描(miao)述(shu)：GDWT-480型(xing)全自動(dong)型(xing)高(gao)低(di)溫(wen)真空探(tan)針臺主(zhu)要(yao)應(ying)用於(yu)I-V/C-V，PIV測(ce)試(shi),傳(chuan)感器(qi)，半導(dao)體，光(guang)電(dian)，集(ji)成(cheng)電(dian)路(lu)以(yi)及封(feng)裝(zhuang)的(de)測(ce)試(shi)。 產品供(gong)應(ying)北(bei)京(jing)、上海、杭(hang)州(zhou)等(deng)全國各地(di)。廣(guang)泛應(ying)用於(yu)復(fu)雜、高(gao)速(su)器(qi)件(jian)的(de)精(jing)密(mi)電子(zi)樣品(pin)測(ce)量的(de)研(yan)發(fa)，旨在(zai)確保(bao)質(zhi)量及可靠(kao)性，並縮減(jian)研(yan)發(fa)時間和器(qi)件(jian)制(zhi)造工(gong)藝(yi)的(de)成(cheng)本(ben)，可以(yi)配合(he)Keithley,Tektronix等(deng)國內外(wai)各種(zhong)源表(biao)對材料(liao)進行(xing)測(ce)試(shi)，可以(yi)做材(cai)料(liao)的(de)介(jie)電(dian)，鐵(tie)電等(deng)測(ce)試(shi),是(shi)目(mu)前(qian)高(gao)等(deng)院校(xiao)和研(yan)究所(suo)及材(cai)料生(sheng)產單位的(de)重(zhong)要(yao)輔助設(she)備。

GDWT-480型(xing)全自動(dong)型(xing)高(gao)低(di)溫(wen)真空探(tan)針臺  產品供(gong)應(ying)北(bei)京(jing)、上海、杭(hang)州(zhou)等(deng)全國各地(di)。

關(guan)鍵詞：高(gao)低(di)溫(wen)探(tan)針臺，半導(dao)體，光(guang)電(dian)，吉時利(li)

GDWT-480型(xing)全自動(dong)型(xing)高(gao)低(di)溫(wen)真空探(tan)針臺主要(yao)應(ying)用於(yu)I-V/C-V，PIV測(ce)試(shi),傳(chuan)感器(qi)，半導(dao)體，光(guang)電(dian)，集(ji)成(cheng)電(dian)路(lu)以(yi)及封(feng)裝(zhuang)的(de)測(ce)試(shi)。 廣泛(fan)應(ying)用於(yu)復(fu)雜、高(gao)速(su)器(qi)件(jian)的(de)精(jing)密(mi)電子(zi)樣品(pin)測(ce)量的(de)研(yan)發(fa)，旨在(zai)確保(bao)質(zhi)量及可靠(kao)性，並縮減(jian)研(yan)發(fa)時間和器(qi)件(jian)制(zhi)造工(gong)藝(yi)的(de)成(cheng)本(ben)，可以(yi)配合(he)Keithley,Tektronix等(deng)國內外(wai)各種(zhong)源表(biao)對材料(liao)進行(xing)測(ce)試(shi)，可以(yi)做材(cai)料(liao)的(de)介(jie)電(dian)，鐵(tie)電等(deng)測(ce)試(shi),是(shi)目(mu)前(qian)高(gao)等(deng)院校(xiao)和研(yan)究所(suo)及材(cai)料生(sheng)產單位的(de)重(zhong)要(yao)輔助設(she)備。

  GDWT-480型(xing)自動(dong)型(xing)真空高(gao)低(di)溫(wen)探(tan)針臺該(gai)探(tan)針臺尺寸(cun)高(gao)達(da)59x59MM，不銹(xiu)鋼臺(tai)面(mian)設(she)計(ji)，可以(yi)達到(dao)高(gao)溫(wen)350℃。在(zai)真空方(fang)面(mian)采用真(zhen)空腔體(ti)設(she)計(ji)，具(ju)備進氣口(kou)和抽(chou)真空接口(kou)，三軸(zhou)移(yi)動(dong)探(tan)針臂保(bao)證X/Y/Z三個(ge)方(fang)向(xiang)均(jun)可在(zai)真空環(huan)境(jing)下(xia)精(jing)密(mi)移位調(tiao)節，用戶(hu)可根(gen)據需(xu)要(yao)自行(xing)調(tiao)節。使(shi)用時將(jiang)需(xu)檢測(ce)的(de)器(qi)件(jian)固定在(zai)加(jia)熱(re)臺上，再(zai)微調探(tan)針支架(jia)X/Y/Z 方(fang)向(xiang)行(xing)程(cheng)，通過(guo)顯(xian)微鏡觀(guan)察(cha)，使(shi)探(tan)針對準檢(jian)測(ce)點(dian)後，即(ji)可進(jin)行(xing)檢(jian)測(ce).

主(zhu)要(yao)特(te)點：

1、溫(wen)度(du)可以(yi)從-190℃-350℃

2、探(tan)針不需(xu)要(yao)打算開(kai)觀(guan)察(cha)窗口，可以(yi)通過(guo)X/Y/Z三軸(zhou)移(yi)動(dong)調節探(tan)針，

3、可以(yi)配真(zhen)空，氣氛(fen)等(deng)多種功能。

4、三軸(zhou)調節範圍：其(qi)中(zhong)X方(fang)向(xiang)0－28mm；y方(fang)向(xiang)調(tiao)節範圍：0－18mm；z方(fang)向(xiang)調(tiao)節範圍：0－18mm；

主(zhu)要(yao)技術參數(shu)：