描述(shu)：產(chan)品簡介

GWJDN-1000B高(gao)溫(wen)介電溫(wen)譜分(fen)析(xi)儀采(cai)用當前的(de)自動平衡電橋原(yuan)理(li)研(yan)制成(cheng)功(gong)的(de)新壹(yi)高(gao)溫(wen)介電溫(wen)譜分(fen)析(xi)儀，產品全(quan)新(xin)的(de)電子(zi)器件(jian)。.了(le)傳(chuan)統(tong)國(guo)產(chan)儀(yi)器(qi)復雜(za)繁(fan)瑣(suo)的(de)操(cao)作界面(mian)。基(ji)於Windows10操(cao)作系(xi)統(tong)。實現(xian)了全(quan)電(dian)腦化(hua)操(cao)作界面(mian)。讓測試更智能(neng)、更簡便。

T 120MHz的(de)頻率瓶頸:解決了國(guo)外(wai)同(tong)類(lei)儀(yi)器只能(neng)分(fen)析(xi)、無法單(dan)獨測試的(de)缺陷:中英文(wen)操(cao)作界面(mian)也(ye)解(jie)決了國(guo)外(wai)儀(yi)器(qi)僅(jin)有英文界(jie)面的(de)增(zeng)尬(ga):采(cai)用單測和分(fen)析(xi)兩(liang)種界(jie)面(mian)。

GWJDN-1000B高(gao)溫(wen)介電溫(wen)譜分(fen)析(xi)儀

關鍵詞(ci)：彈(dan)性常(chang)數(shu)等(deng)C-V ,介電常(chang)數(shu)，損耗(hao)角，電(dian)導(dao)率，C-特(te)性

產(chan)品簡介

GWJDN-1000B高(gao)溫(wen)介電溫(wen)譜分(fen)析(xi)儀采(cai)用當前的(de)自動平衡電橋原(yuan)理(li)研(yan)制成(cheng)功(gong)的(de)新壹(yi)高(gao)溫(wen)介電溫(wen)譜分(fen)析(xi)儀，產品全(quan)新(xin)的(de)電子(zi)器件(jian)。.了(le)傳(chuan)統(tong)國(guo)產(chan)儀(yi)器(qi)復雜(za)繁(fan)瑣(suo)的(de)操(cao)作界面(mian)。基(ji)於Windows10操(cao)作系(xi)統(tong)。實現(xian)了全(quan)電(dian)腦化(hua)操(cao)作界面(mian)。讓測試更智能(neng)、更簡便。

T 120MHz的(de)頻率瓶頸:解決了國(guo)外(wai)同(tong)類(lei)儀(yi)器只能(neng)分(fen)析(xi)、無法單(dan)獨測試的(de)缺陷:中英文(wen)操(cao)作界面(mian)也(ye)解(jie)決了國(guo)外(wai)儀(yi)器(qi)僅(jin)有英文界(jie)面的(de)增(zeng)尬(ga):采(cai)用單測和分(fen)析(xi)兩(liang)種界(jie)面(mian)。讓測試更簡單。

快(kuai)達(da)2.5ms的(de)測試速度(du)、及高(gao)達(da)100MQ的(de)阻抗(kang)測試範(fan)圖可(ke)以(yi)滿(man)足(zu)元件(jian)與材料的(de)測量基(ji)求。特(te)別有利(li)於低(di)損耗(hao)(D)電(dian)容(rong)器(qi)和(he)高(gao)品(pin)質(zhi)因數(shu)Q)電感器的(de)測量。四(si)端(duan)對的(de)端(duan)口配(pei)置(zhi)方(fang)式可(ke)有(you)效(xiao)消除測試線(xian)電磁耦(ou)合(he)的(de)影響(xiang)。將(jiang)低阻抗(kang)測試能(neng)力(li)的(de)下限(xian)比(bi)常(chang)規(gui)五端(duan)配(pei)置(zhi)的(de)儀器向下擴(kuo)展了十倍。

主(zhu)要性能(neng)特(te)點(dian)

測試頻(pin)率: 10Hz-1 30MHz

高(gao)精(jing)度(du):采(cai)用自動平衡電橋技術，四(si)端(duan)對測試配(pei)置(zhi)

高(gao)穩(wen)定性和壹(yi)致(zhi)性

高(gao)速度(du):最(zui)快達(da)2.5ms的(de)測試速度(du)

高(gao)分(fen)辨: 10. 1英(ying)寸(cun)電(dian)容(rong)式觸(chu)摸屏(ping),分(fen)辨率(lv)1280*800

點(dian)測、列表(biao)掃(sao)描(miao)、圖形掃(sao)描(miao)、等(deng)效電(dian)路、晶(jing)體(ti)振(zhen)蕩(dang)器分(fen)析(xi)五種測試方(fang)式

1601點(dian)多參數(shu)列表掃(sao)描(miao)功能(neng)

四(si)參數(shu)測量

自動電(dian)平控(kong)制(ALC) 功能(neng)

4通(tong)道(dao)圖形(xing)掃(sao)描(miao)功能(neng)，每(mei)通(tong)道(dao)可(ke)顯(xian)示(shi)4條(tiao)曲線(xian),通(tong)道(dao)和曲線(xian)有(you)14種分(fen)屏(ping)顯(xian)示(shi)方(fang)式

強(qiang)大的(de)分(fen)選(xuan): LCR模(mo)式10檔分(fen)選(xuan)

圖(tu)形掃(sao)描(miao)模(mo)式每(mei)條曲線(xian)單(dan)獨分(fen)選(xuan)

高(gao)兼容(rong)性:支持SCPI指令集,兼容(rong)KEYSIGHT E4990A、E4980A、E4980AL、HP4284A

A.高(gao)精(jing)度(du)

自動平衡電橋技術的(de)應用，得(de)以在(zai)10Hz-1 30MHz頻率(lv)、1mQ -100M的(de)阻抗(kang)範(fan)圍(wei)內(nei)都(dou)能(neng)達(da)到理(li)想(xiang)的(de)測量精(jing)度(du)，其(qi)中最(zui)高(gao)精(jing)度(du)達(da)0.08%，遠遠高(gao)於(yu)射(she)頻反(fan)射(she)測童法(fa)的(de)阻抗(kang)分(fen)析(xi)儀、網(wang)絡分(fen)析(xi)儀的(de)精度(du)。

應(ying)用

■無源(yuan)元件(jian):

電(dian)容(rong)器(qi)、電(dian)感(gan)器(qi)、磁芯(xin)、電阻器、電器件(jian)、變(bian)壓(ya)器(qi)、芯(xin)片組(zu)件(jian)和(he)網(wang)絡元件(jian)等(deng)的(de)阻抗(kang)參數(shu)評估和性能(neng)分(fen)析(xi)。

■半(ban) 導(dao)體(ti)元件(jian):

LED驅(qu)動集(ji)成(cheng)電(dian)路寄生(sheng)參數(shu)測試分(fen)析(xi);變容(rong)二極管的(de)C-VDC特性;晶體(ti)管或(huo)集(ji)成(cheng)電(dian)路的(de)寄生(sheng)參數(shu)分(fen)析(xi)

■ 其(qi)它元件(jian):

印(yin)制電路板、繼(ji)電(dian)器(qi)、開(kai)關、電纜、電池等(deng)阻抗(kang)評(ping)估

介質(zhi)材料:

塑料、陶(tao)瓷(ci)和其(qi)它材(cai)料的(de)介電常(chang)數(shu)和損耗(hao)角評(ping)估

磁性材料:

鐵(tie)氧(yang)體(ti)、非(fei)晶體(ti)和(he)其(qi)它磁性材料的(de)導(dao)磁率(lv)和(he)損耗(hao)角評(ping)估

半(ban)導(dao)體(ti)材(cai)料:

半(ban)導(dao)體(ti)材(cai)料的(de)介電常(chang)數(shu)、電導(dao)率和(he)C-特(te)性

液晶(jing)單(dan)元:

介電常(chang)數(shu)、彈性常(chang)數(shu)等(deng)C-V特性

B.高(gao)穩(wen)定性和高(gao)壹(yi)致(zhi)性

下(xia)圖是(shi)在(zai)速度(du)5、則(ze)試(shi)頻率1MHz，測量100Ω電(dian)阻的(de)曲線(xian)，由(you)下圖可(ke)見(jian)其(qi)軌(gui)跡噪聲≤0.003%（≤±0.0015Ω）

C.高(gao)速度(du)

D.10. 1時(shi)大屏(ping)，四(si)種測裏參數(shu)，讓細節(jie)壹(yi)覽無遺(yi)

10. 1寸(cun)觸(chu)摸屏(ping)、1280*800分(fen) 辨率(lv)，Windows10系(xi)統(tong) 、中英文(wen)操(cao)作界面(mian)，支持鍵盤、鼠(shu)標(biao)、LAN、VGA/ HOMI接口(kou)，帶(dai)來的(de)是(shi)無以倫(lun)比的(de)操(cao)作便捷(jie)性。

大(da)屏(ping)幕(mu)帶(dai)來(lai)更多的(de)好處是(shi)，可(ke)以(yi)把所有測試參數(shu)及分(fen)選(xuan)參數(shu)、分(fen)選(xuan)結果(guo)、功(gong)能(neng)選(xuan)擇(ze)等(deng)參數(shu)放置在(zai)同(tong)壹(yi)屏(ping)幕(mu)，而(er)且(qie)看(kan)起來絕(jue)不(bu)擁擠和雜(za)亂(luan)，同(tong)時(shi)可(ke)以(yi)顯(xian)示(shi)四(si)種測量參數(shu)，四(si)種測量參數(shu)任意可(ke)調(tiao)。屏(ping)幕(mu)左(zuo)邊(bian)的(de)按(an)鈕可(ke)以(yi)快(kuai)捷(jie)選(xuan)擇(ze)8套(tao)測試參數(shu)

E.增(zeng)強(qiang)的(de)列表掃(sao)描(miao)功能(neng)

可(ke)以(yi)最(zui)多設(she)置(zhi)1 601點(dian)的(de)列表掃(sao)描(miao)，每(mei)個點(dian)可(ke)以(yi)單(dan)獨(du)設(she)置(zhi)測試頻(pin)率、測試電(dian)壓、直流偏(pian)置(zhi)等(deng)測試條(tiao)件(jian)。

F.強(qiang)大的(de)分(fen)析(xi)圖形界面(mian)

最(zui)多通(tong)道(dao)可(ke)以(yi)最(zui)多顯(xian)示(shi)4條(tiao)曲線(xian)。通(tong)道(dao)和曲線(xian)各(ge)有(you)十(shi)四(si)種分(fen)屏(ping)顯(xian)示(shi)方(fang)法

G.分(fen)段(duan)掃(sao)描(miao)功能(neng)

最(zui)多可(ke)以(yi)4通(tong)道(dao)同(tong)時(shi)顯(xian)示(shi)，每(mei)個通(tong)道(dao)可(ke)以(yi)最(zui)多顯(xian)示(shi)4條(tiao)曲線(xian)。通(tong)道(dao)和曲線(xian)各(ge)有(you)十(shi)四(si)種分(fen)屏(ping)顯(xian)示(shi)方(fang)法。分(fen)段(duan)掃(sao)描(miao)是(shi)在(zai)壹(yi)個(ge)掃(sao)描(miao)周(zhou)期內(nei)，設(she)置(zhi)不(bu)同(tong)的(de)頻率分(fen)段(duan)進(jin)行掃(sao)描(miao)，掃(sao)描(miao)時(shi)可(ke)設(she)置(zhi)不(bu)同(tong)的(de)電平及偏(pian)置，掃(sao)描(miao)結果(guo)直接圖形顯(xian)示(shi)，用於需(xu)要快(kuai)速篩選(xuan)多個(ge)頻率段(duan)參數(shu)的(de)掃(sao)描(miao)需(xu)求。

如(ru)晶體(ti)諧振(zhen)器(qi)需(xu)要測試標(biao)稱(cheng)諧振(zhen)/抗(kang)諧振(zhen)頻(pin)率以(yi)及其(qi)他雜(za)散頻率，通(tong)過(guo)分(fen)段(duan)掃(sao)描(miao)共(gong)呢(ne)個(ge)可(ke)在(zai)特定(ding)頻率(lv)範圍(wei)內(nei)掃(sao)描(miao)測量，無需(xu)掃(sao)描(miao)不(bu)相關頻率(lv)。

H.強(qiang)大的(de)光(guang)標(biao)分(fen)析(xi)能(neng)力(li)

TH2851系(xi)列精(jing)密阻抗(kang)分(fen)析(xi)儀具有強(qiang)大的(de)光(guang)標(biao)分(fen)析(xi)能(neng)力(li)，可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)光(guang)標(biao)實現(xian)如(ru)下功(gong)能(neng):

1.讀(du)取(qu)測量結果(guo)的(de)數(shu)值(作為絕(jue)對(dui)數(shu)值或者(zhe)相對(dui)於參考點(dian)的(de)相對(dui)值)

2.查(zha)找曲線(xian)上(shang)的(de)特定點(dian)(光(guang)標(biao)查找)

3.分(fen)析(xi)曲線(xian)測量結果(guo)，計(ji)算統(tong)計(ji)數(shu)據(ju)

4.使用光(guang)標(biao)值修(xiu)改(gai)掃(sao)描(miao)範圍(wei)以(yi)及縱(zong)坐(zuo)標(biao)縮放

TH2851可(ke)以(yi)在(zai)每(mei)條曲線(xian)上(shang)顯(xian)示(shi)10個(ge)光(guang)標(biao)，包(bao)括了(le)參考光(guang)標(biao)。

每(mei)個光(guang)標(biao)有壹(yi)個(ge)激(ji)勵(li)值( 坐(zuo)標(biao)系(xi)x軸對(dui)應的(de)數(shu)值)和響(xiang)應(ying)值(坐(zuo)標(biao)系(xi)Y軸對(dui)應的(de)數(shu)值)。

光(guang)標(biao)查找功能(neng)允許(xu)搜(sou)索下(xia)列條件(jian)測量點(dian):最(zui)大值、最(zui)小值

峰谷值:峰值(極大值)、 谷值(極小值)、 光(guang)標(biao)左側(ce)最(zui)近的(de)峰谷值、光(guang)標(biao)右側最(zui)近的(de)峰谷值、多重(zhong)峰谷值

目(mu)標(biao)值:距(ju)離(li)光(guang)標(biao)最(zui)近的(de)目(mu)標(biao)值 、光(guang)標(biao)左側(ce)最(zui)近的(de)目(mu)標(biao)值、光(guang)標(biao)右側最(zui)近的(de)目(mu)標(biao)值、多重(zhong)目(mu)標(biao)值

G.強(qiang)大的(de)圖形分(fen)析(xi)功能(neng)

1) 曲線(xian)分(fen)選(xuan)功能(neng)

可(ke)以(yi)對(dui)掃(sao)描(miao)曲線(xian)全(quan)部(bu)或者(zhe)部(bu)分(fen)區域(yu)的(de)測試值進(jin)行合(he)格(ge)/不(bu)合(he)格(ge)判斷(duan),常(chang)用於諧振(zhen)曲線(xian)刷選(xuan)如(ru)壓電(dian)元件(jian)等(deng)諧振(zhen)頻(pin)率篩(shai)選(xuan)。

2)等(deng)效電(dian)路分(fen)析(xi)測試

現(xian)實生活中不(bu)同(tong)類(lei)型(xing)的(de)器件(jian)可(ke)以(yi)械(xie)等(deng)效成(cheng)簡單的(de)三(san)參數(shu)四(si)種模(mo)型、四(si)參數(shu)三(san)種模(mo)型的(de)阻抗(kang)器(qi)件(jian)，等(deng)效電(dian)路3分(fen)析(xi)則式功(gong)能(neng)提(ti)供了7種基(ji)本電路模(mo)型用於等(deng)效這(zhe)些器(qi)件(jian)。

可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)仿(fang)真的(de)等(deng)效電(dian)路參數(shu)值的(de)阻抗(kang)擬合(he)曲線(xian)與實際測重的(de)阻抗(kang)曲線(xian)進(jin)行對(dui)比，還(hai)可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)您(nin)輸(shu)入(ru)的(de)參數(shu)按(an)照所選(xuan)擇(ze)的(de)摸型進(jin)行擬合(he)。

等(deng)效的(de)電路模(mo)型可(ke)以(yi)直接輸出成(cheng)TIT文(wen)檔方(fang)便用戶(hu)保存(cun)使用

3)晶(jing)體(ti)振(zhen)蕩(dang)器分(fen)析(xi)

對(dui)壓電(dian)陶(tao)瓷(ci)等(deng)晶體(ti)進(jin)行列(lie)量以及性能(neng)分(fen)析(xi)，測重計(ji)算後(hou)獲(huo)取(qu)晶(jing)體(ti)的(de)諧振(zhen)頻(pin)軍、反(fan)諧振(zhen)頻(pin)率.品(pin)質(zhi)因數(shu)等(deng)重要(yao)參數(shu)。

4)曲線(xian)軌(gui)跡對比

曲線(xian)軌(gui)跡對比用於對被測件(jian)進(jin)行連(lian)續測童，所(suo)有曲線(xian)顯(xian)示(shi)在(zai)同(tong)壹(yi)個(ge)坐(zuo)標(biao)系(xi)中。由(you)下列兩(liang)種應(ying)用:

a)針(zhen)對多種不(bu)同(tong)被測件(jian)

對(dui)比不(bu)同(tong)測量條(tiao)件(jian)下(xia)的(de)曲線(xian)軌(gui)跡

設(she)置(zhi)不(bu)同(tong)的(de)頻率點(dian)，計(ji)算出所(suo)有曲線(xian)在(zai)該頻(pin)率點(dian)的(de)測量值

b)針(zhen)對同(tong)壹(yi)個(ge)被測件(jian)

對(dui)比同(tong)壹(yi)個(ge)條(tiao)件(jian)下(xia)測量的(de)多次(ci)測量結果(guo)重(zhong)復性

設(she)置(zhi)不(bu)同(tong)頻(pin)率(lv)點(dian)，計(ji)算出所(suo)有曲線(xian)在(zai)該頻(pin)率點(dian)的(de)測童值。

F.標(biao)配(pei)附(fu)件(jian)