描(miao)述：JSD-100型金(jin)屬材料電阻率(lv)(微(wei)電阻)測(ce)試(shi)儀為(wei)用於金(jin)屬材料的(de)電阻可(ke)視(shi)化(hua)檢測(ce)設計(ji)，由(you)於銀、銅(tong)、金(jin)、鋁(lv)等(deng)具(ju)有(you)較(jiao)好(hao)導電性，這(zhe)些(xie)金(jin)屬材料在(zai)日常(chang)使(shi)用(yong)體(ti)積(ji)範圍(wei)時其電阻值(zhi)就(jiu)已(yi)經(jing)很(hen)低，通過下(xia)圖(tu)可(ke)對(dui)其(qi)有(you)簡(jian)單(dan)概念(nian)，當(dang)金(jin)屬材料為(wei)長(chang)度(du)10cm絲(si)材時，1mΩ材料電阻值(zhi)對(dui)應(ying)的材料截(jie)面積(ji)(圖(tu)中數(shu)值(zhi)為(wei)直徑，單位(wei)mm)

JSD-100型金(jin)屬材料電阻率(lv)(微(wei)電阻)測(ce)試(shi)儀

(壹(yi)) JSD-100型金(jin)屬材料電阻率(lv)(微(wei)電阻)測(ce)試(shi)儀簡介

　　JSD-100型金(jin)屬材料電阻率(lv)(微(wei)電阻)測(ce)試(shi)儀為(wei)用於金(jin)屬材料的(de)電阻可(ke)視(shi)化(hua)檢測(ce)設計(ji)，由(you)於銀、銅(tong)、金(jin)、鋁(lv)等(deng)具(ju)有(you)較(jiao)好(hao)導電性，這(zhe)些(xie)金(jin)屬材料在(zai)日常(chang)使(shi)用(yong)體(ti)積(ji)範圍(wei)時其電阻值(zhi)就(jiu)已(yi)經(jing)很(hen)低，通過下(xia)圖(tu)可(ke)對(dui)其(qi)有(you)簡(jian)單(dan)概念(nian)，當(dang)金(jin)屬材料為(wei)長(chang)度(du)10cm絲(si)材時，1mΩ材料電阻值(zhi)對(dui)應(ying)的材料截(jie)面積(ji)(圖(tu)中數(shu)值(zhi)為(wei)直徑，單位(wei)mm)示意(yi)圖(tu)：

當材料導電截面積(ji)更大時電阻值(zhi)更低(di)，測(ce)試(shi)儀主要(yao)針對(dui)這類低(di)電阻測(ce)試(shi)進行(xing)優化(hua)，對純金(jin)屬及(ji)其合金(jin)材料的(de)導電性(電阻/電阻率(lv)/電導率(lv))、進行(xing)高精(jing)度、連續(xu)監測(ce)，並在(zai)此(ci)基礎上對(dui)電阻溫(wen)度(du)系數(shu)(電阻-溫(wen)度(du)關(guan)系)、 電阻應(ying)變(bian)靈(ling)敏系數(shu)(電阻-力(li)關(guan)系)、接觸(chu)壓(ya)力(li)-接觸(chu)電阻關(guan)系等衍(yan)生(sheng)出(chu)不同用(yong)途的測(ce)量(liang)系統(tong)。測試(shi)系統(tong)由實驗(yan)架臺(tai)(或(huo)夾具(ju))、測試(shi)機(ji)箱、計(ji)算(suan)機(ji)、測控軟(ruan)件(jian)等組成。

測試(shi)儀測(ce)量(liang)範圍(wei)能(neng)到MΩ，也可(ke)用(yong)於(yu)部(bu)分半導體(ti)材料的(de)測(ce)量(liang)。測量(liang)對象(xiang)包(bao)括(kuo)純金(jin)屬或(huo)合金(jin)的絲材、帶(dai)材、管(guan)材、片材等具(ju)有(you)規(gui)則(ze)截(jie)面積(ji)的(de)導體(ti)或(huo)半導體(ti)，樣(yang)品(pin)也包(bao)括(kuo)厚(hou)膜及(ji)薄(bo)膜導電膜，及(ji)可(ke)使(shi)用(yong)四(si)端(duan)點測(ce)試(shi)夾具(ju)的半導體(ti)塊體(ti)材料。

　　由(you)於電阻率(lv)是材料的(de)基本(ben)屬(shu)性(xing)，與(yu)材料純度(du)有(you)緊(jin)密(mi)關系，除(chu)用於(yu)導電性測(ce)量(liang)外，也可(ke)以(yi)做為(wei)材料純度(du)的(de)物理判定(ding)手(shou)段(duan)之壹(yi)。是目前(qian)金(jin)屬材料研(yan)究(jiu)的科研(yan)設備(bei) 。

配用夾具(ju)

絲帶(dai)材檢測(ce)夾具(ju)：用於(yu)直徑1mm以下(xia)的(de)細絲(si)及(ji)窄薄(bo)帶(dai)材測量(liang)，夾頭(tou)鍍(du)金(jin)，檢測長(chang)度(du)可(ke)調(tiao)，樣(yang)品(pin)快(kuai)速裝(zhuang)夾絲(si)帶(dai)材檢測(ce)夾具(ju)：用於(yu)直徑1mm以下(xia)的(de)細絲(si)及(ji)窄薄(bo)帶(dai)材測量(liang)，夾頭(tou)鍍(du)金(jin)，檢測長(chang)度(du)可(ke)調(tiao)，樣(yang)品(pin)快(kuai)速裝(zhuang)夾

細(xi)絲檢測夾具(ju)：用於(yu)直徑0.1mm以下(xia)的(de)超(chao)細絲測(ce)量(liang)，夾頭(tou)鍍(du)金(jin)，檢測長(chang)度(du)固定(ding)，樣(yang)品(pin)快(kuai)速裝(zhuang)夾

四(si)探(tan)針檢(jian)測頭(tou)：單(dan)邊線四探(tan)針檢(jian)測探(tan)頭(tou)，間(jian)距1mm，用於(yu)薄(bo)膜、厚膜及(ji)半導體(ti)電阻率(lv)測(ce)量(liang)

帶(dai)材檢測(ce)夾具(ju)：用於(yu)厚(hou)1mm、寬(kuan)20mm以(yi)下(xia)的(de)帶(dai)材測量(liang)，檢測(ce)長(chang)度(du)固定(ding)，夾頭(tou)鍍(du)金(jin)，檢測長(chang)度(du)可(ke)調(tiao)，快(kuai)速裝(zhuang)夾配用軟(ruan)件

（二(er)）參考(kao)標準(zhun)：

　GB/T 351-2019 金(jin)屬材料電阻率(lv)測(ce)量(liang)方法

　GB/T 6146-2010 精(jing)密(mi)電阻合金(jin)電阻率(lv)測(ce)試(shi)方法
　GB/T 3048.2-2007 電線電纜電性能(neng)試(shi)驗(yan)方法 第(di)2部分：金(jin)屬材料電阻率(lv)試(shi)驗(yan)

（三）主要(yao)特(te)點(dian)

1. 四線法電阻測(ce)試(shi)，消除(chu)接觸(chu)電阻和(he)引(yin)線電阻誤(wu)差(cha)

2. 軟(ruan)件同步(bu)顯(xian)示(shi)檢(jian)測(ce)輸出(chu)時基曲線，測試(shi)效果(guo)壹(yi)目了(le)然(ran)

3. 高精(jing)度恒流源(yuan)，帶(dai)最(zui)大電流限(xian)制，避(bi)免(mian)自(zi)熱(re)效應(ying)，保障測量(liang)精度(du)

4. 軟件(jian)中可(ke)同(tong)時進行(xing)數(shu)據(ju)采集(ji)和(he)數(shu)據(ju)處理，結(jie)果(guo)可(ke)打(da)印(yin)，數(shu)據(ju)可(ke)導出(chu)

（四） 主要(yao)技(ji)術指(zhi)標(biao)

（四(si)）金(jin)屬導電性

金(jin)屬材料由(you)於(yu)晶格間(jian)具(ju)有(you)可(ke)自(zi)由(you)移(yi)動的(de)電子，均具(ju)有(you)良好(hao)的導電性能(neng)，按(an)照(zhao)導電性能(neng)排(pai)序(xu)，壹(yi)些常(chang)用(yong)材料的(de)參(can)數(shu)如(ru)下(xia)表(biao)：

* 主要(yao)數(shu)據(ju)來源(yuan)《二(er)元合金(jin)狀(zhuang)態圖集(ji)》《貴(gui)金(jin)屬》等，環境溫(wen)度(du)為20℃

電阻率(lv)計(ji)算(suan)

電阻率(lv)為(wei)材料的(de)固有(you)特(te)性(xing)之壹(yi)，絲材或(huo)截(jie)面積(ji)均(jun)勻的金(jin)屬可(ke)以(yi)利用(yong)下(xia)面的(de)公(gong)式(shi)計(ji)算(suan)電阻/電阻率(lv)：

軟件幾個(ge)主要(yao)界(jie)面，雙(shuang)擊可(ke)顯(xian)示(shi)原(yuan)圖(tu)。

（五） 相(xiang)關(guan)資料

四(si)端(duan)法電阻測(ce)量(liang)

　　四端(duan)法也稱(cheng)為四(si)線法或(huo)開(kai)爾文(wen)法(fa)，指(zhi)的(de)是用壹(yi)對導線連接壹(yi)電流源(yuan)，另(ling)壹(yi)對導線將被(bei)測(ce)電阻的(de)電壓(ya)引(yin)入數(shu)字(zi)多用表(biao)進(jin)行(xing)測(ce)量(liang)，其測(ce)試(shi)原(yuan)理如下(xia)圖(tu)所示(shi) ：

Ux為對應(ying)測試(shi)點得到(dao)的(de)電壓(ya)信號， R1、R3、R4、R6分別為四(si)段測(ce)量(liang)導線的電阻值(zhi)及(ji)與(yu)樣(yang)品(pin)的接觸(chu)電阻，R2、R5為(wei)電源(I+/I-)導線端(duan)與(yu)測量(liang)(U+/U-)導線端(duan)間(jian)的(de)樣(yang)品(pin)電阻， 由(you)於(yu)測(ce)量(liang)端(duan)放大器(qi)輸入阻抗(kang)遠大於(yu)被(bei)測(ce)電阻Rx， 而R3、R4較(jiao)小(xiao)，測(ce)量(liang)導線上的(de)壓(ya)降可(ke)以(yi)忽(hu)略不(bu)計(ji)，R1、R2、R5、R6雖(sui)然(ran)在(zai)測(ce)試(shi)電流回路中，但(dan)測量(liang)僅以(yi)測量(liang)端(duan)為準(zhun)，其(qi)壓(ya)降不會出(chu)現(xian)在(zai)測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)中。 因(yin)而，四(si)端(duan)法測(ce)電阻能(neng)夠(gou)消(xiao)除(chu)接觸(chu)電阻和(he)引(yin)線電阻的(de)影(ying)響。