好(hao)，提高了夾具的(de)抗擾能(neng)力(li)，同時大大提高準確度也(ye)可(ke)應(ying)用於產(chan)品檢(jian)測以及(ji)新(xin)材(cai)料電學研(yan)究等(deng)用(yong)途。 高溫(wen)電阻率測試儀(yi)采(cai)用(yong)自(zi)主(zhu)開發(fa)電子保護系統(tong)，提高了設(she)備的(de)an全性；選用熱(re)電(dian)偶(ou)保(bao)定(ding)溫(wen)度的(de)采(cai)集(ji)有(you)效值(zhi)、采(cai)用(yong)的(de)SPWM電(dian)子升壓(ya)技(ji)術(shu)，電壓(ya)輸(shu)出(chu)穩定(ding)性(xing)好(hao)。配備電壓、電流傳(chuan)感器(qi)以(yi)

HTIM-1600超高溫(wen)絕緣(yuan)電(dian)阻測試儀(yi)采(cai)用(yong)使用(yong)方法多樣(yang)化(hua)，最(zui)大2000V，最快(kuai)6.4ms的(de)采(cai)集(ji)系統(tong)，實現了是以(yi)往產(chan)品300倍的(de)抗幹(gan)擾(rao)功能(neng)最(zui)快6.4ms的(de)高速(su)測量，作為皮(pi)安(an)表(biao)使用(yong)進(jin)行低電(dian)容(rong)檢(jian)查(zha)，最高2×10^19 Ω顯示，最(zui)小(xiao)0.1fA分(fen)辨率(lv)標(biao)配(pei)EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自(zi)行設(she)計的(de)懸浮(fu)式電(dian)路，能(neng)不(bu)受測量環境(jing)影響進(jin)行穩(wen)定(ding)測量，並且(qie)運用(yong)在(zai)產(chan)線(xian)中(zhong)實現高速(su)測量。可(ke)實現絕緣(yuan)材(cai)料

TFRT-300型(xing)薄(bo)膜變(bian)溫(wen)電阻測試儀(yi)是壹款(kuan)多用途(tu)的(de)電(dian)阻測試儀(yi)，即(ji)可(ke)應(ying)用於金(jin)屬(shu)、半導體、導(dao)電高分(fen)子薄(bo)膜（或塊(kuai)材(cai)）電(dian)阻率和磁(ci)阻的(de)測量，也(ye)可(ke)以(yi)應用(yong)於鐵磁(ci)/非鐵磁(ci)/鐵磁(ci)三(san)層或多層薄(bo)膜的(de)磁(ci)電阻測量，是研(yan)究薄(bo)膜材料電阻和磁(ci)阻變(bian)化特(te)性的(de)重(zhong)要(yao)儀(yi)器，對於先進(jin)材料應用和(he)開發(fa)有著重要(yao)意(yi)義。

HTIM-1001A高溫(wen)電阻測試儀(yi)采(cai)用(yong)四(si)端測量方法在(zai)高溫(wen)環境(jing)下(xia)對導(dao)電及(ji)半導電(dian)材(cai)料的(de)電(dian)阻進(jin)行評(ping)估(gu)，適用(yong)於生(sheng)產(chan)企業、高等(deng)院校、科研(yan)部(bu)門(men)，是檢(jian)驗(yan)和(he)分(fen)析(xi)導體材(cai)料和半導體材(cai)料在(zai)高溫(wen)、真(zhen)空(kong)及(ji)氣(qi)氛(fen)條(tiao)件下(xia)測量的(de)壹種(zhong)重(zhong)要(yao)的(de)工(gong)具(ju)。本儀(yi)器配(pei)置(zhi)各類(lei)測量裝置可(ke)以(yi)測試不同(tong)材(cai)料，液晶(jing)顯示，無(wu)需人工(gong)計算(suan)，並帶有溫(wen)度補(bu)償(chang)功能(neng)。

HTIM-1000A高溫(wen)電阻測試儀(yi)采(cai)用(yong)四(si)端測量方法在(zai)高溫(wen)環境(jing)下(xia)對導(dao)電及(ji)半導電(dian)材(cai)料的(de)電(dian)阻進(jin)行評(ping)估(gu)，適用(yong)於生(sheng)產(chan)企業、高等(deng)院校、科研(yan)部(bu)門(men)，是檢(jian)驗(yan)和(he)分(fen)析(xi)導體材(cai)料和半導體材(cai)料在(zai)高溫(wen)、真(zhen)空(kong)及(ji)氣(qi)氛(fen)條(tiao)件下(xia)測量的(de)壹種(zhong)重(zhong)要(yao)的(de)工(gong)具(ju)。本儀(yi)器配(pei)置(zhi)各類(lei)測量裝置可(ke)以(yi)測試不同(tong)材(cai)料。液晶(jing)顯示，無(wu)需人工(gong)計算(suan)，並帶有溫(wen)度補(bu)償(chang)功能(neng)。采(cai)用(yong)芯(xin)片控(kong) AD制，恒流輸(shu)出(chu)，結構合理、質(zhi)量(liang)輕便，配(pei)備 英寸觸摸(mo)屏(ping)， 10軟(ruan)件可(ke)保(bao)存和打(da)印數(shu)據，自(zi)動生(sheng)成