HTIM-1600超高溫(wen)絕緣(yuan)電阻測試儀(yi)采用(yong)使(shi)用(yong)方法多樣(yang)化，最大2000V，最快(kuai)6.4ms的采集(ji)系統，實(shi)現(xian)了是以往產(chan)品300倍(bei)的抗幹(gan)擾(rao)功能(neng)最快(kuai)6.4ms的高速測量(liang)，作為(wei)皮(pi)安表(biao)使(shi)用(yong)進(jin)行(xing)低(di)電(dian)容檢(jian)查(zha)，最高2×10^19 Ω顯示，最小(xiao)0.1fA分辨率標(biao)配(pei)EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自(zi)行(xing)設(she)計的懸浮(fu)式電路(lu)，能(neng)不受測量(liang)環(huan)境影響(xiang)進(jin)行(xing)穩(wen)定(ding)測量(liang)，並且(qie)運(yun)用(yong)在(zai)產(chan)線(xian)中(zhong)實現(xian)高速測量(liang)。可實(shi)現(xian)絕緣(yuan)材料

HTRT-2000型2000℃超(chao)高溫(wen)導電材料高溫(wen)電阻率測試儀(yi)本系(xi)統主(zhu)要(yao)由(you)高精(jing)度高穩(wen)定(ding)度的小(xiao)電(dian)流(liu)源、高精(jing)度AD采(cai)樣(yang)芯(xin)片(pian)以及(ji)嵌入(ru)式(shi)芯(xin)片(pian)，上(shang)位機智(zhi)能(neng)管理(li)分析(xi)軟(ruan)件(jian)、真(zhen)空多段(duan)溫(wen)控加熱設備(bei)組(zu)成(cheng)的超高溫(wen)導電電阻率智(zhi)能(neng)存儲(chu)分析(xi)儀(yi)器。測試導電(dian)金屬(shu)樣(yang)品根(gen)據測試工(gong)藝要(yao)求(qiu)任(ren)意設定(ding)加熱、，通過過程中(zhong)電阻率的精密(mi)測量(liang)，完成(cheng)對(dui)金屬內部(bu)結構變化如相(xiang)變、碳(tan)化物、固(gu)溶度等(deng)特(te)性(xing)的分析(xi)。設(she)備(bei)即可直接通(tong)電(dian)加(jia)熱應用(yong)於(yu)石(shi)墨(mo)自發熱，又可(ke)以外加高

​GWIM-1000型高溫(wen)體積表(biao)面電(dian)阻率測試儀(yi)是壹款滿(man)足GB／T31838.2-2019固(gu)體(ti)絕緣(yuan)材料介(jie)電和(he)電(dian)阻特性(xing)第2部(bu)分：電(dian)阻特性(xing)(DC方法)體積(ji)電阻和(he)體(ti)積(ji)電(dian)阻率；等(deng)同IEC62631-3-1-2016固(gu)體(ti)絕緣(yuan)材料的介電(dian)和(he)電(dian)阻性(xing)能-第(di)3-1部(bu)分:電(dian)阻特性(xing)的確定(ding)（直(zhi)流方法）-體積(ji)電阻和(he)體(ti)積(ji)電(dian)阻率-壹(yi)般方法； GB／T31838.3-2019固(gu)體(ti)絕緣(yuan)材料介(jie)電和(he)電(dian)阻特性(xing)第3部(bu)分：電(dian)阻特性(xing)(DC方法)

HTRT-1600本系(xi)統主(zhu)要(yao)由(you)高精(jing)度高穩(wen)定(ding)度的小(xiao)電(dian)流(liu)源、高精(jing)度AD采(cai)樣(yang)芯(xin)片(pian)以及(ji)嵌入(ru)式(shi)芯(xin)片(pian)，上(shang)位機智(zhi)能(neng)管理(li)分析(xi)軟(ruan)件(jian)、真(zhen)空多段(duan)溫(wen)控加熱設備(bei)組(zu)成(cheng)的金屬(shu)電(dian)阻率智(zhi)能(neng)存儲(chu)分析(xi)儀(yi)器。測試金屬(shu)樣品根(gen)據測試工(gong)藝要(yao)求(qiu)任(ren)意設定(ding)加熱、降溫(wen)曲(qu)線(xian)，通(tong)過過程中(zhong)電阻率的精密(mi)測量(liang)，完成(cheng)對(dui)金屬內部(bu)結構變化如相(xiang)變、碳(tan)化物、固(gu)溶度等(deng)特(te)性(xing)的分析(xi)。 壹(yi)、主(zhu)要(yao)性(xing)能 ：導(dao)電材料的電特(te)性(xing)主(zhu)要(yao)用(yong)電(dian)阻率表(biao)征(zheng)。影響電阻率的因素有(you)溫(wen)度、雜(za)質(zhi)含量(liang)、冷變形(xing)

電阻率表(biao)征(zheng)技術(shu)是典型的金屬(shu)、合(he)金相變行(xing)為(wei)研究(jiu)手段(duan)，比如在鋼中(zhong)的碳運(yun)動(dong)行為(wei)分析(xi)、或(huo)是合金析(xi)出(chu)動(dong)力(li)學(xue)研究(jiu)、以(yi)及(ji)形(xing)狀記(ji)憶合(he)金的預相變行(xing)為(wei)表(biao)征(zheng)的方面(mian)。電(dian)阻率對(dui)這些相變行(xing)為(wei)則(ze)非常(chang)敏感(gan)，應用(yong)電(dian)阻率手段(duan)研究(jiu)合(he)金析(xi)出(chu)動(dong)力(li)學(xue)行(xing)為(wei)也是非常(chang)重要(yao)的手段(duan)，HTRT-1000型導電材料高溫(wen)電阻率測試儀(yi)是壹種(zhong)可(ke)以(yi)對(dui)合金時效(xiao)析(xi)出(chu)過程全時段(duan)實現(xian)監(jian)控的手段(duan)。