描(miao)述：電(dian)卡(ka)效(xiao)應測(ce)試儀 ECM
(ElectroCaloric Measurement)

本(ben)系(xi)統除(chu)了可以(yi)測試(shi)材(cai)料(liao)的鐵(tie)電(dian)、壓電(dian)、熱釋(shi)電(dian)性能外，還(hai)可以(yi)用於(yu)測試(shi)材(cai)料(liao)在(zai)寬(kuan)溫度(du)範(fan)圍(wei)內的電(dian)卡(ka)性能。

電(dian)卡(ka)測試(shi)性能參數：
溫度(du)範(fan)圍(wei): -50℃到200℃
溫(wen)度(du)靈(ling)敏(min)度(du): 20mK

電(dian)卡(ka)效(xiao)應測(ce)試儀 ECM
(ElectroCaloric Measurement)

電(dian)卡(ka)效(xiao)應測(ce)試儀除(chu)了可以(yi)測試(shi)材(cai)料(liao)的鐵(tie)電(dian)、壓電(dian)、熱釋(shi)電(dian)性能外，還(hai)可以(yi)用於(yu)測試(shi)材(cai)料(liao)在(zai)寬(kuan)溫度(du)範(fan)圍(wei)內的電(dian)卡(ka)性能。

電(dian)卡(ka)測試(shi)性能參數：
溫(wen)度範(fan)圍(wei): -50℃到(dao)200℃
溫(wen)度靈(ling)敏(min)度(du): 20mK
熱流時(shi)間範(fan)圍(wei): 1s-1000s
樣(yang)品形(xing)狀(zhuang): 圓(yuan)形(xing)
電(dian)壓: 可達10kV
P-E回(hui)線(xian)測(ce)試(shi): 虛(xu)擬接(jie)地測(ce)試
波(bo)形(xing)：用戶(hu)自(zi)定(ding)、脈(mai)沖、三角波(bo)、正弦(xian)波(bo)、任意波(bo)形(xing)、預定(ding)義(yi)波(bo)形(xing)



優點：
壹(yi)個系(xi)統就(jiu)可以(yi)進行(xing)塊體(ti)陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao)的電(dian)卡(ka)、壓電(dian)和鐵(tie)電(dian)性能進行(xing)綜(zong)合評(ping)價(jia)，如(ru)傳感器和執(zhi)行(xing)器
單(dan)壹軟(ruan)件(jian)進行(xing)外部(bu)硬(ying)件(jian)控制(zhi)（如(ru)溫度控(kong)制(zhi)器、高壓放大器、位移(yi)傳感(gan)器、示波(bo)器）和數據(ju)采(cai)集
遠(yuan)程接(jie)入(ru)和腳(jiao)本控制(zhi)
選(xuan)件可實現(xian)數據(ju)庫連(lian)接(jie)（ODBC）方便(bian)對材(cai)料(liao)/設(she)備進行(xing)表征(zheng)
針(zhen)對用戶(hu)應用和要(yao)求(qiu)的硬(ying)件(jian)
升(sheng)級服務，用戶(hu)支持

特(te)點(dian)：
支持的硬(ying)件(jian)：
內置(zhi)或外置(zhi)的高壓放大器（+/-100V到(dao)+/-10 kV）
塊(kuai)體(ti)陶(tao)瓷(ci)樣(yang)品夾具
溫(wen)度控(kong)制(zhi)器和溫(wen)度腔
位(wei)移傳(chuan)感(gan)器（如(ru)激光幹(gan)涉(she)儀、電(dian)容或電(dian)感）
外置(zhi)鎖相放大器或阻抗橋

測(ce)試功(gong)能(neng)：
大(da)信號電(dian)極(ji)化和位(wei)移（單壹(yi)極(ji)化和雙化）
小(xiao)信號電(dian)容、損耗、壓電(dian)系數與單壹(yi)和雙極(ji)直流偏(pian)壓
電(dian)性能和機電(dian)性能隨溫度的變化研究(jiu)
熱釋(shi)電(dian)測試
漏電(dian)流測(ce)試(shi)
疲(pi)勞(lao)測試 
用戶(hu)定(ding)義(yi)激勵波(bo)形(xing)

軟(ruan)件：
Windows 7操(cao)作系(xi)統
通(tong)過GPIB或以(yi)太網的遠程接(jie)入(ru)和腳(jiao)本控制(zhi)
通(tong)過ODBC接(jie)口(kou)的數據(ju)庫連(lian)接(jie)
測(ce)試數據(ju)通(tong)過ASCII形(xing)式(shi)輸(shu)出(chu)
測(ce)試數據(ju)交(jiao)換(huan)通(tong)過aixPlorer軟(ruan)件或Resonance Analyzer。