諧(xie)振(zhen)腔(qiang)法(fa)是壹種(zhong)重要(yao)的(de)材料(liao)測量方(fang)法(fa)，具有(you)廣(guang)泛(fan)的(de)應用(yong)前景(jing)。隨著科技的(de)不斷(duan)發(fa)展，諧振(zhen)腔(qiang)法(fa)將(jiang)會在材料(liao)科(ke)學、電(dian)子工(gong)程(cheng)、通(tong)信(xin)技(ji)術等領(ling)域(yu)發(fa)揮越(yue)來越重要的(de)作(zuo)用(yong)。XZQ-5000型諧(xie)振(zhen)腔(qiang)法(fa)高(gao)溫(wen)介電(dian)溫(wen)譜測試(shi)儀(yi)是為中低(di)損耗材料(liao)、均(jun)質材料(liao)、小(xiao)樣品測試(shi)等需求(qiu)而(er)開發(fa)的(de)壹(yi)款(kuan)高(gao)精(jing)度高(gao)性(xing)價比的(de)材料(liao)測試(shi)平(ping)臺(tai)。融合矢量網(wang)絡(luo)分(fen)析儀(yi)和(he)試夾具(ju)於壹體，可進行30MHz到110GHz頻(pin)率範圍內(nei)的(de)微(wei)波復(fu)介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)測試(shi)。該(gai)系(xi)列產品(pin)精(jing)度高(gao)、接(jie)口(kou)豐

微(wei)擾法(fa)復介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)測試(shi)系(xi)統(tong)是采(cai)用諧(xie)振(zhen)腔(qiang)微(wei)擾法(fa)是壹種(zhong)用於研(yan)究(jiu)諧(xie)振(zhen)器(qi)性(xing)能的(de)方(fang)法(fa)，特(te)別(bie)是在微(wei)波技(ji)術領(ling)域(yu)有(you)廣(guang)泛(fan)應用(yong)。這種(zhong)方法(fa)涉及到在諧(xie)振(zhen)腔(qiang)內(nei)部引(yin)入微(wei)小的(de)擾動，這些擾動可能來自於腔壁的(de)輕微(wei)變(bian)形或其他形式的(de)局(ju)部(bu)變(bian)化(hua)，然(ran)後(hou)通過(guo)對(dui)微(wei)擾前(qian)後場量的(de)對(dui)比和(he)分(fen)析，來估(gu)算這(zhe)些(xie)變(bian)化(hua)如(ru)何影(ying)響諧(xie)振(zhen)腔(qiang)的(de)諧(xie)振(zhen)頻(pin)率和(he)其他(ta)相關參(can)數(shu)。微(wei)波介(jie)質材料(liao)介(jie)電(dian)特(te)性(xing)的(de)測量，對(dui)於研(yan)究(jiu)材料(liao)的(de)微(wei)波特(te)性(xing)和(he)制作(zuo)微(wei)波器(qi)件(jian)，獲得(de)材料(liao)的(de)結(jie)構信(xin)息(xi)以(yi)促(cu)進新材料(liao)的(de)研(yan)制(zhi)，以(yi)及(ji)

JKZC-ST4型數(shu)字(zi)式四(si)探(tan)針(zhen)測試(shi)儀(yi)是運用(yong)四(si)探(tan)針(zhen)測量原(yuan)理(li)測試(shi)電(dian)阻(zu)率/方阻的(de)多(duo)用途(tu)綜合測量儀(yi)器(qi)。該(gai)儀(yi)器(qi)設(she)計(ji)符(fu)合GB/T 1551-2009 《矽(gui)單(dan)晶電(dian)阻(zu)率測定方(fang)法(fa)》、GB/T 1552-1995《矽、鍺(zhe)單晶電(dian)阻(zu)率測定直(zhi)流(liu)四(si)探(tan)針(zhen)法(fa)》並(bing)參(can)考美國(guo) A.S.T.M 標準 儀(yi)器(qi)具(ju)有測量精(jing)度(du)高(gao)、靈(ling)敏度高(gao)、穩(wen)定性(xing)好、智(zhi)能化(hua)程(cheng)度(du)高(gao)、測量簡(jian)便、結(jie)構緊(jin)湊(cou)、使(shi)用方(fang)便等特(te)點(dian)。

微(wei)波介(jie)質材料(liao)目前(qian)已(yi)經(jing)廣(guang)泛(fan)應用(yong)於航(hang)空航(hang)天(tian)、微(wei)波通(tong)信(xin)、隱(yin)身技(ji)術、微(wei)波通(tong)信(xin)、衛(wei)星(xing)通信(xin)、電(dian)子對抗(kang)、雷達(da)導(dao)航(hang)、遙(yao)感(gan)、遙(yao)測等系(xi)統(tong)生(sheng)物(wu)醫學、 電(dian)磁(ci)兼容(rong)等各(ge)領(ling)域(yu)在研(yan)發(fa)、生產和(he)使(shi)用微(wei)波介(jie)質材料(liao)時(shi)都需要測試(shi)其(qi)電(dian)磁(ci)特(te)性(xing)參(can)數(shu)，AV-40G型微(wei)波介(jie)質材料(liao)電(dian)磁(ci)特(te)性(xing)參(can)數(shu)測試(shi)系(xi)統(tong)是壹款(kuan)設計(ji)采(cai)用傳輸(shu)反(fan)射(she)法(fa)進行寬頻(pin)帶掃頻(pin)測量，主(zhu)要(yao)設備(bei)包括矢量網(wang)絡(luo)分(fen)析儀(yi)、測試(shi)電(dian)纜(lan)、測試(shi)夾具(ju)和(he)自動測量軟(ruan)件(jian)，系(xi)統(tong)用(yong)於測量固(gu)體(ti)介質材料(liao)的(de)介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)、

1. 概述(shu) 隨著工(gong)業(ye)技(ji)術特(te)別(bie)是信(xin)息(xi)產業(ye)發(fa)展，靜電(dian)對(dui)各部門的(de)影(ying)響(xiang)越來越大，靜電(dian)電(dian)壓(ya)表和(he)靜電(dian)場強(qiang)表使(shi)用越(yue)來越多(duo)，對靜電(dian)進行定期(qi)計(ji)量校(xiao)準、標定檢(jian)定是確保(bao)靜電(dian)防(fang)護的(de)基本(ben)條件。 JKZC-G系(xi)列靜電(dian)電(dian)壓(ya)表計(ji)量裝(zhuang)置能迅(xun)速(su)準確計(ji)量校(xiao)準、標定檢(jian)定目前(qian)國(guo)內(nei)外大(da)部(bu)分(fen)的(de)靜電(dian)電(dian)壓(ya)表和(he)靜電(dian)場強(qiang)表.。標準型主(zhu)要適(shi)用(yong)於電(dian)子、航(hang)天(tian)、兵器、國(guo)防等與(yu)電(dian)子元器件、電(dian)子設備相關的(de)行(xing)業(ye)。

非接觸式靜電(dian)電(dian)壓(ya)表校(xiao)準裝(zhuang)置測量時(shi)勿(wu)需同帶(dai)電(dian)體(ti)接觸，數(shu)字(zi)風(feng)速(su)儀(yi)不但(dan)能測量金(jin)屬(shu)體(ti)的(de)靜電(dian)，也(ye)能測量絕(jue)緣(yuan)體的(de)靜電(dian)，且(qie)對被(bei)測量物(wu)體(ti)影響(xiang)小。非接觸式靜電(dian)電(dian)壓(ya)表校(xiao)準裝(zhuang)置結構