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          • 電卡效(xiao)應(ying)測試(shi)儀 ECM (ElectroCalori
            電卡效(xiao)應(ying)測試(shi)儀 ECM (ElectroCalori

            電卡效(xiao)應(ying)測試(shi)儀 ECM$n(ElectroCaloric Measurement)$n$n本系統除(chu)了(le)可(ke)以測試(shi)材料(liao)的鐵電、壓(ya)電、熱釋(shi)電性能(neng)外(wai),還(hai)可(ke)以用於(yu)測試(shi)材料(liao)在(zai)寬(kuan)溫(wen)度範(fan)圍內(nei)的電卡性(xing)能(neng)。$n$n電卡測試(shi)性能(neng)參(can)數:$n溫度範(fan)圍: -50℃到(dao)200℃$n溫(wen)度靈敏度: 20mK

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          • SWXWY-600型(xing)*材料(liao)高(gao)低溫應(ying)變測量(liang)系統
            SWXWY-600型(xing)*材料(liao)高(gao)低溫應(ying)變測量(liang)系統

            SWXWY-600型(xing)*材料(liao)高(gao)低溫三維(wei)顯(xian)微應(ying)變測量(liang)系統系統——光(guang)學(xue)顯(xian)微鏡(jing)和DIC數字(zi)圖(tu)像相(xiang)關技術的(de)結(jie)合,可(ke)以滿足(zu)納(na)米(mi)級精(jing)度測量(liang)需求。SWXWY-600型(xing)*材料(liao)三維(wei)顯(xian)微應(ying)變測量(liang)系統系統彌補(bu)了傳統設(she)備(bei)無法(fa)進(jin)行(xing)微小(xiao)物體變形測量(liang)的不(bu)足(zu),成為(wei)微觀尺度領(ling)域(yu)變(bian)形應(ying)變測量(liang)的壹(yi)個有(you)力工具(ju)。該(gai)設備對於*材料(liao)各(ge)種(zhong)參數的(de)測量(liang),如(ru):楊氏(shi)模(mo)量(liang)、泊松(song)比(bi)、彈(dan)塑(su)性(xing),微觀應(ying)變等(deng),對於材料(liao)的研(yan)究有(you)著重(zhong)要作用(yong)。

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          • RRAM阻(zu)變(bian)式存儲器(qi)測試(shi)儀
            RRAM阻(zu)變(bian)式存儲器(qi)測試(shi)儀

            應(ying)用領(ling)域(yu)主要有(you): Ferroelectric/ Multiferroic Tunnel-Junctions (FTJ/MFTJ) 鐵電/多鐵隧道(dao)結(jie) Electro-Chemical Metallization Memory (ECM) 電化反應(ying)存儲器(qi) Magnetoresistive Tunnel-Junctions (MTJ) 磁阻(zu)隧(sui)道(dao)結(jie) Electronic Effect Memory (EE

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          • aixPES壓(ya)電材料(liao)綜(zong)合表征(zheng)測試(shi)系統
            aixPES壓(ya)電材料(liao)綜(zong)合表征(zheng)測試(shi)系統

            aixPES壓(ya)電材料(liao)綜(zong)合表征(zheng)系統 本系統主要用於(yu)壓(ya)電塊體(ti)陶瓷(ci)樣(yang)品(pin)的(de)全(quan)面電性能(neng)和機(ji)電性能(neng)的(de)表征(zheng)。 大(da)信號和小(xiao)信號材料(liao)的特征(zheng)可(ke)以在(zai)壹(yi)定(ding)溫度範(fan)圍內(nei)表征(zheng)。樣(yang)品(pin)上(shang)的(de)電流響(xiang)應(ying)測量(liang)是通(tong)過(guo)精(jing)確的(de)虛擬(ni)接(jie)地方法(fa)衡量(liang)電壓(ya)激勵(li)信號。樣(yang)品(pin)的(de)微位(wei)移同時通過(guo)激光(guang)幹涉儀(yi)進(jin)行(xing)測量(liang)。

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          • aixPES-DR鐵電自放(fang)電測試(shi)儀
            aixPES-DR鐵電自放(fang)電測試(shi)儀

            本設備主要用來研(yan)究電介質(zhi)材料(liao)的自漏電性。 由(you)於(yu)測試(shi)條(tiao)件非(fei)常(chang)接近實(shi)際情況(kuang),因(yin)此(ci)通過這種(zhong)方式可(ke)容易(yi)地測試(shi)應(ying)用於(yu)DRAM材料(liao)的合適(shi)性(xing)。 技術說(shuo)明(ming):

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          • TF Analyzer 3000鐵電壓(ya)電分析儀
            TF Analyzer 3000鐵電壓(ya)電分析儀

            TF Analyzer 3000鐵電壓(ya)電分析儀 TF ANALYZER 3000E是壹(yi)款擴展性(xing)的(de)高(gao)速(su)型(xing)模(mo)塊化(hua)鐵電壓(ya)電分析儀,具(ju)備(bei)鐵電、壓(ya)電、熱釋(shi)電材料(liao)所有(you)基本特性測試(shi)功能(neng),可(ke)與激光(guang)幹涉儀(yi)和SPM掃描(miao)探(tan)針(zhen)顯(xian)微鏡(jing)等(deng)微位(wei)移傳感(gan)器聯用(yong),可(ke)廣泛(fan)地應(ying)用於(yu)如(ru)各(ge)種(zhong)鐵電/壓(ya)電/熱釋(shi)電薄(bo)膜、厚膜、體材料(liao)和電子陶瓷(ci)、鐵電傳感(gan)器/執(zhi)行(xing)器/存儲器(qi)等(deng)領(ling)域(yu)的(de)研(yan)究。

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