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JKZC-ST4型(xing)數字(zi)式(shi)四(si)探(tan)針(zhen)測試(shi)儀是(shi)運(yun)用(yong)四(si)探針(zhen)測量(liang)原(yuan)理測試(shi)電阻(zu)率(lv)/方(fang)阻(zu)的多(duo)用(yong)途(tu)綜合測量(liang)儀器(qi)。該儀器(qi)設(she)計(ji)符合GB/T 1551-2009 《矽單晶電阻(zu)率(lv)測定(ding)方法(fa)》、GB/T 1552-1995《矽(gui)、鍺(zhe)單晶電阻(zu)率(lv)測定(ding)直流(liu)四探(tan)針(zhen)法(fa)》並參考(kao)美國(guo) A.S.T.M 標(biao)準(zhun) 儀器(qi)具有測量(liang)精(jing)度(du)高(gao)、靈(ling)敏度(du)高(gao)、穩(wen)定(ding)性好、智(zhi)能(neng)化程度(du)高(gao)、測量(liang)簡(jian)便、結構緊湊(cou)、使用(yong)方(fang)便等(deng)特(te)點。