描(miao)述(shu)：HLDT-400型高(gao)低溫(wen)介電(dian)溫(wen)譜(pu)測(ce)試(shi)儀(yi)適(shi)用(yong)於電(dian)介質(zhi)材料介電(dian)溫(wen)譜(pu)、阻抗(kang)譜(pu)、頻譜(pu)掃描(miao)的測(ce)試(shi)。系統(tong)軟(ruan)件將高(gao)低(di)溫(wen)測(ce)試(shi)箱(xiang)、高低(di)溫測(ce)試(shi)夾具、多(duo)通道切(qie)換器(qi)、阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀(yi)等(deng)設(she)備(bei)無(wu)縫連(lian)接，測(ce)量(liang)在不(bu)同(tong)溫(wen)度(du)、不(bu)同(tong)測(ce)試(shi)頻率下電容(C)、阻抗(Z)、相(xiang)位角(jiao)(θ)、損耗(hao)(D)等(deng)參數(shu)，通過計算(suan)獲(huo)得(de)復介電(dian)常數(shu)、電(dian)模(mo)量(liang)等(deng)參數(shu)，直(zhi)接得(de)出(chu)材(cai)料的(de)介電(dian)溫(wen)譜(pu)、頻譜(pu)、阻抗(kang)譜(pu)、電模(mo)量(liang)、Cole-Cole等(deng)圖譜(pu)，壹次(ci)測(ce)量(liang)，同(tong)時(shi)輸出，測(ce)量(liang)效(xiao)率高，數(shu)據(ju)

HLDT-400型高(gao)低(di)溫(wen)介電(dian)溫(wen)譜(pu)測(ce)試(shi)儀(yi)

   關鍵(jian)詞(ci)：介電(dian)，頻譜(pu)、阻抗(kang)譜(pu)、電模(mo)量(liang),高溫(wen)

產(chan)品(pin)介紹(shao)：

HLDT-400型高(gao)低(di)溫(wen)介電(dian)溫(wen)譜(pu)測(ce)試(shi)儀(yi)適用(yong)於電(dian)介質(zhi)材料介電(dian)溫(wen)譜(pu)、阻抗(kang)譜(pu)、頻譜(pu)掃描(miao)的測(ce)試(shi)。系統(tong)軟(ruan)件將高(gao)低(di)溫(wen)測(ce)試(shi)箱(xiang)、高低(di)溫測(ce)試(shi)夾具、多(duo)通道切(qie)換器(qi)、阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀(yi)等(deng)設(she)備(bei)無(wu)縫連(lian)接，測(ce)量(liang)在不(bu)同(tong)溫(wen)度(du)、不(bu)同(tong)測(ce)試(shi)頻率下電容(C)、阻抗(kang)(Z)、相(xiang)位角(jiao)(θ)、損耗(hao)(D)等(deng)參數(shu)，通過計算(suan)獲(huo)得(de)復介電(dian)常數(shu)、電(dian)模(mo)量(liang)等(deng)參數(shu)，直(zhi)接得(de)出(chu)材(cai)料的(de)介電(dian)溫(wen)譜(pu)、頻譜(pu)、阻抗(kang)譜(pu)、電模(mo)量(liang)、Cole-Cole等(deng)圖譜(pu)，壹次(ci)測(ce)量(liang)，同(tong)時(shi)輸出，測(ce)量(liang)效(xiao)率高，數(shu)據(ju)圖標(biao)豐富多樣。

兼容(rong)安(an)捷倫(lun)、是德(de)、穩(wen)科、益和(he)、同(tong)惠(hui)等(deng)品牌(pai)的阻抗分(fen)析儀(yi)或LCR表；同(tong)時(shi)具有單通道和(he)4通道測(ce)量(liang)模(mo)式(shi)，單(dan)通道模(mo)式(shi)適(shi)用(yong)於追(zhui)求(qiu)超高精(jing)度(du)測(ce)量(liang)結果(guo)的場(chang)合(he)，4通道模(mo)式(shi)適(shi)用(yong)於追(zhui)求(qiu)測(ce)試(shi)效(xiao)率和較高(gao)精(jing)度(du)測(ce)量(liang)結果(guo)的場(chang)合(he)，並可(ke)實現同(tong)環(huan)境(jing)對(dui)比(bi)電(dian)性(xing)能；樣品腔(qiang)預留(liu)接入(ru)氣(qi)體(ti)接口，可(ke)實現惰性(xing)氣(qi)氛的(de)環(huan)境(jing)測(ce)量(liang)；可(ke)為(wei)多個樣品提供均勻(yun)分(fen)布(bu)的(de)溫(wen)度(du)場(chang)，實現J確的溫(wen)度(du)控(kong)制(zhi)和測(ce)量(liang)，0 ℃測(ce)試(shi)數(shu)據(ju)無(wu)水峰(feng)。

配置(zhi)的(de)高(gao)低溫測(ce)試(shi)箱(xiang)，以(yi)液氮(dan)為(wei)制冷(leng)劑(ji)，以(yi)電阻絲為(wei)加(jia)熱元(yuan)件，采用(yong)T型熱(re)電(dian)偶(ou)和可(ke)編(bian)程(cheng)溫度(du)控(kong)制(zhi)器(qi)。爐(lu)膛采(cai)用(yong)全(quan)金屬(shu)爐(lu)膛，高(gao)溫(wen)可(ke)達400℃，低溫可(ke)達-180℃，控溫精(jing)度(du)±0.1℃；同(tong)時(shi)設(she)有通氣(qi)接口，可(ke)用(yong)於惰(duo)性(xing)氣(qi)體(ti)下使(shi)用(yong)。具有溫度(du)場(chang)均(jun)衡、控溫準、升降(jiang)溫速(su)率(lv)快(kuai)等(deng)優點。

配置(zhi)的(de)高(gao)低溫測(ce)試(shi)夾具，內(nei)置1～5根(gen)高低(di)溫測(ce)試(shi)探(tan)針(zhen)，測(ce)試(shi)時(shi)，系統(tong)軟(ruan)件控制(zhi)多(duo)通道切(qie)換器(qi)分(fen)時(shi)復用(yong)阻抗(kang)分(fen)析儀(yi)，實現1～ 5個通道同(tong)步(bu)、同(tong)環(huan)境(jing)對(dui)比(bi)電(dian)性(xing)能測(ce)試(shi)，提(ti)高(gao)測(ce)試(shi)效(xiao)率.

產(chan)品(pin)優勢(shi)：測(ce)量(liang)精(jing)度(du)高(gao)，控(kong)溫準，溫(wen)度(du)場(chang)均(jun)勻(yun)分(fen)布(bu)，0 ℃測(ce)試(shi)數(shu)據(ju)無(wu)水

系統(tong)軟(ruan)件擁有完善的(de)測(ce)量(liang)和分(fen)析功(gong)能，直(zhi)接得(de)出(chu)介電(dian)常數(shu)與(yu)溫度(du)的(de)介電(dian)溫(wen)譜(pu)；不同(tong)溫(wen)度(du)下進行(xing)頻率掃描(miao)，直(zhi)接得(de)出(chu)介電(dian)常數(shu)的(de)頻譜(pu)、阻抗(kang)譜(pu)、電模(mo)量(liang)、 Cole-Cole圖；直(zhi)接得(de)出(chu)機(ji)械因數(shu)0m；集(ji)測(ce)量(liang)、分(fen)析、圖標(biao)顯示於(yu)壹(yi)體(ti)集成(cheng)化(hua)設(she)計。

二、主(zhu)要(yao)技(ji)術(shu)參數(shu):