描述(shu)：微(wei)擾法復介(jie)電(dian)常(chang)數測(ce)試系統是采(cai)用諧振腔微(wei)擾法是壹(yi)種(zhong)用(yong)於(yu)研(yan)究諧振器(qi)性能的方(fang)法，特(te)別(bie)是(shi)在(zai)微(wei)波(bo)技(ji)術(shu)領(ling)域(yu)有(you)廣(guang)泛應(ying)用。這(zhe)種(zhong)方(fang)法涉及(ji)到在(zai)諧振腔內部(bu)引(yin)入微(wei)小的(de)擾動(dong)，這(zhe)些擾動(dong)可能來自(zi)於腔壁的(de)輕(qing)微(wei)變形(xing)或其他(ta)形式的(de)局部(bu)變(bian)化(hua)，然(ran)後(hou)通過(guo)對(dui)微(wei)擾前(qian)後場量的對(dui)比(bi)和(he)分析，來估(gu)算(suan)這(zhe)些變化如(ru)何(he)影(ying)響諧振腔的諧振頻(pin)率和(he)其他(ta)相(xiang)關參(can)數。微(wei)波(bo)介(jie)質(zhi)材料介(jie)電(dian)特(te)性的測(ce)量，對(dui)於(yu)研(yan)究材(cai)料(liao)的微(wei)波(bo)特(te)性和(he)制作微(wei)波(bo)器(qi)件，獲(huo)得材料(liao)的(de)結構信息(xi)以(yi)促(cu)進(jin)新材(cai)料(liao)的研(yan)制，以(yi)及(ji)

WBFJ-1750型微(wei)擾法復介(jie)電(dian)常(chang)數測(ce)試系統

關鍵(jian)詞：諧振腔，微(wei)波(bo)，介(jie)電(dian)常(chang)數tan

微(wei)擾法復介(jie)電(dian)常(chang)數測(ce)試系統是采(cai)用諧振腔微(wei)擾法是壹(yi)種(zhong)用(yong)於(yu)研(yan)究諧振器(qi)性能的方(fang)法，特(te)別(bie)是(shi)在(zai)微(wei)波(bo)技(ji)術(shu)領(ling)域(yu)有(you)廣(guang)泛應(ying)用。這(zhe)種(zhong)方(fang)法涉及(ji)到在(zai)諧振腔內部(bu)引(yin)入微(wei)小的(de)擾動(dong)，這(zhe)些擾動(dong)可能來自(zi)於腔壁的(de)輕(qing)微(wei)變形(xing)或其他(ta)形式的(de)局部(bu)變(bian)化(hua)，然(ran)後(hou)通過(guo)對(dui)微(wei)擾前(qian)後場量的對(dui)比(bi)和(he)分析，來估(gu)算(suan)這(zhe)些變化如(ru)何(he)影(ying)響諧振腔的諧振頻(pin)率和(he)其他(ta)相(xiang)關參(can)數。微(wei)波(bo)介(jie)質(zhi)材料介(jie)電(dian)特(te)性的測(ce)量，對(dui)於(yu)研(yan)究材(cai)料(liao)的微(wei)波(bo)特(te)性和(he)制作微(wei)波(bo)器(qi)件，獲(huo)得材料(liao)的(de)結構信息(xi)以(yi)促(cu)進(jin)新材(cai)料(liao)的研(yan)制，以(yi)及(ji)促(cu)進(jin)現代技(ji)術(shu)(吸(xi)收材(cai)料和(he)微(wei)波(bo)遙(yao)感)等(deng)都有(you)重(zhong)要(yao)意義(yi)。這(zhe)是研(yan)究新型(xing)關(guan)鍵材(cai)料的重要設(she)備。

壹(yi)、主要(yao)應(ying)用範(fan)圍(wei)：

1、主要(yao)應(ying)用於(yu)5G材(cai)料(liao)，例如(ru)薄(bo)膜等(deng)。

2、高速(su)數(shu)字(zi)/微(wei)波(bo)電(dian)路用基底材(cai)料(liao) ；

3、濾(lv)波(bo)器(qi)和(he)介(jie)電(dian)天(tian)線(xian)用(yong)低損耗(hao)電(dian)介(jie)質(zhi) ；

4、化學(xue)制品； 
      5、薄膜與(yu)新材(cai)料(liao)；半導(dao)體材料；電(dian)子(zi)材(cai)料(liao)（包括CCL和(he)PCB）

二、主要特(te)點：

1、全新架構，更(geng)高精(jing)度采(cai)用了(le)全新的(de)內(nei)部(bu)架構，具(ju)備(bei)更(geng)加強(qiang)大(da)的數(shu)據處理能力，響應(ying)速(su)度更(geng)快(kuai)，能輕松實現4端口(kou)S參數(shu)測(ce)量，差(cha)分（平(ping)衡）測(ce)量，時域(yu)測量、帶寬、Q值(zhi)等(deng)壹(yi)鍵測(ce)量。並且(qie)其動(dong)態範(fan)圍(wei)高達135dB，有(you)著(zhe)極低的(de)相(xiang)位(wei)噪聲(sheng)，可以(yi)幫(bang)助(zhu)工程(cheng)師(shi)在(zai)苛(ke)刻(ke)的測(ce)試場景下(xia)仍獲得準確(que)可靠的測(ce)試結果(guo)。

2、電(dian)子(zi)校(xiao)準件(jian)-讓校準壹(yi)步(bu)到位(wei)：頻(pin)率範(fan)圍(wei)9kHz~40GGHz，能幫助(zhu)工程(cheng)師(shi)解決(jue)使用傳(chuan)統機械(xie)校(xiao)準件(jian)耗(hao)時久(jiu)、誤差(cha)大(da)、操作(zuo)繁(fan)瑣等(deng)問(wen)題。電(dian)子(zi)校(xiao)準件(jian)大(da)幅(fu)縮(suo)減了(le)校準步(bu)驟，減少(shao)了連接(jie)器(qi)的損(sun)耗(hao)，保證了校(xiao)準精(jing)度，極(ji)大的節(jie)省了校準所(suo)需(xu)時間(jian)，為多(duo)端(duan)口(kou)測試和(he)產(chan)線測(ce)試提供(gong)了極大(da)便利(li)。

3、開關(guan)矩陣(zhen)-輕松實現多(duo)端(duan)口(kou)器(qi)件測(ce)試需(xu)求(qiu)：單臺可將(jiang)輸(shu)出(chu)端(duan)口(kou)擴展至(zhi)24個(ge)，還可繼續(xu)疊(die)加。與(yu)傳(chuan)統測量方式相(xiang)比，使(shi)用射頻(pin)開關(guan)矩陣(zhen)測量速(su)度大(da)大提升(sheng)，可以(yi)幫(bang)助(zhu)工程(cheng)師(shi)輕(qing)松實現矢量網絡分析儀和(he)多(duo)端(duan)口(kou)被測(ce)物(wu)的(de)連接(jie)與(yu)測(ce)試，也極大(da)的(de)適配(pei)了生(sheng)產(chan)線使(shi)用(yong)場(chang)景。

4、脈(mai)沖測量功能：內置(zhi)脈(mai)沖調(tiao)制器(qi)和(he)脈(mai)沖發生器(qi)應(ying)用於(yu)測(ce)試諸如(ru)功(gong)率晶(jing)體(ti)管(guan)之類的(de)大(da)功(gong)率(lv)被(bei)測器(qi)件，以(yi)及(ji)需(xu)要工(gong)作(zuo)在(zai)脈(mai)沖模式下(xia)的模(mo)塊(kuai)。連續(xu)波(bo)激(ji)勵(li)所(suo)積(ji)累的熱量可能會損(sun)壞被測器(qi)件，而(er)使(shi)用(yong)脈(mai)沖激勵(li)進(jin)行(xing)測(ce)量可以(yi)安(an)全地(di)對(dui)這(zhe)類器(qi)件的(de)特(te)性進(jin)行(xing)表(biao)征，同時也支(zhi)持(chi)控(kong)制外部(bu)脈(mai)沖生成(cheng)器(qi)和(he)調(tiao)制器(qi)，與(yu)外(wai)部(bu)主(zhu)脈(mai)沖保持(chi)同(tong)步(bu)

5、混頻(pin)器(qi)測量

6、混頻(pin)器(qi)是微(wei)波(bo)毫(hao)米(mi)波(bo)系(xi)統的重(zhong)要(yao)部(bu)件(jian)，其(qi)特(te)性的好(hao)壞(huai)直(zhi)接(jie)影(ying)響設備(bei)或儀器(qi)的性(xing)能。在混(hun)頻(pin)器(qi)研發生產(chan)的各個(ge)階段(duan)，都需(xu)要對(dui)其(qi)性(xing)能指標(biao)進(jin)行(xing)測(ce)量。

三、主(zhu)要(yao)技術參(can)數：

頻(pin)率範(fan)圍(wei)：0.1～40.0GHz

測試溫度：室(shi)溫～1750℃

復介(jie)電(dian)常(chang)數測(ce)試範(fan)圍(wei)：

r= 1.0～30.0

tan=5.0×10-4～5×10-2

r= 0.5～10

tan = 0.001～1.0

測試誤差(cha)：

|r/r|  1.5%  當(dang)r=2.0～30.0

|r|  2.0%  r + 0.02   當(dang)r=1.05～2

|tan|  15.0% tan + 2.010-4

|r/r|  2.0%

|tan|  15% tan + 5.010-4

樣品尺(chi)寸(cun)：

圓(yuan)棒或方棒狀小(xiao)樣品材料(liao)，直(zhi)徑：1.0～6.0mm，高度不(bu)低於30mm；（實際尺(chi)寸(cun)視具體情(qing)況(kuang)而定(ding)）