B2912A-16T型(xing)多(duo)通(tong)道高(gao)低(di)溫(wen)電(dian)阻(zu)I/V（電流 vs 電壓）測(ce)試(shi)系統(tong)是壹款針對特(te)殊(shu)樣(yang)品多(duo)路(lu)電極測(ce)試(shi)的系(xi)統(tong)，解(jie)決(jue)了(le)同壹個(ge)樣(yang)品面對(dui)點I/V（電(dian)流(liu) vs 電壓），配備了高(gao)低(di)溫(wen)樣(yang)品測(ce)試(shi)臺(tai)，16通(tong)道並(bing)行I-V掃描(miao)自(zi)動切換通(tong)道(dao)，無(wu)需人工(gong)幹預，使測(ce)試(shi)變得更(geng)加方便，快捷(jie)。在新(xin)材(cai)料(liao)，復雜(za)材(cai)料(liao)測(ce)試(shi)和研(yan)究(jiu)重(zhong)要(yao)設備.

SCD-1500型(xing)半(ban)導體(ti)C-V特(te)性分析儀創(chuang)新(xin)性地采用了(le)雙CPU架(jia)構、Linux底(di)層系統(tong)、10.1英(ying)寸電(dian)容式(shi)觸摸屏、中英(ying)文(wen)操(cao)作(zuo)界(jie)面(mian)、內置(zhi)使用說明及幫(bang)助(zhu)等(deng)新(xin)壹代技(ji)術(shu)，適用於(yu)生(sheng)產線(xian)快(kuai)速分選(xuan)、自(zi)動化集成(cheng)測(ce)試(shi)及滿(man)足(zu)實(shi)驗室研發(fa)及分(fen)析(xi)。半(ban)導體(ti)C-V特(te)性分析儀測(ce)試(shi)頻(pin)率為10kHz-2MHz，VGS電壓可(ke)達(da)±40V，足(zu)以(yi)滿(man)足(zu)二極管、三極(ji)管、MOS管及IGBT等(deng)半(ban)導體(ti)件CV特性測(ce)試(shi)分析(xi)。