HTIM-600高溫(wen)電(dian)阻率(lv)測試儀是壹(yi)款(kuan)針(zhen)對(dui)於(yu)材料(liao)的測(ce)量設備，可以(yi)出具CNAS整體(ti)認證(zheng)的(de)專(zhuan)業(ye)材料(liao)高溫(wen)測(ce)量設備，該儀器(qi)采(cai)用(yong)使(shi)用(yong)方法(fa)多樣化，最大(da)2000V，最快6.4ms的(de)采集(ji)系統，實現了(le)是以(yi)往產(chan)品300倍(bei)的(de)抗(kang)幹(gan)擾(rao)功能最快6.4ms的(de)高速(su)測量，作(zuo)為(wei)皮安表使(shi)用(yong)進(jin)行(xing)低電(dian)容檢查(zha)，最高2×10^19 Ω顯示，最小(xiao)0.1fA分辨率(lv)標配(pei)EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自(zi)行(xing)設計的(de)懸(xuan)浮(fu)式電(dian)路(lu)，

HTIM-3高低(di)溫(wen)材料(liao)電(dian)阻率(lv)測試儀主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)半(ban)導(dao)體(ti)材料(liao)導(dao)電(dian)性能的評(ping)估(gu)和測(ce)試，該系統采(cai)用(yong)四(si)線(xian)電(dian)阻法(fa)測量原理進(jin)行(xing)設計開發，可(ke)以(yi)在(zai)高溫(wen)、真(zhen)空氣(qi)氛(fen)的(de)條(tiao)件(jian)下(xia)測(ce)量半(ban)導(dao)體(ti)材料(liao)電(dian)阻和電(dian)阻率(lv)，可以(yi)分(fen)析(xi)被(bei)測樣(yang)品電(dian)阻和電(dian)阻率(lv)隨溫(wen)度、時(shi)間變(bian)化的曲(qu)線(xian)。目前主要(yao)針(zhen)對(dui)圓(yuan)片(pian)、方塊、長條(tiao)等(deng)測(ce)試樣品進(jin)行(xing)測試，可以(yi)廣泛用(yong)於(yu)半(ban)導(dao)體(ti)材料(liao)矽（si）、鍺(zhe)（ge）,化合物半(ban)導(dao)體(ti)材料(liao)砷化(hua)鎵(jia)(GaAs)、銻(ti)化銦(yin)（InSb），三(san)元(yuan)化(hua)合(he)物(wu)半(ban)導(dao)體(ti)GaAsA

HTRS-1000型高溫(wen)半(ban)導(dao)體(ti)材料(liao)電(dian)阻率(lv)測試儀主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)半(ban)導(dao)體(ti)材料(liao)導(dao)電(dian)性能的評(ping)估(gu)和測(ce)試，該系統采(cai)用(yong)四(si)線(xian)電(dian)阻法(fa)測量原理進(jin)行(xing)設計開發，可(ke)以(yi)在(zai)高溫(wen)、真(zhen)空氣(qi)氛(fen)的(de)條(tiao)件(jian)下(xia)測(ce)量半(ban)導(dao)體(ti)材料(liao)電(dian)阻和電(dian)阻率(lv)，可以(yi)分(fen)析(xi)被(bei)測樣(yang)品電(dian)阻和電(dian)阻率(lv)隨溫(wen)度、時(shi)間變(bian)化的曲(qu)線(xian)。目前主要(yao)針(zhen)對(dui)圓(yuan)片(pian)、方塊、長條(tiao)等(deng)測(ce)試樣品進(jin)行(xing)測試，可以(yi)廣泛用(yong)於(yu)半(ban)導(dao)體(ti)材料(liao)矽（si）、鍺(zhe)（ge）,化合物半(ban)導(dao)體(ti)材料(liao)砷化(hua)鎵(jia)（GaAs）、銻(ti)化銦(yin)（InSb），三(san)元(yuan)化(hua)合(he)物(wu)半(ban)導(dao)