描述(shu)：微(wei)波介質(zhi)材(cai)料目(mu)前(qian)已經廣泛應用(yong)於航(hang)空航(hang)天、微(wei)波通(tong)信(xin)、隱身(shen)技術(shu)、微(wei)波通(tong)信(xin)、衛(wei)星(xing)通(tong)信(xin)、電(dian)子(zi)對(dui)抗(kang)、雷達(da)導(dao)航(hang)、遙(yao)感、遙(yao)測(ce)等(deng)系統生物醫(yi)學(xue)、 電(dian)磁兼(jian)容(rong)等各(ge)領(ling)域(yu)在研發(fa)、生產和使用(yong)微(wei)波介質(zhi)材(cai)料時(shi)都(dou)需(xu)要(yao)測試(shi)其(qi)電(dian)磁特(te)性參數，AV-40G型微(wei)波介質(zhi)材(cai)料電(dian)磁特(te)性參數測試(shi)系統是(shi)壹(yi)款(kuan)設(she)計采用(yong)傳(chuan)輸反射(she)法(fa)進行(xing)寬(kuan)頻帶掃頻測量(liang)，主要(yao)設(she)備包(bao)括矢(shi)量網絡(luo)分析儀(yi)、測試(shi)電(dian)纜、測試(shi)夾具和自動測(ce)量軟件，系統用(yong)於測量(liang)固體(ti)介質(zhi)材(cai)料的(de)介電(dian)常(chang)數(shu)、

 AV-40G型微(wei)波介質(zhi)材(cai)料電(dian)磁特(te)性參數測試(shi)系統

關鍵(jian)詞：微(wei)波，介質(zhi)材(cai)料電(dian)磁，磁導(dao)率，電(dian)、磁損(sun)耗角正切(qie) ，同(tong)軸空(kong)氣(qi)

壹(yi)、產品(pin)介紹：

微(wei)波介質(zhi)材(cai)料目(mu)前(qian)已經廣泛應用(yong)於航(hang)空航(hang)天、微(wei)波通(tong)信(xin)、隱身(shen)技術(shu)、微(wei)波通(tong)信(xin)、衛(wei)星(xing)通(tong)信(xin)、電(dian)子(zi)對(dui)抗(kang)、、遙(yao)感、遙(yao)測(ce)等(deng)系統生物醫(yi)學(xue)、 電(dian)磁兼(jian)容(rong)等各(ge)領(ling)域(yu)在研發(fa)、生產和使用(yong)微(wei)波介質(zhi)材(cai)料時(shi)都(dou)需(xu)要(yao)測試(shi)其(qi)電(dian)磁特(te)性參數，AV-40G型微(wei)波介質(zhi)材(cai)料電(dian)磁特(te)性參數測試(shi)系統是(shi)壹(yi)款(kuan)設(she)計采用(yong)傳(chuan)輸反射(she)法(fa)進行(xing)寬(kuan)頻帶掃頻測量(liang)，主要(yao)設(she)備包(bao)括矢(shi)量網絡(luo)分析儀(yi)、測試(shi)電(dian)纜、測試(shi)夾具和自動測(ce)量軟件，系統用(yong)於測量(liang)固體(ti)介質(zhi)材(cai)料的(de)介電(dian)常(chang)數(shu)、磁導(dao)率，以(yi)及(ji)電(dian)、磁損(sun)耗角正切(qie)等(deng)性能參數。AV-40G型微(wei)波介質(zhi)材(cai)料電(dian)磁特(te)性參數測試(shi)系統目(mu)前(qian)在國(guo)內(nei)各(ge)大高等院(yuan)校和科(ke)研院(yuan)所(suo)中廣泛使用(yong)。

二、產品(pin)主要(yao)應用(yong)方面(mian)：

1、航(hang)空航(hang)天、微(wei)波通(tong)信(xin)、衛(wei)星(xing)通(tong)信(xin)、

2、隱身(shen)技術(shu)、電(dian)子(zi)對(dui)抗(kang)、導(dao)航(hang)、

3、遙(yao)感、遙(yao)測(ce)等(deng)

4、統生物醫(yi)學(xue)、 電(dian)磁兼(jian)容(rong)

三(san)、產品(pin)主要(yao)特(te)點：

1、精確測(ce)量功(gong)能(neng): 可快(kuai)速、精(jing)確地(di)測量(liang)被(bei)測件S參數(shu)的幅(fu)度(du)、相(xiang)位和群(qun)延遲特(te)性，並根(gen)據(ju)誤(wu)差模型(xing)修(xiu)正測(ce)量(liang)結果(guo)；

2、相(xiang)位修(xiu)正功(gong)能(neng): 反射(she)系數(shu)和傳(chuan)輸系數(shu)計算材(cai)料的(de)復(fu)介電(dian)常(chang)數(shu)、復(fu)磁導(dao)率，及(ji)電(dian)、磁損(sun)耗角正切(qie)等(deng)性能參數；

3、電(dian)磁參(can)數(shu)顯(xian)示功(gong)能(neng); 二維(wei)坐標(biao)系顯(xian)示復(fu)介電(dian)常(chang)數(shu)、復(fu)磁導(dao)率，及(ji)電(dian)、磁損(sun)耗角正切(qie)等(deng)參數；

四(si)、主要(yao)技術(shu):

工作頻率範(fan)圍: 0.5GHz～40GHz

主機頻率分(fen)辨率(lv): 1Hz

主機頻率準(zhun)確度(du): ±1ppm（23ºC±3 ºC）

具體(ti)測量(liang)方式(shi)：同(tong)軸空(kong)氣(qi)N測量(liang)或Ku波段(duan)波導(dao)腔測量(liang)可選(xuan)

測量(liang)方式(shi)：傳(chuan)輸反射(she)法(fa)

測量(liang)點數: ≤1601

工作方(fang)式: 掃頻測量(liang)

測量(liang)重復(fu)性: 優於±0.5Db

測量(liang)參數(shu)：介電(dian)常(chang)數(shu)實(shi)部、虛部(bu)，磁導(dao)率實(shi)部、虛部(bu)，電(dian)、磁損(sun)耗角正切(qie)

測量(liang)波段(duan)：S參數(shu)的幅(fu)度(du)、相(xiang)位和群(qun)延遲特(te)性

相(xiang)位修(xiu)正：二端(duan)口網(wang)絡(luo)端(duan)面(mian)與(yu)校準(zhun)面(mian)關(guan)系

系統控制(zhi)：計算機控制(zhi)，1、2、5、10、15倍