
當(dang)前(qian)位置(zhi):首(shou)頁(ye) > 產(chan)品(pin)中(zhong)心(xin) > 光電學測(ce)試系(xi)統 > 三維(wei)顯(xian)微應(ying)變(bian)測(ce)量系(xi)統系(xi)統
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SWXWY-600型*材(cai)料(liao)高低(di)溫(wen)三維(wei)顯(xian)微應(ying)變(bian)測(ce)量系(xi)統系(xi)統——光(guang)學顯微鏡(jing)和DIC數字圖(tu)像相(xiang)關技術(shu)的結合,可以(yi)滿(man)足納米(mi)級(ji)精(jing)度(du)測(ce)量需(xu)求。SWXWY-600型*材(cai)料(liao)三維(wei)顯(xian)微應(ying)變(bian)測(ce)量系(xi)統系(xi)統彌(mi)補(bu)了傳統設(she)備無(wu)法進行微(wei)小(xiao)物體(ti)變形(xing)測(ce)量的不足,成(cheng)為微觀(guan)尺(chi)度領域變(bian)形應變(bian)測(ce)量的壹個有(you)力工具(ju)。該設(she)備對(dui)於(yu)*材(cai)料(liao)各(ge)種(zhong)參數的測(ce)量,如:楊氏(shi)模量、泊松比、彈塑性,微觀應變(bian)等(deng),對於(yu)材(cai)料(liao)的研(yan)究有(you)著(zhe)重要(yao)作用。