描(miao)述(shu)：GWJDN-150型高(gao)低(di)溫高溫介電溫譜儀(yi)中的(de)測試(shi)夾(jia)具依據(ju)國際標準ASTM D150方法設(she)計(ji)，采用平(ping)行板(ban)電極原理，測試(shi)電極由上(shang)下電極+保(bao)護(hu)電極組(zu)成。上(shang)下電有良好的同(tong)心度和平(ping)行度，保(bao)護(hu)電極可減(jian)少(shao)周圍空(kong)氣(qi)電容的(de)影響，使(shi)得測試(shi)數據(ju)更(geng)加(jia)準確(que)可靠。

GWJDN-150型(xing)高(gao)低(di)溫高溫介電溫譜儀(yi)介紹：

關(guan)鍵詞：高(gao)溫介電，溫譜，平(ping)行板(ban)電極原理。

GWJDN-150型(xing)高(gao)低(di)溫高溫介電溫譜儀(yi)中的(de)測試(shi)夾(jia)具依據(ju)國際標準ASTM D150方法設(she)計(ji)，采用平(ping)行板(ban)電極原理，測試(shi)電極由上(shang)下電極+保(bao)護(hu)電極組(zu)成。上(shang)下電有良好的同(tong)心度和平(ping)行度，保(bao)護(hu)電極可減(jian)少(shao)周圍空(kong)氣(qi)電容的(de)影響，使(shi)得測試(shi)數據(ju)更(geng)加(jia)準確(que)可靠。

介電溫譜儀(yi)可測量(liang)陶(tao)瓷、薄膜、半導(dao)體等(deng)塊狀(zhuang)材料(liao)，可與(yu)WK6500系(xi)列、Agilent/keysight E4990A、同(tong)惠(hui)TH28系(xi)列阻抗分(fen)析儀(yi)集(ji)成(cheng)使(shi)用(yong)，組(zu)成壹套集(ji)實(shi)驗方(fang)案(an)設(she)計(ji)、測量(liang)、數據(ju)輸(shu)出、數(shu)據(ju)分(fen)析的三(san)琦高溫介電溫譜測量(liang)系(xi)統(tong)。可同(tong)時測量(liang)及(ji)輸(shu)出頻(pin)率(lv)譜、電壓(ya)譜、偏(pian)壓(ya)譜、溫度譜的(de)測量(liang)數據(ju)與圖(tu)形(xing)，測試(shi)頻(pin)率(lv)為DC-30MHz。

系(xi)統(tong)配置：

（壹）、低(di)溫模塊(kuai)：

1、系(xi)統(tong)配置參數(shu)

系(xi)統(tong)采用模(mo)塊(kuai)化(hua)結(jie)構，測試(shi)主(zhu)機(ji)、溫控系(xi)統(tong)、信號(hao)采集系(xi)統(tong)、LCR表模塊四個分(fen)系(xi)統(tong)分(fen)離，易於系(xi)統(tong)寬展和升級。含(han)測試(shi)計(ji)算(suan)機1臺、信號(hao)切(qie)換與(yu)控制系(xi)統(tong)1臺，低(di)溫儀(yi)含(han)四通(tong)道夾(jia)具1臺、6L液(ye)氮罐1個，測試(shi)軟件(jian)1套。

2、性(xing)能指(zhi)標(biao)參(can)數

（1）溫度區(qu)間(jian)：低(di)溫系(xi)統(tong)-185℃~260℃

（2）溫度精度：±0.5 ℃

（3）升溫速率(lv)：1℃/min~10℃/min

（4）四通(tong)道測試(shi)夾(jia)具：低(di)溫夾(jia)具為融(rong)石英(ying)與(yu)鈹銅(tong)鍍金探(tan)針復合結(jie)構夾(jia)具，探(tan)針壓(ya)力150g，探針直徑小於3mm，探(tan)針彈簧(huang)行程大(da)於(yu)4mm，保(bao)證(zheng)長期測試(shi)穩(wen)定(ding)性(xing)

（5）系(xi)統(tong)屏蔽(bi)：輸(shu)入端口(kou)采用四個BNC端(duan)口(kou)；輸(shu)出端(duan)口(kou)采用10個SMA輸(shu)出端(duan)口(kou)，需(xu)采用SMA接(jie)頭以提高(gao)高(gao)頻(pin)測試(shi)穩(wen)定(ding)性(xing)（頻(pin)率(lv)大(da)於(yu)1MHz時）；四通(tong)道切(qie)換主(zhu)板(ban)采用預(yu)埋(mai)屏(ping)蔽(bi)層設(she)計(ji)，連接線(xian)材采用射(she)頻(pin)同(tong)軸(zhou)線(xian)，保(bao)證(zheng)低(di)頻(pin)與(yu)高頻(pin)測試(shi)精度和穩(wen)定(ding)性(xing)

（6）測試(shi)頻(pin)率(lv)範圍：阻抗測試(shi)範圍20Hz-10MHz，LCR測試(shi)範圍20Hz-2MHz（請(qing)依據(ju)系(xi)統(tong)中匹配的阻抗分(fen)析儀(yi)或(huo)LCR表(biao)）

（7）測試(shi)頻(pin)率(lv)數量(liang)：1~8個

（8）測試(shi)樣品(pin)個數(shu)：4個

（9）測試(shi)樣品(pin)直徑：1.5 mm~20mm

（10）測試(shi)樣品(pin)厚度：0.02 mm~4mm

（11）測試(shi)液氮用量(liang)：壹次(ci)測試(shi)液氮使(shi)用(yong)小於1L

（12）變(bian)溫介電頻(pin)譜(pu)測試(shi)功能(neng)；變(bian)溫阻抗測試(shi)功能(neng)；掃頻(pin)測試(shi)功能(neng)

（13）軟件(jian)：采用C#語(yu)言(yan)編(bian)寫，可視(shi)化(hua)程度高，自(zi)動(dong)測試(shi)。同(tong)時顯(xian)示四通(tong)道的(de)測試(shi)數據(ju)，並圖(tu)形(xing)化(hua)

（二(er)）、高(gao)溫模塊(kuai)：

1、系(xi)統(tong)配置參數(shu)

系(xi)統(tong)采用模(mo)塊(kuai)化(hua)結(jie)構，測試(shi)主(zhu)機(ji)、溫控系(xi)統(tong)、信號(hao)采集系(xi)統(tong)、LCR表模塊四個分(fen)系(xi)統(tong)分(fen)離，易於系(xi)統(tong)寬展和升級。含(han)測試(shi)信號(hao)切(qie)換與(yu)控制系(xi)統(tong)1臺，高(gao)溫儀(yi)含(han)四通(tong)道測試(shi)夾(jia)具1臺，測試(shi)軟件(jian)1套。

2、性(xing)能指(zhi)標(biao)參(can)數

（1）溫度區(qu)間(jian)：室溫~1000℃

（2）溫度精度：±0.5 ℃

（3）升溫速率(lv)：1℃/min~10℃/min

（4）四通(tong)道測試(shi)夾(jia)具：高(gao)溫夾(jia)具為融(rong)石英(ying)與(yu)探針復合夾(jia)具。其(qi)中探(tan)針為氧(yang)化(hua)鋁(lv)與鉑(bo)金復(fu)合結(jie)構，芯(xin)層(ceng)為鉑(bo)金，絕(jue)緣層為氧(yang)化(hua)鋁(lv)，屏蔽(bi)層為鉑(bo)金並(bing)屏蔽(bi)至樣品(pin)端，探針直徑小於3.5mm。以(yi)保(bao)證(zheng)長期高溫測試(shi)穩(wen)定(ding)性(xing)

（5）系(xi)統(tong)屏蔽(bi)：輸(shu)入端口(kou)采用四個BNC端(duan)口(kou)；輸(shu)出端(duan)口(kou)采用10個SMA輸(shu)出端(duan)口(kou)，需(xu)采用SMA接(jie)頭以提高(gao)高(gao)頻(pin)測試(shi)穩(wen)定(ding)性(xing)（頻(pin)率(lv)大(da)於(yu)1MHz時）；四通(tong)道切(qie)換主(zhu)板(ban)采用預(yu)埋(mai)屏(ping)蔽(bi)層設(she)計(ji)，連接線(xian)材采用射(she)頻(pin)同(tong)軸(zhou)線(xian)，保(bao)證(zheng)低(di)頻(pin)與(yu)高頻(pin)測試(shi)精度和穩(wen)定(ding)性(xing)；

（6）測試(shi)頻(pin)率(lv)範圍：阻抗測試(shi)範圍20Hz-10MHz，LCR測試(shi)範圍20Hz-2MHz（請(qing)依據(ju)系(xi)統(tong)中匹配的阻抗分(fen)析儀(yi)或(huo)LCR表(biao)）

（7）測試(shi)頻(pin)率(lv)數量(liang)：1~8個

（8）測試(shi)樣品(pin)個數(shu)：4個

（9）測試(shi)樣品(pin)直徑：1.5 mm~20mm

（10）測試(shi)樣品(pin)厚度：0.02 mm~4mm

（11）變(bian)溫介電頻(pin)譜(pu)測試(shi)功能(neng)；變(bian)溫阻抗測試(shi)功能(neng)；掃頻(pin)測試(shi)功能(neng)

（12）軟件(jian)：采用C#語(yu)言(yan)編(bian)寫，可視(shi)化(hua)程度高，自(zi)動(dong)測試(shi)。同(tong)時顯(xian)示四通(tong)道的(de)測試(shi)數據(ju)，並圖(tu)形(xing)化(hua)