GDWT-480型(xing)全(quan)自(zi)動(dong)型(xing)高(gao)低溫(wen)真(zhen)空(kong)探針臺(tai)主要(yao)應(ying)用於I-V/C-V，PIV測試,傳(chuan)感(gan)器，半導(dao)體(ti)，光電(dian)，集(ji)成電(dian)路以及封(feng)裝的測試。 產品供應北(bei)京(jing)、上海、杭(hang)州等(deng)全(quan)國各地。廣(guang)泛(fan)應用於復雜(za)、高(gao)速器件的(de)精(jing)密電(dian)子樣品測(ce)量(liang)的(de)研發(fa)，旨(zhi)在(zai)確保(bao)質(zhi)量(liang)及可(ke)靠性(xing)，並縮減(jian)研發(fa)時間和器件制(zhi)造工(gong)藝(yi)的(de)成本(ben)，可(ke)以配(pei)合(he)Keithley,Tektronix等國內外(wai)各種源表對(dui)材料(liao)進行測試，可(ke)以做材(cai)料的(de)介(jie)電(dian)，鐵(tie)電(dian)等測(ce)試,是目前高(gao)等(deng)院校(xiao)和研究所(suo)及材(cai)料生(sheng)產單位的重要(yao)輔助設備(bei)。

B2912A-16T型(xing)多(duo)通道高(gao)低溫(wen)電(dian)阻I/V（電(dian)流 vs 電(dian)壓(ya)）測試系(xi)統(tong)是(shi)壹款(kuan)針對(dui)特(te)殊(shu)樣品多(duo)路電(dian)極(ji)測試的系(xi)統(tong)，解(jie)決(jue)了同壹個樣品面(mian)對(dui)點I/V（電(dian)流 vs 電(dian)壓(ya)），配(pei)備(bei)了高低溫(wen)樣品測(ce)試臺(tai)，16通道並行I-V掃描自(zi)動(dong)切換(huan)通道，無需(xu)人(ren)工(gong)幹(gan)預(yu)，使(shi)測(ce)試變(bian)得(de)更加方(fang)便，快捷(jie)。在(zai)新材(cai)料(liao)，復雜(za)材(cai)料測(ce)試和研究重(zhong)要設備(bei).

JKZC-GSTS08氣(qi)體(ti)傳(chuan)感(gan)器陣測(ce)試系(xi)統(tong)主(zhu)要完成氣(qi)體(ti)敏(min)感(gan)材料及(ji)氣(qi)敏(min)傳(chuan)感(gan)器器件的(de)性(xing)能(neng)檢測和評價，適(shi)用氣(qi)體(ti)範(fan)圍(wei)包(bao)括常溫(wen)是(shi)氣(qi)態的氣(qi)體(ti)和部分(fen)揮發性(xing)液(ye)體(ti)，如乙醇(chun)、苯(ben)等(deng)，濕(shi)敏(min)作(zuo)為氣(qi)敏(min)的壹(yi)個分(fen)支(zhi)，此(ci)系(xi)統(tong)可(ke)完成水的絕對含(han)量(liang)和相對濕(shi)度(%RH)的敏(min)感(gan)性(xing)評(ping)價。

JSD-100型(xing)金(jin)屬材料(liao)電(dian)阻率(lv)(微電(dian)阻)測(ce)試儀(yi)為(wei)用於金(jin)屬材料(liao)的電(dian)阻可(ke)視(shi)化檢測設計，由(you)於銀、銅(tong)、金(jin)、鋁等具有(you)較好(hao)導電(dian)性(xing)，這些金(jin)屬材料(liao)在(zai)日(ri)常使(shi)用體(ti)積範(fan)圍(wei)時(shi)其(qi)電(dian)阻值(zhi)就(jiu)已(yi)經(jing)很低，通(tong)過下圖可(ke)對(dui)其(qi)有(you)簡(jian)單概念，當(dang)金(jin)屬材料(liao)為長度10cm絲材(cai)時，1mΩ材(cai)料(liao)電(dian)阻值(zhi)對(dui)應(ying)的材料(liao)截面(mian)積(圖中(zhong)數值(zhi)為直(zhi)徑(jing)，單位mm)

系(xi)統(tong)組(zu)成：HEM-200 高低溫(wen)霍(huo)爾(er)效(xiao)應測(ce)試系(xi)統(tong)本(ben)儀(yi)器(qi)系(xi)統(tong)由(you)電(dian)磁(ci)鐵(tie)、電(dian)磁(ci)鐵(tie)電(dian)源、高(gao)精(jing)度恒流源(yuan)、高(gao)精(jing)度電(dian)壓(ya)表、矩(ju)陣卡(ka)、霍(huo)爾效(xiao)應樣品支(zhi)架(jia)、標準(zhun)樣品、系(xi)統(tong)軟(ruan)件組(zu)成。本(ben)套系(xi)統(tong)測(ce)試應用的是(shi)最新(xin)的KEITHLEY 進口(kou)測試源表，配(pei)合(he)配(pei)套(tao)的低延(yan)遲寬(kuan)帶寬(kuan)的矩(ju)陣卡(ka)，極(ji)大(da)提(ti)高(gao)了樣品的(de)供(gong)電(dian)電(dian)流和測試樣品的(de)霍(huo)爾(er)電(dian)壓(ya)的量(liang)程(cheng)和精度，寬(kuan)電(dian)流供(gong)電(dian)和寬(kuan)電(dian)壓(ya)測試範圍(wei)可(ke)以覆蓋(gai)市(shi)面(mian)上絕(jue)大(da)多(duo)數的(de)半導(dao)體(ti)器(qi)件。用於測量(liang)半導(dao)體(ti)材(cai)料(liao)的(de)載流子濃(nong)度、

HEM-500HA高(gao)低溫(wen)電(dian)磁(ci)型(xing)全(quan)自(zi)動(dong)霍(huo)爾(er)效(xiao)應測(ce)試系(xi)統(tong)本(ben)儀(yi)器(qi)系(xi)統(tong)由(you)電(dian)磁(ci)鐵(tie)、電(dian)磁(ci)鐵(tie)電(dian)源、高(gao)精(jing)度恒流源(yuan)、高(gao)精(jing)度電(dian)壓(ya)表、霍(huo)爾效(xiao)應樣品支(zhi)架(jia)、標準(zhun)樣品、高(gao)低溫(wen)杜瓦(wa)，控溫(wen)儀(yi)，系(xi)統(tong)軟(ruan)件組(zu)成。為本(ben)儀(yi)器(qi)系(xi)統(tong)專門研制(zhi)的CH-320A效(xiao)應儀(yi)將恒流源(yuan)，六(liu)位半微伏(fu)表及(ji)霍(huo)爾測量復雜(za)的(de)切換(huan)繼電(dian)器——開(kai)關組(zu)裝成壹體(ti)，大(da)大(da)減(jian)化了實(shi)驗的(de)連(lian)線與(yu)操作(zuo)。可(ke)單獨(du)做(zuo)恒流源(yuan)、微伏(fu)表使(shi)用。實(shi)驗結(jie)果由(you)軟(ruan)件自(zi)動(dong)計(ji)算得(de)到，可(ke)同(tong)時(shi)得(de)到體(ti)載(zai)流子濃(nong)度(Bulk