諧(xie)振(zhen)腔法(fa)是(shi)壹(yi)種重(zhong)要的材料測量(liang)方(fang)法(fa)，具(ju)有廣(guang)泛(fan)的(de)應(ying)用(yong)前(qian)景(jing)。隨(sui)著(zhe)科(ke)技的(de)不(bu)斷發展(zhan)，諧(xie)振(zhen)腔法(fa)將(jiang)會在材料(liao)科(ke)學、電子(zi)工(gong)程、通(tong)信技術(shu)等領域(yu)發(fa)揮(hui)越來越(yue)重(zhong)要的作用(yong)。XZQ-5000型(xing)諧(xie)振(zhen)腔法(fa)高溫(wen)介(jie)電溫(wen)譜測試儀(yi)是(shi)為中(zhong)低(di)損(sun)耗(hao)材(cai)料(liao)、均(jun)質材料(liao)、小(xiao)樣(yang)品(pin)測試等需(xu)求而開發的壹(yi)款高精(jing)度(du)高性(xing)價(jia)比(bi)的材(cai)料測試平臺(tai)。融合矢量(liang)網絡分(fen)析(xi)儀(yi)和試夾(jia)具於(yu)壹(yi)體，可(ke)進(jin)行(xing)30MHz到(dao)110GHz頻(pin)率(lv)範圍內的微(wei)波復(fu)介(jie)電(dian)常(chang)數測試。該(gai)系列(lie)產品(pin)精度(du)高、接(jie)口(kou)豐(feng)

微(wei)擾法(fa)復(fu)介電常(chang)數測試系統(tong)是(shi)采用(yong)諧(xie)振(zhen)腔微(wei)擾法(fa)是(shi)壹(yi)種用(yong)於(yu)研(yan)究(jiu)諧(xie)振(zhen)器性(xing)能的方(fang)法(fa)，特別(bie)是(shi)在微(wei)波技術(shu)領域(yu)有廣(guang)泛(fan)應(ying)用(yong)。這種(zhong)方(fang)法(fa)涉(she)及到(dao)在諧(xie)振(zhen)腔內(nei)部引入(ru)微(wei)小的(de)擾動，這些擾動可能來自(zi)於(yu)腔壁(bi)的(de)輕(qing)微(wei)變形或其他(ta)形式(shi)的局部(bu)變化，然後(hou)通(tong)過(guo)對微(wei)擾前(qian)後(hou)場(chang)量(liang)的(de)對(dui)比(bi)和分(fen)析(xi)，來估(gu)算這些變化如何(he)影(ying)響諧(xie)振(zhen)腔的(de)諧(xie)振(zhen)頻(pin)率(lv)和其他相關(guan)參數。微(wei)波介(jie)質(zhi)材(cai)料介電(dian)特性的測量(liang)，對(dui)於(yu)研(yan)究(jiu)材料的微(wei)波特性和制作(zuo)微(wei)波器(qi)件(jian)，獲(huo)得(de)材料(liao)的結構(gou)信息(xi)以(yi)促(cu)進新(xin)材料(liao)的研(yan)制，以(yi)及

JKZC-ST4型(xing)數字(zi)式(shi)四探(tan)針測試儀(yi)是(shi)運用(yong)四(si)探(tan)針測量(liang)原(yuan)理(li)測試電阻(zu)率(lv)/方阻(zu)的(de)多用(yong)途綜合測量(liang)儀(yi)器(qi)。該(gai)儀(yi)器(qi)設計符合(he)GB/T 1551-2009 《矽(gui)單(dan)晶電阻(zu)率(lv)測定(ding)方(fang)法(fa)》、GB/T 1552-1995《矽(gui)、鍺單晶電(dian)阻(zu)率(lv)測定(ding)直(zhi)流(liu)四(si)探(tan)針法(fa)》並參考(kao)美國(guo) A.S.T.M 標準(zhun) 儀(yi)器(qi)具(ju)有測量(liang)精(jing)度(du)高、靈(ling)敏度(du)高、穩定(ding)性(xing)好(hao)、智能化程度(du)高、測量(liang)簡便(bian)、結構(gou)緊湊(cou)、使(shi)用(yong)方(fang)便(bian)等特點。

微(wei)波介(jie)質(zhi)材(cai)料目前(qian)已(yi)經(jing)廣(guang)泛(fan)應(ying)用(yong)於(yu)航空(kong)航(hang)天(tian)、微(wei)波通(tong)信、隱身(shen)技術(shu)、微(wei)波通(tong)信、衛星(xing)通(tong)信、電子(zi)對抗(kang)、雷達導航(hang)、遙感(gan)、遙測等系統(tong)生(sheng)物(wu)醫學、 電磁兼(jian)容(rong)等各領域(yu)在(zai)研(yan)發(fa)、生(sheng)產(chan)和使用(yong)微(wei)波介(jie)質(zhi)材(cai)料時都(dou)需(xu)要測試其電(dian)磁特性參數，AV-40G型(xing)微(wei)波介(jie)質(zhi)材(cai)料電磁特性參數測試系統(tong)是(shi)壹(yi)款設計采用(yong)傳(chuan)輸反(fan)射(she)法(fa)進(jin)行寬(kuan)頻(pin)帶掃(sao)頻(pin)測量(liang)，主要設備(bei)包括(kuo)矢量(liang)網絡分(fen)析(xi)儀(yi)、測試電纜(lan)、測試夾(jia)具和自動測量(liang)軟(ruan)件(jian)，系統(tong)用(yong)於(yu)測量(liang)固體(ti)介(jie)質(zhi)材料的(de)介電常(chang)數、

1. 概(gai)述 隨(sui)著(zhe)工(gong)業(ye)技術(shu)特別(bie)是(shi)信息(xi)產業(ye)發(fa)展(zhan)，靜電對(dui)各(ge)部門(men)的(de)影(ying)響越(yue)來越大(da)，靜電電(dian)壓(ya)表和靜電場(chang)強(qiang)表使用(yong)越(yue)來越(yue)多，對靜電進(jin)行(xing)定(ding)期(qi)計量(liang)校(xiao)準(zhun)、標定(ding)檢(jian)定(ding)是(shi)確保靜電防(fang)護(hu)的基(ji)本(ben)條(tiao)件(jian)。 JKZC-G系列(lie)靜電電(dian)壓(ya)表計量(liang)裝(zhuang)置能迅速(su)準(zhun)確計量(liang)校(xiao)準(zhun)、標定(ding)檢(jian)定(ding)目(mu)前(qian)國(guo)內外(wai)大(da)部(bu)分(fen)的(de)靜電電(dian)壓(ya)表和靜電場(chang)強(qiang)表.。標準(zhun)型(xing)主要適(shi)用(yong)於(yu)電子(zi)、航天(tian)、兵(bing)器、國(guo)防(fang)等與電子(zi)元器(qi)件(jian)、電(dian)子(zi)設備(bei)相(xiang)關(guan)的(de)行(xing)業(ye)。

非接(jie)觸式(shi)靜電電(dian)壓(ya)表校準(zhun)裝(zhuang)置測量(liang)時(shi)勿需(xu)同(tong)帶電(dian)體(ti)接(jie)觸，數字(zi)風(feng)速(su)儀(yi)不(bu)但能測量(liang)金屬體的(de)靜電，也(ye)能測量(liang)絕(jue)緣(yuan)體(ti)的(de)靜電，且對(dui)被(bei)測量(liang)物(wu)體(ti)影(ying)響小(xiao)。非接(jie)觸式(shi)靜電電(dian)壓(ya)表校準(zhun)裝(zhuang)置結構(gou)