TFVT-1000型(xing)薄膜變溫電(dian)阻測(ce)試儀(yi)壹(yi)款(kuan)兼具(ju)薄膜和塊體（可擴展(zhan)）的測試各(ge)種(zhong)薄膜材(cai)料在高(gao)溫、真空(kong)、氣(qi)氛條件下(xia)的電(dian)阻和(he)電(dian)阻率，可以用來(lai)分(fen)析樣品的電(dian)阻率隨溫(wen)度變化(hua)曲(qu)線、電(dian)阻溫(wen)阻系數、樣品相(xiang)變溫度(du)點。而(er)且(qie)可廣泛用於光電(dian)、鐵電(dian)、熱(re)電(dian)等各(ge)種(zhong)導(dao)電(dian)材(cai)料的電(dian)阻率測量(liang)。是目前科(ke)研和生(sheng)產(chan)的重要材(cai)料測(ce)量設(she)備(bei)。

四通(tong)道(dao)同屏(ping)對比(bi)測(ce)試高(gao)溫介電(dian)溫譜測(ce)量(liang)系統運(yun)用三(san)電(dian)極法設(she)計(ji)原理測量(liang)，並(bing)參(can)考(kao)美國 A.S.T.M 標準。采用Labview系統開(kai)發具(ju)備(bei)彈性(xing)的自定(ding)義功(gong)能(neng)，可進行介電(dian)溫譜、頻(pin)譜(pu)、升溫(wen)速度、測量(liang)參(can)數等設置(zhi)，符(fu)合壓電(dian)陶瓷與(yu)其它(ta)新材(cai)料測(ce)試多(duo)樣化(hua)的需求(qiu)。

GWST-1000型高(gao)溫四探針綜(zong)合測試系統（包含薄膜，塊體功(gong)能(neng)）是為(wei)了(le)更(geng)方便的研究在高(gao)溫條(tiao)件下(xia)的半導(dao)體(ti)的導電(dian)性(xing)能(neng)，該(gai)系統可以*實現在高(gao)溫、真空(kong)及(ji)惰(duo)性(xing)氣(qi)氛條件下(xia)測(ce)量矽(gui)、鍺單(dan)晶(jing)（棒(bang)料、晶(jing)片）電(dian)阻率和外(wai)延(yan)層(ceng)、擴(kuo)散層和離(li)子(zi)層(ceng)的方塊電(dian)阻及(ji)測(ce)量其他(ta)方塊電(dian)阻。