描(miao)述：HTIM-1001A高(gao)溫(wen)電阻測試儀采(cai)用四端測量方法在(zai)高(gao)溫(wen)環境下(xia)對(dui)導(dao)電及(ji)半導(dao)電材(cai)料(liao)的(de)電阻進行(xing)評(ping)估(gu)，適(shi)用於生產企(qi)業(ye)、高(gao)等院校(xiao)、科研(yan)部門，是(shi)檢驗和(he)分(fen)析導(dao)體(ti)材(cai)料(liao)和(he)半導(dao)體(ti)材(cai)料(liao)在(zai)高(gao)溫(wen)、真空及(ji)氣(qi)氛(fen)條(tiao)件下(xia)測(ce)量(liang)的(de)壹(yi)種(zhong)重(zhong)要的(de)工具(ju)。本(ben)儀器(qi)配置各(ge)類(lei)測(ce)量裝置可以測(ce)試(shi)不同材(cai)料(liao)，液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)，無(wu)需(xu)人(ren)工(gong)計(ji)算，並帶(dai)有溫(wen)度(du)補(bu)償功能。

HTIM-1001A高(gao)溫(wen)電阻測試儀介紹(shao)：

關鍵(jian)詞(ci)：高(gao)溫(wen)電阻，高(gao)溫(wen)電阻率，電導(dao)率(lv)。

HTIM-1000A高(gao)溫(wen)電阻測試儀采(cai)用四端測量方法在(zai)高(gao)溫(wen)環境下(xia)對(dui)導(dao)電及(ji)半導(dao)電材(cai)料(liao)的(de)電阻進行(xing)評(ping)估(gu)，適(shi)用於生產企(qi)業(ye)、高(gao)等院校(xiao)、科研(yan)部門，是(shi)檢驗和(he)分(fen)析導(dao)體(ti)材(cai)料(liao)和(he)半導(dao)體(ti)材(cai)料(liao)在(zai)高(gao)溫(wen)、真空及(ji)氣(qi)氛(fen)條(tiao)件下(xia)測(ce)量(liang)的(de)壹(yi)種(zhong)重(zhong)要的(de)工具(ju)。本(ben)儀器(qi)配置各(ge)類(lei)測(ce)量裝置可以測(ce)試(shi)不同材(cai)料(liao)，液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)，無(wu)需(xu)人(ren)工(gong)計(ji)算，並帶(dai)有溫(wen)度(du)補(bu)償功能。采(cai)用芯片控(kong)AD制(zhi)，恒(heng)流輸(shu)出，結構合理(li)、質(zhi)量輕(qing)便(bian)，配備(bei)英(ying)寸(cun)觸摸(mo)屏，10軟(ruan)件可保存(cun)和打(da)印(yin)數(shu)據(ju)，自(zi)動生成報(bao)表。本(ben)儀器(qi)可顯示(shi)電阻、溫(wen)度(du)、單位(wei)換(huan)算、溫(wen)度(du)系(xi)數(shu)、電流、電壓(ya)配(pei)置不同的(de)測試(shi)治具可以滿(man)足不(bu)同材(cai)料(liao)的(de)測試(shi)要求，測試治具(ju)可以根據產品(pin)及(ji)測試(shi)項(xiang)目要求選購(gou)。

高(gao)溫(wen)加熱(re)大(da)都(dou)為(wei)管式(shi)爐或馬(ma)弗爐，原理(li)為(wei)加熱(re)絲(si)或矽(gui)碳(tan)棒(bang)對(dui)爐體加(jia)熱(re)，加熱與降(jiang)溫(wen)速度(du)慢，效(xiao)率低下(xia)，這(zhe)種(zhong)方式也(ye)易(yi)存(cun)在感(gan)應電流，無(wu)法(fa)實(shi)現(xian)溫(wen)度(du)的(de)測量(liang)，也(ye)加(jia)熱(re)區(qu)域(yu)也(ye)存(cun)在不(bu)均(jun)勻的(de)現象。本(ben)設(she)備(bei)在高(gao)速加熱(re)高(gao)速冷卻時，具(ju)有(you)良好(hao)的(de)溫(wen)度(du)分布(bu)。可實現(xian)寬(kuan)域(yu)均(jun)熱區(qu)，高(gao)速加熱(re)、高(gao)速冷卻，用石英(ying)管(guan)保護(hu)加熱(re)式樣，無(wu)氣(qi)氛(fen)汙(wu)染(ran)。可在高(gao)真空，高(gao)出純(chun)度(du)氣(qi)體(ti)中加熱(re) ，大(da)大(da)提(ti)高(gao)確(que)度(du)，也(ye)可應用於產品檢(jian)測以(yi)及(ji)新材(cai)料(liao)電學(xue)研究等(deng)用途。

HTIM-1000A高(gao)溫(wen)電阻測試儀搭配(pei)系(xi)統開發(fa)的(de)軟(ruan)件，具(ju)備(bei)彈(dan)性的(de)自(zi)定義(yi)功能，可進行(xing)電壓(ya)、電流、溫(wen)度(du)、時間(jian)等(deng)設置，符(fu)合導(dao)體(ti)、半(ban)導(dao)體(ti)材(cai)料(liao)與其(qi)它新材(cai)料(liao)測(ce)試多樣化(hua)的(de)需求。

高(gao)溫(wen)低電阻測試儀可實現(xian)高(gao)溫(wen)下的(de)勻速、階(jie)梯、降(jiang)溫(wen)下的(de)全溫(wen)度(du)範圍的(de)測試(shi)；可實現(xian)小(xiao)於±0 .25℃溫(wen)度(du)測量(liang)誤差(cha)（限反(fan)射(she)爐）。

HTIM-1000A高(gao)溫(wen)電阻測試儀優(you)勢(shi)：

1、整(zheng)體(ti)為(wei)桌面(mian)型設(she)計(ji)，采(cai)用紅外燈(deng)加(jia)熱(re)，無(wu)保(bao)溫(wen)爐膛結構，滿(man)足實(shi)驗室(shi)無(wu)灰(hui)塵(chen)排(pai)放(fang)的(de)要求。

2、內置(zhi)工控(kong)機、觸(chu)摸(mo)屏，可以利(li)用工控(kong)機設(she)定(ding)加(jia)熱曲線(xian)，並實(shi)現(xian)和其(qi)他測試(shi)設(she)備的(de)集(ji)成控(kong)制(zhi)。

3、定(ding)點控(kong)溫(wen)模式(shi)下，可以將(jiang)樣品(pin)10s內加(jia)熱到1000攝(she)氏度(du)。

4、控(kong)溫(wen)加熱(re)下，可以5度(du)/s速率下(xia)線(xian)性加熱(re)到1000攝(she)氏度(du)。

5、在1000度(du)下可以連(lian)續(xu)工作時(shi)間(jian)不(bu)低於1小時。

6、采(cai)用鉑(bo)銠(lao)熱(re)電偶(ou)直接(jie)測定(ding)樣(yang)品(pin)附近溫(wen)度(du)。

7、樣品(pin)可以工(gong)作(zuo)在大(da)氣(qi)、真(zhen)空、氣(qi)氛(fen)環境下(xia)加熱。

8、配備真(zhen)空泵(beng)，水(shui)冷設備，配(pei)備(bei)超溫(wen)、缺水(shui)、過流等(deng)報(bao)警保(bao)護裝(zhuang)置。

9、溫(wen)度(du)均(jun)勻區(qu)：60mm*100mm。

10、高(gao)溫(wen)低電阻測試系(xi)統軟(ruan)件將(jiang)高(gao)溫(wen)測試(shi)平(ping)臺(tai)、高(gao)溫(wen)測試(shi)夾具(ju)與keithley（吉(ji)時利）系(xi)列、2400、2450、2600 系(xi)列源(yuan)表測量(liang)設(she)備(bei)無(wu)縫連(lian)接(jie)。

高(gao)溫(wen)低電阻測試儀硬件配(pei)置(zhi)：

█集(ji)成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ雙核處(chu)理(li)器

█集(ji)成打(da)機印(yin)接(jie)口(kou)，可擴充8個USB接(jie)口(kou)

█支(zhi)持16G內存(cun)，60G固(gu)態硬盤(pan)，讓(rang)系(xi)統運(yun)行(xing)流暢

軟(ruan)件功能：

測(ce)試(shi)系(xi)統的(de)軟(ruan)件平(ping)臺(tai)采(cai)用labview系(xi)統開發(fa)，符(fu)合絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)的(de)各項(xiang)測試(shi)需(xu)求，具備的(de)穩定(ding)性，並具(ju)備(bei)斷電資(zi)料(liao)的(de)保存(cun)功能，圖像(xiang)資料(liao)也(ye)可保存(cun)恢(hui)復。兼(jian)容(rong)XP、win7、win10系(xi)統

█多語(yu)介面(mian)：支持(chi)中文(wen)/英(ying)文(wen)兩種(zhong)語(yu)言界面(mian)

█即(ji)時(shi)監(jian)控(kong)：系(xi)統測(ce)試(shi)狀態(tai)即(ji)時(shi)瀏覽，無(wu)須等待(dai)

█圖例管(guan)理：通過(guo)軟(ruan)件中(zhong)的(de)狀態(tai)圖示(shi)，壹(yi)目(mu)了(le)然(ran)，立即(ji)對(dui)狀態(tai)說(shuo)明，了(le)解(jie)測(ce)試(shi)狀態(tai)

█使(shi)用權限：可設定(ding)使(shi)用者(zhe)的(de)權限，方便(bian)管理(li)

█故(gu)障狀態(tai)：軟(ruan)件具(ju)有(you)設(she)備的(de)故障(zhang)報(bao)警功能

HTIM-1001A高(gao)溫(wen)電阻測試儀特(te)點：

1、高(gao)速加熱(re)與冷卻方式：

高(gao)能量(liang)的(de)紅外(wai)燈(deng)和(he)鍍(du)金反(fan)射(she)方式允(yun)許高(gao)速加熱(re)到高(gao)溫(wen)。同時(shi)爐體可配置(zhi)水(shui)冷系(xi)統，增(zeng)設(she)氣(qi)體(ti)冷卻裝置(zhi)，可實現(xian)快(kuai)速冷卻。

2、溫(wen)度(du)控(kong)制(zhi)：

過(guo)紅(hong)外鍍金聚(ju)焦(jiao)爐和溫(wen)度(du)控(kong)制(zhi)器(qi)的(de)組合使(shi)用，可以控(kong)制(zhi)樣(yang)品(pin)的(de)溫(wen)度(du)(遠(yuan)比普通(tong)加(jia)溫(wen)方式)。此(ci)外，冷卻速度(du)和保(bao)持在任何溫(wen)度(du)下可提(ti)供(gong)。

3、不同環境下(xia)的(de)加熱(re)與冷卻：

加熱(re)/冷卻可用真空、氣(qi)氛(fen)環境、低溫(wen)（高(gao)純(chun)度(du)惰性氣(qi)體(ti)，靜(jing)態(tai)或(huo)流動(dong)），操作(zuo)簡單，使用石英(ying)玻璃制成。紅外(wai)線(xian)可傳(chuan)送(song)到加(jia)熱/冷卻室。

產(chan)品(pin)應用：

█多晶(jing)矽(gui)材(cai)料(liao)

█石(shi)墨功能材(cai)料(liao)

█導(dao)電功能薄(bo)膜材(cai)料(liao)

█導(dao)電玻璃（ito）材(cai)料(liao)

█石(shi)墨烯材(cai)料(liao)

█半(ban)導(dao)體(ti)材(cai)料(liao)

█鍺(zhe)類(lei)功能材(cai)料(liao)

█柔性透(tou)明(ming)導(dao)電薄(bo)膜

█其(qi)它導(dao)電材(cai)料(liao)等(deng)

功能特(te)點：

█多功能真(zhen)空加(jia)熱爐，壹(yi)體(ti)爐膛設(she)計(ji)、可實現(xian)高(gao)溫(wen)、真空、氣(qi)氛(fen)環境下(xia)進行(xing)測試

█采(cai)用鉑(bo)材(cai)料(liao)作(zuo)為(wei)導(dao)線(xian)、以(yi)減少信號(hao)衰減、提(ti)高(gao)測試精(jing)度(du)

█可以測(ce)量(liang)半導(dao)體(ti)薄(bo)膜材(cai)、薄(bo)片材(cai)料(liao)的(de)電阻、電阻率

█可實現(xian)常(chang)溫(wen)、變溫(wen)、恒溫(wen)條(tiao)件的(de)I-V、R-T等測(ce)量功能

█溫(wen)度(du)傳(chuan)感器(qi)、PID自(zi)動溫(wen)度(du)控(kong)制(zhi)，使(shi)測(ce)量溫(wen)度(du)精準

█儀器(qi)可自(zi)動計算(suan)試樣的(de)電阻率pv

█10寸觸摸(mo)屏設計(ji)，壹(yi)體(ti)化(hua)設計(ji)機械(xie)結構，穩定(ding)、可靠

█程(cheng)控(kong)電子(zi)升(sheng)壓技術，紋(wen)波(bo)低、TVS防護系(xi)統，保(bao)證(zheng)儀器(qi)性

█99氧化(hua)鋁陶瓷絕緣(yuan)、碳(tan)化(hua)鎢探針

█自(zi)動分析控(kong)制(zhi)分(fen)析軟(ruan)件

技(ji)術參(can)數(shu)：

1、溫(wen)度(du)範圍：室(shi)溫(wen)-1200℃, （反(fan)射(she)爐加溫(wen) ）配水(shui)冷機

2、控(kong)溫(wen)精度(du)：（溫(wen)控(kong)Z高(gao)） ±0.5℃

3、測量精(jing)度(du)： ±0.25℃

4、升溫(wen)斜率：20℃/min （可設定(ding)）

5、降(jiang)溫(wen)斜率：1-200℃/min ( 自(zi)調整(zheng)）

6、測(ce)量(liang)精(jing)度(du)：0.5%

7、樣品(pin)規格(ge)：直徑(jing)：20mm以(yi)內；厚(hou)度(du)：5mm以內

8、電極(ji)材(cai)料(liao)：鉑(bo)金

9、測量方式：2線(xian)- 4線(xian)測量方式

10、測(ce)量(liang)範圍：0.1uΩ-100MΩ

11、供(gong)電：220V±10%，50Hz

12、工(gong)作(zuo)環境：0℃-55℃

13、存(cun)儲條(tiao)件：-40℃-70℃

14、尺(chi)寸(cun)：850mmX750mmX450mm

15、重(zhong)量(liang)：30kg

主要參(can)數(shu)：