JWDL-1型(xing)金(jin)屬(shu)電(dian)阻率(lv)測試儀(yi)是(shi)壹(yi)款針對於不(bu)同(tong)金屬材(cai)料(liao)電(dian)阻測試的(de)專(zhuan)業(ye)設備(bei)，不(bu)管是(shi)銅金(jin)屬(shu)材(cai)料(liao)，導(dao)電(dian)金(jin)屬箔(bo)材(cai)，金(jin)屬(shu)片(pian)等(deng)，柔性材(cai)料(liao)導(dao)電(dian)薄(bo)膜(mo)、金(jin)屬(shu)塗(tu)層或(huo)薄(bo)膜(mo)、陶(tao)瓷(ci)或(huo)玻(bo)璃等基(ji)底(di)上導電(dian)膜（ITO膜(mo)）或納(na)米(mi)塗(tu)層都(dou)可(ke)以(yi)采(cai)用(yong)這款設備，金(jin)屬(shu)電(dian)阻率(lv)測試方(fang)案核(he)心(xin)原則：壹(yi)是(shi)可(ke)以(yi)用專(zhuan)門測試金屬材(cai)料(liao)電(dian)阻率(lv)的(de)鎢(wu)針探(tan)頭，二是(shi)要知道金屬材(cai)料(liao)的(de)測(ce)試範(fan)圍(wei)能(neng)夠(gou)更(geng)好(hao)的(de)為(wei)妳選(xuan)配四(si)探(tan)針測(ce)試儀(yi)。金屬(shu)材(cai)料(liao)屬(shu)於(yu)硬(ying)質(zhi)材(cai)料(liao)，必(bi)須(xu)要選擇(ze)碳(tan)化鎢針探(tan)頭，這種(zhong)探

DRJS-2型(xing)電(dian)容(rong)器金屬化膜測試儀(yi)是(shi)壹(yi)款專門應用(yong)於(yu)電容(rong)器薄(bo)膜(mo)測(ce)試的(de)設(she)備(bei)， PET薄(bo)膜(mo)上金屬(shu)化膜，真(zhen)空鍍膜和(he)噴鍍工藝(yi)形成(cheng)，金(jin)屬膜厚(hou)度(du)極(ji)薄(bo)，附(fu)著(zhe)力(li)差，容(rong)易脫落(luo)。 薄(bo)膜(mo)專(zhuan)用(yong)測(ce)試探頭自(zi)帶(dai)彈簧(huang)收(shou)縮(suo)功(gong)能(neng)，很好(hao)的(de)解(jie)決(jue)了金(jin)屬(shu)膜的(de)測(ce)試弱點(dian)，自主(zhu)研發的(de)高(gao)精(jing)準(zhun)度(du)測試儀(yi)和(he)專用(yong)型測(ce)試臺搭(da)配，測(ce)試探頭測(ce)采(cai)用(yong)最(zui)新(xin)的(de)平行四刀法(fa)，讓(rang)樣品測試數據更穩定，重復性更(geng)好(hao)。 DRJS-2型電(dian)容(rong)器金屬化膜測試儀(yi)是(shi)目前納(na)米(mi)材(cai)料(liao)和(he)柔性(xing)材(cai)料(liao)研究(jiu)的(de)重(zhong)

晶(jing)圓是(shi)指矽(gui)半(ban)導(dao)體(ti)集(ji)成(cheng)電(dian)路制(zhi)作(zuo)所用(yong)的(de)矽(gui)晶(jing)片，其(qi)形狀為(wei)圓形；晶(jing)圓高溫測(ce)試是(shi)集(ji)成(cheng)電(dian)路行業(ye)壹(yi)道重要制(zhi)程(cheng)，通過(guo)嚴格(ge)的(de)高(gao)溫(wen)測試可(ke)以(yi)預(yu)先(xian)剔除不良芯片，降(jiang)低(di)後(hou)續(xu)高昂的(de)封(feng)裝成(cheng)本(ben)。WSHD-600型晶(jing)圓均(jun)勻加熱裝置(zhi)是(shi)壹(yi)種(zhong)特(te)殊設(she)計的(de)均(jun)勻加熱裝置(zhi)。為保(bao)證(zheng)晶(jing)圓高溫測(ce)試精(jing)度(du)，要求(qiu)整個(ge)吸(xi)盤(pan)表(biao)面(mian)各點(dian)的(de)溫(wen)度(du)控制(zhi)在(zai)設(she)定溫度(du)±1℃的(de)範(fan)圍(wei)內(nei)，最(zui)大(da)可(ke)以(yi)達(da)到(dao)±0.03℃，是(shi)目前研究(jiu)晶(jing)圓半(ban)導(dao)體(ti)重要輔助工(gong)具(ju)。