BHLDT-400V型環(huan)境變(bian)溫(wen)變(bian)壓(ya)介電(dian)溫(wen)譜測(ce)試儀可(ke)在環(huan)境下外(wai)加(jia)高(gao)壓(ya)測(ce)量材(cai)料(liao)的介電(dian)性能，其(qi)應(ying)用(yong)領域(yu)廣(guang)泛(fan)且(qie)在(zai)多個(ge)學(xue)科和(he)產業(ye)中(zhong)發揮關(guan)鍵作用(yong)，打(da)破了(le)以(yi)外(wai)常(chang)規的(de)高(gao)溫(wen)介電(dian)溫(wen)譜儀(yi)，這(zhe)種(zhong)可(ke)以(yi)在(zai)高(gao)溫(wen)高(gao)壓(ya)條件下測(ce)量材(cai)料(liao)的介電(dian)性能，是(shi)壹(yi)次(ci)重(zhong)要的創(chuang)新和(he)突破，對於(yu)新(xin)的(de)技術發展有著重(zhong)要推(tui)動(dong)作(zuo)用(yong)。

介電(dian)原理(li)：材(cai)料(liao)的介電(dian)性能源(yuan)於(yu)其(qi)在(zai)電(dian)場作用(yong)下的(de)極化(hua)現(xian)象。當材(cai)料(liao)置於(yu)電(dian)場中(zhong)，內部的(de)帶電(dian)粒子（如(ru)電(dian)子、離(li)子等(deng)）會發生相(xiang)對(dui)位移(yi)，形成電(dian)偶(ou)極(ji)矩(ju)。極化(hua)程度用(yong)介電(dian)常數衡(heng)量(liang)，介電(dian)常數越(yue)大(da)，表(biao)明(ming)材(cai)料(liao)在電(dian)場中(zhong)儲存(cun)電(dian)能的能(neng)力越(yue)強。介電(dian)損(sun)耗(hao)則(ze)反映了(le)材(cai)料(liao)在極(ji)化(hua)過(guo)程中(zhong)因(yin)能量損(sun)耗(hao)而產生的熱效應(ying)。在交(jiao)變(bian)電(dian)場中(zhong)，材(cai)料(liao)的極(ji)化(hua)狀態隨(sui)電(dian)場頻率(lv)變(bian)化(hua)，介電(dian)常數和(he)介電(dian)損(sun)耗(hao)也(ye)隨(sui)之(zhi)改變(bian)。

HLDT-400型高(gao)低溫(wen)介電(dian)溫(wen)譜測(ce)試儀適用(yong)於(yu)電(dian)介質(zhi)材(cai)料(liao)介電(dian)溫(wen)譜、阻(zu)抗(kang)譜(pu)、頻譜掃(sao)描的(de)測(ce)試。系統軟件將高(gao)低溫(wen)測(ce)試箱(xiang)、高(gao)低溫(wen)測(ce)試夾(jia)具、多通(tong)道切(qie)換器(qi)、阻抗分析儀等(deng)設(she)備(bei)無縫(feng)連接，測(ce)量在(zai)不(bu)同(tong)溫(wen)度、不(bu)同(tong)測(ce)試頻率下(xia)電(dian)容(rong)(C)、阻抗(Z)、相(xiang)位角(jiao)(θ)、損(sun)耗(hao)(D)等(deng)參數(shu)，通過計算獲(huo)得復(fu)介電(dian)常數、電(dian)模(mo)量等(deng)參數(shu)，直接得出材(cai)料(liao)的介電(dian)溫(wen)譜、頻(pin)譜(pu)、阻(zu)抗譜、電(dian)模(mo)量、Cole-Cole等(deng)圖譜(pu)，壹(yi)次(ci)測(ce)量，同(tong)時(shi)輸(shu)出，測(ce)量效(xiao)率(lv)高(gao)，數(shu)據(ju)

GWJDN-1000型(xing)高(gao)溫(wen)介電(dian)測(ce)量系統高(gao)溫(wen)介電(dian)測(ce)量系統應(ying)用(yong)於(yu)高(gao)溫(wen)環境下材(cai)料(liao)、器(qi)件的導(dao)電(dian)、介電(dian)特性測(ce)量與(yu)分析，可(ke)以(yi)測(ce)量帶電(dian)極和(he)不(bu)帶電(dian)極的樣(yang)品(pin)，通過(guo)配(pei)置不(bu)同(tong)的(de)測(ce)試設(she)備(bei)，完成不(bu)同(tong)參(can)數(shu)的測(ce)試。是(shi)新(xin)壹(yi)代(dai)高(gao)溫(wen)介電(dian)測(ce)試系統，科研測(ce)試裝(zhuang)置，是(shi)國(guo)家(jia)科(ke)研院(yuan)所(suo)和(he)高(gao)等(deng)學(xue)府的(de)設(she)備(bei)。

YMJC-1000型雲母(mu)材(cai)料(liao)耐(nai)壓(ya)擊(ji)穿(chuan)測(ce)試儀是(shi)壹(yi)款設(she)計精(jing)巧的材(cai)料(liao)電(dian)壓(ya)擊(ji)穿(chuan)試驗(yan)測(ce)試儀，全防護(hu)的(de)玻璃屏(ping)蔽罩(zhao)，安全互鎖(suo)，側(ce)開式(shi)放(fang)樣(yang)品(pin)安裝(zhuang)方便，可(ke)移動(dong)十字(zi)型(xing)探(tan)頭，電(dian)壓(ya)擊(ji)穿(chuan)數(shu)據保存(cun)查(zha)看，設(she)備(bei)輕巧(qiao)，可(ke)調壓(ya)升(sheng)壓(ya)。是(shi)研(yan)究絕緣(yuan)材(cai)料(liao)的重(zhong)要設(she)備(bei)。

GWJDN-150型(xing)高(gao)低溫(wen)高(gao)溫(wen)介電(dian)溫(wen)譜儀(yi)中(zhong)的測(ce)試夾(jia)具依(yi)據國(guo)際標(biao)準ASTM D150方法設(she)計，采(cai)用(yong)平行板(ban)電(dian)極原理(li)，測(ce)試電(dian)極由(you)上下電(dian)極+保護(hu)電(dian)極組成。上下電(dian)有良(liang)好(hao)的同(tong)心度和(he)平(ping)行度，保護(hu)電(dian)極可(ke)減(jian)少周(zhou)圍(wei)空氣(qi)電(dian)容(rong)的影響，使得測(ce)試數據更加準(zhun)確(que)可(ke)靠(kao)。