JWDL-1型金(jin)屬(shu)電(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)儀(yi)

關鍵(jian)詞(ci)：金(jin)屬電(dian)阻(zu)，導(dao)電(dian)膜(mo)，金屬(shu)塗(tu)層

JWDL-1型金(jin)屬(shu)電(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)儀(yi)是(shi)壹(yi)款針對(dui)於(yu)不同金(jin)屬材(cai)料(liao)電(dian)阻(zu)測試(shi)的(de)專(zhuan)業(ye)設備，不管是(shi)銅金(jin)屬材(cai)料(liao)，導(dao)電(dian)金(jin)屬箔(bo)材(cai)，金(jin)屬(shu)片等(deng)，柔(rou)性材(cai)料(liao)導(dao)電(dian)薄(bo)膜、金(jin)屬塗層或薄(bo)膜、陶(tao)瓷或(huo)玻(bo)璃等(deng)基(ji)底上導(dao)電(dian)膜(mo)（ITO膜）或(huo)納(na)米(mi)塗層(ceng)都可(ke)以采用(yong)這(zhe)款設備，金屬(shu)電(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)方案核心原(yuan)則(ze)：壹(yi)是(shi)可(ke)以用專(zhuan)門測試(shi)金(jin)屬(shu)材(cai)料(liao)電(dian)阻(zu)率(lv)的(de)鎢針探頭，二是(shi)要知道(dao)金(jin)屬材(cai)料(liao)的(de)測試(shi)範圍能夠更(geng)好的為(wei)妳選(xuan)配(pei)四探(tan)針測試(shi)儀(yi)。金(jin)屬(shu)材(cai)料(liao)屬(shu)於(yu)硬質材(cai)料(liao)，必(bi)須要選(xuan)擇(ze)碳化鎢針探頭，這(zhe)種(zhong)探(tan)頭(tou)具(ju)有(you)耐磨性好，使(shi)用時(shi)間長。WDL-1型(xing)金(jin)屬電(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)儀(yi)是(shi)判(pan)斷金(jin)屬(shu)性質的(de)重要設備，也是(shi)材(cai)料(liao)生(sheng)產(chan)廠家(jia)和(he)科研(yan)的(de)重要設備。

壹(yi)、主(zhu)要應(ying)用領(ling)域：

1、矽類半(ban)導(dao)體(ti)、金屬(shu)、導(dao)電(dian)塑(su)料(liao)類等(deng)硬(ying)質材(cai)料(liao)的(de)電(dian)阻(zu)率(lv)/方阻；

2、柔(rou)性材(cai)料(liao)導(dao)電(dian)薄(bo)膜、金(jin)屬塗層或薄(bo)膜、陶(tao)瓷或(huo)玻(bo)璃等(deng)基(ji)底上導(dao)電(dian)膜(mo)（ITO膜）或(huo)納(na)米(mi)塗層(ceng)等(deng)半(ban)導(dao)體(ti)材(cai)料(liao)的(de)電(dian)阻(zu)率(lv)/方阻

3、電(dian)阻(zu)器(qi)體(ti)電(dian)阻(zu)、金屬(shu)導(dao)體(ti)的低(di)、中值電(dian)阻(zu)以及(ji)開關類接(jie)觸(chu)電(dian)阻(zu)進(jin)行(xing)測量(liang)

4、電(dian)池極(ji)片(pian)等(deng)箔(bo)上塗(tu)層(ceng)電(dian)阻(zu)率(lv)方阻。

二、主(zhu)要技(ji)術(shu)參(can)數：

測量(liang)範圍

1、電(dian)  阻(zu)：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨(bian)率(lv)：1×10-5～1×102 Ω

2、電(dian)阻(zu)率(lv)：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨(bian)率(lv)：1×10-5～1×102 Ω-cm

3、方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨(bian)率(lv)：5×10-5～1×102 Ω/□

4、電(dian)壓(ya)量(liang)程(cheng)： 20.00mV～2000mV

5、電(dian)流(liu)量(liang)程(cheng)： 0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A

6、誤(wu)差(cha)：±0.1%讀(du)數±2 字

7、材(cai)料(liao)尺(chi)寸(cun)：直徑(jing)：圓(yuan)測試(shi)臺直(zhi)接(jie)測試(shi)方式 Φ15～130mm，

         方測試(shi)臺直(zhi)接(jie)測試(shi)方式180mm×180mm，

         長(高(gao))度(du)：測試(shi)臺直(zhi)接(jie)測試(shi)方式 H≤100mm,

         測量(liang)方位: 軸向(xiang)、徑(jing)向(xiang)均可(ke)

8、探頭(tou)類型(xing)：

9、碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探(tan)針(zhen)間距(ju)1.0mm，探針(zhen)壓力: 0～2kg 可(ke)調(tiao)

10、薄(bo)膜方阻探針：Φ0.7mm，直(zhi)線(xian)或(huo)方形(xing)探針(zhen)間距(ju)2.0mm，探針(zhen)壓力: 0～0.6kg 可(ke)調(tiao)

11、電(dian)源(yuan)：輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功(gong)   耗：<20W

12、外形(xing)尺寸(cun)：主(zhu)   機(ji)  220mm（長）×245 mm（寬(kuan)）×100mm（高）

       凈   重：≤2.5kg

導(dao)電(dian)金(jin)屬箔(bo)材(cai)

               金屬(shu)                        銅(tong)金(jin)屬材(cai)料(liao)

我(wo)們(men)專(zhuan)業(ye)提(ti)供功(gong)能材(cai)料(liao)測試(shi)設備及(ji)測試(shi)服(fu)務：

壹(yi)、壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)測試(shi)裝置：ZJ-3型(xing)精密(mi)D33測試(shi)儀(yi)，ZJ-4型(xing)寬(kuan)量(liang)程(cheng)精密(mi)D33測試(shi)儀(yi)，ZJ-5型(xing)疊(die)層(ceng)壓(ya)電(dian)測試(shi)儀(yi)，ZJ-6型(xing)多(duo)功能參數壓電(dian)測試(shi)儀(yi),GDPT-900A型(xing)高(gao)溫(wen)壓(ya)電(dian)測試(shi)系統(tong),JKZC-YDZK03A型(xing)高(gao)精度(du)壓電(dian)阻(zu)抗分析(xi)儀，YDH-1型(xing)壓電(dian)電(dian)荷(he)測試(shi)儀(yi)，YDB-03型(xing)壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷表面(mian)電(dian)壓(ya)測試(shi)儀(yi)

二、壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)制(zhi)樣(yang)設備：PZT-JH10/4型壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷極(ji)化裝置，PZT-JH20/1型(xing)粉(fen)末極(ji)化裝置

PZT-JH30/3型壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷及(ji)薄(bo)膜綜合(he)極(ji)化裝置，ZJ-D33-YP15型(xing)壓片(pian)機(ji)

三、介(jie)電(dian)材(cai)料(liao)測試(shi)裝置：GWJDN-600型(xing)四通(tong)道高(gao)溫(wen)介(jie)電(dian)測試(shi)儀(yi)，GWJDN-1000型(xing)四通(tong)道高(gao)溫(wen)介(jie)電(dian)測試(shi)儀(yi)

四：鐵(tie)電(dian)材(cai)料(liao)測測試(shi)儀(yi)：ZT-4A鐵(tie)電(dian)測試(shi)儀(yi) ,FE-5000型(xing)變(bian)溫(wen)鐵(tie)電(dian)測試(shi)系統(tong)，ECM -150型(xing)電(dian)卡(ka)效應(ying)測試(shi)系，DCD-100型(xing)儲能電(dian)介(jie)質充放電(dian)測試(shi)系統(tong)，

五、BKTEM-Dx熱(re)電(dian)材(cai)料(liao)性能測試(shi)儀(yi)

高溫(wen)功(gong)能材(cai)料(liao)測試(shi)設備：

GDPT-900A型高(gao)溫(wen)D33測試(shi)系統(tong)，GWJDN-1000型(xing)四通(tong)道高(gao)低溫(wen)介(jie)電(dian)測試(shi)儀(yi)，HTRT-1000型(xing)導(dao)電(dian)材(cai)料(liao)高(gao)溫(wen)電(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)儀(yi)，JGWDZ-1000型(xing)金(jin)屬高(gao)溫(wen)電(dian)阻(zu)測量(liang)系統(tong)，BWGP-2000型(xing)變(bian)溫(wen)光(guang)譜測試(shi)系統(tong)（高(gao)低(di)溫(wen)光(guang)譜系統(tong)），FSR-600材(cai)料(liao)高(gao)溫(wen)雙(shuang)波(bo)段(duan)發射率(lv)測量(liang)系統(tong)，TSDC/TSC--400 型(xing)熱(re)激勵去(qu)極(ji)化電(dian)流(liu)測量(liang)系統(tong)，GWTF-300高(gao)溫(wen)鐵(tie)電(dian)材(cai)料(liao)測量(liang)系統(tong)  ，HTGSRM-1000型(xing)高(gao)溫(wen)氣敏(min)材(cai)料(liao)測量(liang)系統(tong)，PTC/NTC-500高(gao)溫(wen)熱(re)敏(min)電(dian)阻(zu)材(cai)料(liao)參(can)數測量(liang)分析(xi)系統(tong)，HTRS-1000型(xing)高(gao)溫(wen)半(ban)導(dao)體(ti)材(cai)料(liao)電(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)儀(yi)，PRPM-1000熱(re)釋電(dian)系數高溫(wen)測試(shi)系統(tong)，HTRC-600型(xing)高(gao)溫(wen)導(dao)電(dian)材(cai)料(liao)電(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)系統(tong)，