全(quan)檢的(de)高(gao)精度判定(ding)焊(han)接(jie)和(he)連接(jie)質量(liang)是(shi)否合格隨(sui)著(zhe)電(dian)氣(qi)化(hua)社(she)會的(de)發(fa)展(zhan)，電池(chi)、電(dian)機和(he)電子(zi)零(ling)件向(xiang)著(zhe)大(da)電流和(he)高電(dian)壓的(de)方向(xiang)發(fa)展(zhan)。即使(shi)是(shi)微(wei)小的(de)電(dian)阻也(ye)會對(dui)能(neng)源(yuan)效率(lv)和(he)安全(quan)性產生(sheng)重(zhong)大(da)影響(xiang)，因(yin)此(ci)對(dui)電阻進(jin)行(xing)更準確的(de)品(pin)質控(kong)制(zhi)至關(guan)重(zhong)要(yao)。

GLDR-1600型高溫(wen)熔(rong)融玻璃電(dian)導(dao)率(lv)測(ce)試裝置(zhi)是(shi)壹款專(zhuan)門應用(yong)於(yu)熔(rong)融玻璃電(dian)導(dao)率(lv)測(ce)量(liang)的(de)，它(ta)是(shi)壹種(zhong)在高溫(wen)下(xia)測(ce)量(liang)玻璃熔(rong)體(ti)的(de)電(dian)導(dao)率(lv)(電阻率(lv)）的(de)裝(zhuang)置(zhi)。熔(rong)體(ti)的(de)電(dian)導(dao)率(lv)是(shi)用(yong)雙電極(ji)法測(ce)量(liang)的(de)，是(shi)目(mu)前(qian)研究高溫(wen)熔(rong)融玻璃電(dian)導(dao)率(lv)的(de)重(zhong)要(yao)設(she)備(bei)。

HTIM-1000高(gao)溫(wen)絕(jue)緣電(dian)阻測(ce)試儀 儀器(qi)簡介(jie)： 高(gao)溫(wen)絕(jue)緣電(dian)阻測(ce)試儀器(qi)運(yun)用三(san)電極(ji)法設(she)計(ji)原(yuan)理(li)測(ce)量(liang)。利用(yong)三電極(ji)測(ce)試系(xi)統，重(zhong)復性與穩(wen)定(ding)性(xing)好(hao)，提高(gao)了夾(jia)具的(de)抗(kang)擾能(neng)力(li)，同(tong)時大(da)大提(ti)高(gao)準(zhun)確(que)度也(ye)可應(ying)用(yong)於(yu)產品(pin)檢(jian)測(ce)以及新材(cai)料(liao)電(dian)學(xue)研究等用途(tu)。 高溫(wen)電阻率(lv)測(ce)試儀采用自(zi)主開(kai)發(fa)電(dian)子保護系(xi)統，提高了設(she)備(bei)的(de)an全(quan)性；選用(yong)熱(re)電(dian)偶保定(ding)溫(wen)度的(de)采集(ji)有(you)效值(zhi)、采用的(de)SPWM電(dian)子升壓(ya)技(ji)術，電壓(ya)輸出穩(wen)定(ding)性(xing)好(hao)。配備(bei)電壓、電流傳感器以(yi)

TFRT-300型薄(bo)膜變(bian)溫(wen)電阻測(ce)試儀是(shi)壹款多(duo)用(yong)途(tu)的(de)電(dian)阻測(ce)試儀，即(ji)可(ke)應用(yong)於(yu)金屬(shu)、半(ban)導(dao)體(ti)、導(dao)電高(gao)分(fen)子(zi)薄(bo)膜（或(huo)塊(kuai)材）電阻率(lv)和(he)磁阻的(de)測(ce)量(liang)，也(ye)可以(yi)應(ying)用(yong)於(yu)鐵磁/非(fei)鐵磁/鐵磁三(san)層(ceng)或(huo)多(duo)層(ceng)薄(bo)膜的(de)磁(ci)電阻測(ce)量(liang)，是(shi)研究薄(bo)膜材(cai)料(liao)電(dian)阻和(he)磁阻變(bian)化(hua)特性(xing)的(de)重(zhong)要(yao)儀器(qi)，對(dui)於(yu)先進(jin)材料(liao)應(ying)用(yong)和(he)開發(fa)有著(zhe)重(zhong)要(yao)意義(yi)。

HTIM-1001A高(gao)溫(wen)電阻測(ce)試儀采用四(si)端測(ce)量(liang)方法在高溫(wen)環境下(xia)對(dui)導(dao)電及(ji)半(ban)導(dao)電材(cai)料(liao)的(de)電(dian)阻進(jin)行(xing)評估，適用於(yu)生(sheng)產企(qi)業(ye)、高等院(yuan)校、科(ke)研部門，是(shi)檢(jian)驗和(he)分析(xi)導(dao)體(ti)材料(liao)和(he)半(ban)導(dao)體(ti)材料(liao)在高溫(wen)、真空(kong)及(ji)氣(qi)氛(fen)條(tiao)件下(xia)測(ce)量(liang)的(de)壹種(zhong)重(zhong)要(yao)的(de)工(gong)具(ju)。本儀器(qi)配置(zhi)各(ge)類(lei)測(ce)量(liang)裝置(zhi)可以測(ce)試不同(tong)材(cai)料(liao)，液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)，無需(xu)人工(gong)計(ji)算(suan)，並(bing)帶有溫(wen)度補償功能。

HTIM-1000A高(gao)溫(wen)電阻測(ce)試儀采用四(si)端測(ce)量(liang)方法在高溫(wen)環境下(xia)對(dui)導(dao)電及(ji)半(ban)導(dao)電材(cai)料(liao)的(de)電(dian)阻進(jin)行(xing)評估，適用於(yu)生(sheng)產企(qi)業(ye)、高等院(yuan)校、科(ke)研部門，是(shi)檢(jian)驗和(he)分析(xi)導(dao)體(ti)材料(liao)和(he)半(ban)導(dao)體(ti)材料(liao)在高溫(wen)、真空(kong)及(ji)氣(qi)氛(fen)條(tiao)件下(xia)測(ce)量(liang)的(de)壹種(zhong)重(zhong)要(yao)的(de)工(gong)具(ju)。本儀器(qi)配置(zhi)各(ge)類(lei)測(ce)量(liang)裝置(zhi)可以測(ce)試不同(tong)材(cai)料(liao)。液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)，無需(xu)人工(gong)計(ji)算(suan)，並(bing)帶有溫(wen)度補償功能。采用芯片(pian)控(kong) AD制(zhi)，恒(heng)流輸出(chu)，結構合理、質量(liang)輕便(bian)，配備(bei) 英寸(cun)觸(chu)摸屏(ping)， 10軟件可保存和(he)打(da)印(yin)數(shu)據，自(zi)動(dong)生(sheng)成(cheng)