描(miao)述(shu)：GWJDN-4型(xing)四(si)通(tong)道(dao)同屏(ping)高溫(wen)介電溫(wen)譜測量系統運用(yong)三電(dian)極(ji)法(fa)設計原理(li)測量，並參(can)考(kao)美國A.S.T.M 標準(zhun),采用(yong)Labview系統開發具(ju)備彈(dan)性的(de)自定義(yi)功(gong)能(neng)，可進(jin)行(xing)介電溫(wen)譜、頻(pin)譜、升溫(wen)速度、測量參(can)數等(deng)設置(zhi)，符合壓電(dian)陶(tao)瓷與(yu)其它(ta)新材(cai)料測試多樣化(hua)的(de)需(xu)求。高低(di)溫(wen)介電溫(wen)譜測量系統(-190℃-1000℃）電壓、過(guo)電(dian)流、超(chao)溫(wen)等(deng)異常(chang)情況(kuang)以(yi)保(bao)證測試過(guo)程的(de)安(an)全(quan)。

GWJDN-4型(xing)高低(di)溫(wen)介電溫(wen)譜測量系統介紹：

關(guan)鍵(jian)詞(ci)：四(si)通(tong)道(dao)，溫度：-190℃-1000℃，120MHZ。

GWJDN-4型(xing)四(si)通(tong)道(dao)同屏(ping)高溫(wen)介電溫(wen)譜測量系統運用(yong)三電(dian)極(ji)法(fa)設計原理(li)測量，並參(can)考(kao)美國A.S.T.M 標準(zhun)。高低(di)溫(wen)介電溫(wen)譜測量系統(-190℃-1000℃）采用(yong)Labview系統開發具(ju)備彈(dan)性的(de)自定義(yi)功(gong)能(neng)，可進(jin)行(xing)介電溫(wen)譜、頻(pin)譜、升溫(wen)速度、測量參(can)數等(deng)設置(zhi)，符合壓電(dian)陶(tao)瓷與(yu)其它(ta)新材(cai)料測試多樣化(hua)的(de)需(xu)求。電(dian)壓、過(guo)電(dian)流、超(chao)溫(wen)等(deng)異常(chang)情況(kuang)以(yi)保(bao)證測試過(guo)程的(de)安(an)全(quan)；資(zi)料(liao)保(bao)存(cun)機制(zhi)，當遇(yu)到(dao)電(dian)腦異常瞬(shun)時斷電(dian)可將(jiang)資(zi)料(liao)保(bao)存(cun)於控(kong)制器(qi)中(zhong)，不丟(diu)失試驗(yan)數據，設備重(zhong)新啟(qi)動後(hou)可恢(hui)復原有試(shi)驗(yan)數據。用(yong)於分(fen)析(xi)寬(kuan)頻(pin)、高低(di)溫(wen)條件(jian)下(xia)樣品(pin)的(de)介電系(xi)數、阻(zu)抗(kang)Z、電(dian)抗X、導納Y、電導G、電納B、電(dian)感L、介電損(sun)耗(hao)D、品質因數Q等(deng)物理(li)量，得到(dao)這(zhe)些變(bian)化(hua)曲線(xian)的(de)頻(pin)率譜、溫度譜、介電譜曲線(xian)，可廣(guang)泛(fan)應(ying)用(yong)於鐵(tie)電(dian)壓電(dian)陶(tao)瓷材(cai)料、半(ban)導體(ti)器件(jian)及功能(neng)薄膜材(cai)料等(deng)研(yan)究(jiu)。

高低(di)溫(wen)介電溫(wen)譜測量系統(-190℃-1000℃）產品特點：

1、提供(gong)多方位(wei)的(de)測量功能(neng)和多元化(hua)的(de)價(jia)位(wei)，擁(yong)有更(geng)出色(se)的(de)測量精(jing)度：

匹(pi)配阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀(yi)是采用(yong)當前(qian)的(de)自動平(ping)衡電橋(qiao)原理(li)研(yan)制(zhi)成(cheng)功的(de)新(xin)壹(yi)代(dai)阻(zu)抗(kang)測試儀(yi)器，其(qi)0.05%的(de)基本精(jing)度、最(zui)快(kuai)達5.6ms的(de)測試速(su)度、10Hz-300MHz的(de)頻(pin)率範圍(wei)及(ji)高達1GΩ的(de)阻(zu)抗(kang)測試範圍(wei)可以(yi)滿足(zu)元(yuan)件(jian)與(yu)材(cai)料的(de)測量要求，特(te)別(bie)有利於(yu)低(di)損(sun)耗(hao)(D)電容(rong)器(qi)和(he)高品(pin)質因數(Q)電感器的(de)測量。四(si)端對(dui)的(de)端口配置(zhi)方式(shi)可有(you)效(xiao)消(xiao)除測試線(xian)電磁耦(ou)合的(de)影(ying)響，將(jiang)低(di)阻(zu)抗(kang)測試能(neng)力的(de)下(xia)限比常(chang)規五端配置(zhi)的(de)儀(yi)器(qi)向(xiang)下(xia)擴展(zhan)了(le)十倍。

2、采用(yong)Labview系統開發具(ju)備彈(dan)性的(de)自定義(yi)功(gong)能(neng)，可進(jin)行(xing)介電溫(wen)譜、頻(pin)譜、升溫(wen)速度、測量參(can)數等(deng)設置(zhi)。自動升溫降(jiang)溫(wen)，測試功(gong)能(neng)強大(da)。

3、四(si)通(tong)道(dao)同時(shi)測量，提高效(xiao)率(lv)，增加對(dui)比(bi)測試的(de)精(jing)度；材(cai)料與(yu)結構(gou)匹(pi)配設計夾具(ju),高低(di)溫(wen)穩(wen)定性好、精(jing)度高；溫(wen)介電頻(pin)譜測試功(gong)能(neng)；變溫(wen)阻(zu)抗(kang)測試功(gong)能(neng)；掃頻(pin)測試功(gong)能(neng)；軟件(jian)：采用(yong)C#語言(yan)編(bian)寫，可視(shi)化(hua)程度高，自動測試，同(tong)時顯示四(si)通(tong)道(dao)的(de)測試數據，並(bing)圖(tu)形化(hua)。

4、專(zhuan)用(yong)高頻(pin)測試線(xian)纜，更適合高頻(pin)測量：測試引(yin)線(xian)使用(yong)4端子對(dui)配(pei)置(zhi)以(yi)擴展(zhan)測量端口，附帶(dai)BNC陽頭(tou)連(lian)接(jie)板(ban)，用(yong)於連(lian)接(jie)高溫(wen)爐的(de)測試夾(jia)具(ju)，同(tong)時(shi)測試線(xian)采用(yong)高頻(pin)測試專(zhuan)用(yong)測試線(xian)，設計兩層屏(ping)蔽(bi)，更(geng)適合高頻(pin)介電參(can)數測量。

5、可以(yi)實現(xian)多種(zhong)材(cai)料不同功(gong)能(neng)的(de)測試，高溫(wen)介電，電(dian)阻(zu)測試等(deng)探(tan)測采用(yong)高精(jing)度鉑(bo)金(jin)電(dian)極，抗幹擾(rao)能(neng)力強，測量精(jing)度高

高溫(wen)爐加熱均勻(yun)，可實(shi)現(xian)多種(zhong)氣氛(fen)環(huan)境下(xia)的(de)測試介電系(xi)數、阻(zu)抗(kang)Z、電(dian)抗X、導納Y、電導G、電納B、電(dian)感L、介電損(sun)耗(hao)D、品質因數Q等(deng)物理(li)量，得到(dao)這(zhe)些變(bian)化(hua)曲線(xian)的(de)頻(pin)率譜、溫度譜、介電譜曲線(xian)，多種(zhong)物理(li)參(can)數可實(shi)時(shi)測試專(zhuan)用(yong)的(de)分(fen)析(xi)和(he)測試軟(ruan)件(jian)，可以(yi)自行定義(yi)，保(bao)存(cun)數據。

主(zhu)要(yao)技術參(can)數：

1、溫度範圍(wei)： -190℃-1000℃

2、測溫精(jing)度： 0.1℃

3．升(sheng)溫(wen)速(su)度： 1—20℃/min

4、控(kong)溫(wen)模(mo)式： 程序控制(zhi)，提(ti)供(gong)常溫(wen)、變溫、恒(heng)溫(wen)、升(sheng)溫、降(jiang)溫(wen)等(deng)多種(zhong)組合方式(shi)

5、通(tong)訊接(jie)口： RS-485

6、電極材(cai)質： 鉑銥合金

7、上(shang)電(dian)極： 直(zhi)徑(jing)1.6mm球頭電(dian)極，引(yin)線(xian)帶同軸(zhou)屏(ping)蔽(bi)層(ceng)

8、下(xia)電極(ji)：直(zhi)徑(jing)26.8mm平(ping)面(mian)電(dian)極(ji)，引(yin)線(xian)帶同軸(zhou)屏(ping)蔽(bi)層(ceng)

9、保(bao)護(hu)電(dian)極(ji)：帶(dai)保(bao)護(hu)電(dian)極(ji)，消(xiao)除寄(ji)生電(dian)容(rong)、邊界(jie)電(dian)容(rong)對(dui)測試的(de)影(ying)響

10、電(dian)極(ji)幹擾(rao)屏(ping)蔽：電極引(yin)線(xian)帶同軸(zhou)屏(ping)蔽(bi)，樣(yang)品平(ping)臺(tai)帶(dai)屏(ping)蔽(bi)罩(zhao)

11、夾具(ju)升(sheng)降(jiang)控(kong)制(zhi)： 帶(dai)程序和手(shou)動控制，可更(geng)換夾具(ju)的(de)電(dian)動升降(jiang)裝(zhuang)置(zhi)

12、熱電偶(ou) ：熱電偶(ou)探(tan)頭(tou)與(yu)樣品(pin)平(ping)臺(tai)為(wei)同(tong)壹(yi)熱沈(chen)，測控溫(wen)度與(yu)樣品(pin)溫(wen)度保(bao)持(chi)壹致

13、無(wu)電極(ji)樣品尺寸：直(zhi)徑(jing)小(xiao)於(yu)40mm，厚度小(xiao)於(yu)8mm

14、帶電(dian)極樣(yang)品尺寸： 直(zhi)徑(jing)小(xiao)於(yu)26mm，厚度小(xiao)於(yu)8mm

15、軟件(jian)功能(neng)：自動分析數據，可以(yi)分類保(bao)存(cun)，樣品(pin)和測量方案結合在壹(yi)起，生成(cheng)系統所需(xu)的(de)實(shi)驗(yan)方案，輸出(chu)TXT、XLS、BMP等(deng)格式文件(jian)

16、測量方案：提供(gong)靈活(huo)、豐(feng)富(fu)的(de)測試設置(zhi)功能(neng)，包括頻(pin)率譜、阻(zu)抗(kang)譜、介電譜及其(qi)組合

17、標準(zhun)極(ji)化樣品(pin)：8片(pian)（10mm*1.5mm）

18、配(pei)套(tao)設備裝(zhuang)置(zhi)：能(neng)夠配(pei)合ZJ-3和ZJ-6壓電(dian)測試儀(yi)進行(xing)測量

19、配套(tao)設備裝(zhuang)置(zhi)：可以(yi)配置(zhi)10MM，20MM，30MM，40MM壓片(pian)夾(jia)具(ju)

20、測試頻(pin)率：20HZ-10MHZ

21、測試電(dian)平(ping)：100mV—2V

22、分(fen)辨(bian)率：1MHZ

23、輸(shu)出阻(zu)抗(kang)：100Ω

24、測試參(can)數：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

25、基本準(zhun)確度：0.05%

26、顯示：液(ye)晶(jing)顯示

27、參(can)數測量：多功能(neng)圖(tu)形和(he)參(can)數測量

28、接(jie)口方式(shi)：RS232C或(huo)HANDLER

測試儀(yi)器：

高溫(wen)介電測試系(xi)統可適配(pei)Agilent E4990A/E4294A/E4980A、Wayne Kerr 6500P/B、Tonghui TH2838/TH2839/TH2826/TH2828/TH2829/TH2827等(deng)系列(lie)LCR表(biao)或(huo)阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀(yi)，其他品牌型(xing)號也(ye)可定制開發。

五種(zhong)頻(pin)率選(xuan)擇；20Hz至(zhi)10/20/30/50/120MHz，可升(sheng)級(ji)

±0.08%（典型(xing)值±0.045%）基本阻(zu)抗(kang)測量精(jing)度

25Ωm至(zhi)40MΩ寬阻(zu)抗(kang)測量範圍(wei)（10%測量精(jing)度範圍(wei)）

測量參(can)數：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、復合Z、復合Y、VAC、Iac、VDC、Idc

內(nei)置(zhi)直(zhi)流(liu)偏(pian)置(zhi)範圍(wei)：0V至(zhi)±40V、0A至(zhi)±100mA

10.4 英寸彩色LCD觸(chu)摸屏(ping)上的(de)4通(tong)道(dao)和4跡(ji)線(xian)

數據分(fen)析(xi)功(gong)能(neng)：等(deng)效電(dian)路分析(xi)、極(ji)限線(xian)測試

覆蓋了很(hen)寬的(de)測試頻(pin)率範圍(wei)(40hz至(zhi)110mhz)，具(ju)有(you)±0.08%的(de)基本阻(zu)抗(kang)精(jing)度。其(qi)優(you)異的(de)高q值/低(di)d值精(jing)度使其(qi)能(neng)分析(xi)低損(sun)耗(hao)元件(jian)。其寬信號(hao)電平(ping)範圍(wei)可用(yong)於在實(shi)際工(gong)作條件(jian)下(xia)評估(gu)器件(jian)。測試信(xin)號電(dian)平(ping)範圍(wei)為(wei)5mv至(zhi)1vrms或(huo)200ua至(zhi)20marms，直(zhi)流(liu)偏(pian)置(zhi)範圍(wei)為(wei)0v至(zhi)±40v或(huo)0ma至(zhi)±100ma。校(xiao)準(zhun)和誤差補(bu)償功(gong)能(neng)避(bi)免了進行夾(jia)具(ju)內(nei)器(qi)件(jian)測量時的(de)測量誤差。agilent 4294a是適用(yong)於電(dian)子(zi)元(yuan)件(jian)設計、論證、質量控制(zhi)和(he)生產測試的(de)強(qiang)大(da)工(gong)具(ju)。電(dian)路設計和開發工(gong)程師也能(neng)從(cong)它(ta)提供(gong)的(de)性(xing)能(neng)和功(gong)能(neng)中(zhong)受益(yi)。

基本精(jing)度為(wei)0.1%

測試頻(pin)率為(wei)100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz

量程為20mV～1Vrms，以(yi)5mVrms分檔

具(ju)有(you)測試信(xin)號電(dian)平(ping)監視(shi)功(gong)能(neng)

高速(su)測量25ms

高速(su)接(jie)觸(chu)檢查

大的(de)電(dian)容(rong)測試量程

變壓器(qi)參(can)數測量(供(gong)選用(yong))

Wayne Kerr 6500P/B

簡易(yi)的(de)TFT觸(chu)屏(ping)操(cao)作，10分鐘(zhong)內(nei)輕(qing)易(yi)上手(shou)

電(dian)介質、壓電(dian)片(pian)及(ji)石英晶(jing)體(ti)測試解(jie)決(jue)方案

30ms超(chao)高速(su)測試速(su)度

等(deng)效Rdc可高度精(jing)準四(si)線(xian)式測試，量測到(dao)0.01mΩ

0.05%基本精(jing)確度

可內(nei)建(jian)0-100mA+/- 40V，外(wai)加(jia)可至(zhi)60A DC Bias

可將(jiang)測試波(bo)形儲存(cun)成(cheng)CSV格式，放(fang)大、縮(suo)小(xiao)及(ji)MARKER功能(neng)

20Hz~120MHz，七種(zhong)機型(xing)，可隨(sui)時升(sheng)級(ji)，最高升(sheng)級(ji)到(dao)120MHz

直(zhi)覺(jiao)的(de)用(yong)戶操(cao)作接(jie)口，USB、LAN、GPIB及HANDLER

可使用(yong)鼠(shu)標及鍵(jian)盤(pan)操控(kong)，也可外(wai)接(jie)打(da)印機(ji)及(ji)使用(yong)USB接(jie)口儲存(cun)數據

具(ju)等(deng)效電(dian)路仿真(zhen)功(gong)能(neng)，內(nei)建(jian)同頻(pin)率LCR Meter壹(yi)臺

測試頻(pin)率：20Hz-1MHz，分(fen)辨(bian)率：最(zui)高0.1nHz

基本精(jing)度：0.05%

測試速(su)度：最(zui)快(kuai)5.6ms/次(ci)

測試原理(li)：自動平(ping)衡電橋(qiao)

高穩(wen)定性和壹致性(xing)：高達15個測試量程配置(zhi)