JKZC-DCHH系(xi)列(lie)高(gao)低溫(wen)真空探針(zhen)臺是(shi)我(wo)司(si)自(zi)主(zhu)研(yan)發的壹(yi)款在(zai)環境(jing)下給樣(yang)品加載電(dian)學信號的(de)設(she)備(bei)。可以(yi)實(shi)現 器(qi)件及(ji)材(cai)料(liao)表(biao)征的(de)IV/CV特(te)性測試，射頻(pin)測試，光(guang)電(dian)測試等。通(tong)過液(ye)氮(dan)或者壓(ya)縮機制(zhi)冷(leng)，可(ke)以在防輻射屏(ping)內(nei)營造(zao)壹個穩(wen)定的測試環境(jing)。在特(te)殊(shu)材(cai)料(liao)，半(ban)導(dao)體(ti)器(qi)件等(deng)研究方向(xiang)具有(you)廣泛運用(yong)。

JKZC-UC系(xi)列(lie)高(gao)低溫(wen)探針(zhen)臺是(shi)壹(yi)款在(zai)非(fei)真空條(tiao)件(jian)下(xia)實(shi)現低溫(wen)環境(jing)的測試探針(zhen)臺。該產(chan)品釆用(yong)液(ye)氮(dan)或者空氣(qi)壓(ya)縮機制(zhi)冷(leng) ,自(zi)動控溫(wen)，設(she)備(bei)配(pei)置非(fei)常(chang)豐富。自帶屏(ping)蔽暗(an)室，壹(yi)方面(mian)可(ke)以(yi)屏(ping)蔽無線(xian)電(dian)磁(ci)幹(gan)擾，另(ling)外(wai)壹(yi)方面(mian)也可以(yi)保持氮(dan)氣(qi)正(zheng)壓(ya)環境(jing)下樣(yang)品在低溫(wen)時無(wu)結(jie)霜。此設(she)備(bei)對於壹些有(you)溫(wen)度需(xu)求的(de)測試，尤(you)其是(shi)低溫(wen)，運用(yong)非(fei)常(chang)廣泛(fan)。

JKZC-DSH系(xi)列(lie)探針(zhen)臺是(shi)我(wo)司(si)自(zi)主(zhu)研(yan)發的壹(yi)款雙(shuang)面(mian)探針(zhen)臺，最大可完成12英(ying)寸晶圓的正(zheng)反(fan)面點(dian)針(zhen)測試。在具備(bei)常(chang) 規(gui)探針(zhen)臺的(de)功(gong)能基(ji)礎上(shang),可(ke)用(yong)於晶圓和PCB板(ban)的測試，對晶圓或者(zhe)PCB板正(zheng)面和(he)背面同(tong)時紮(zha)針(zhen)以(yi)實(shi)現各種 光(guang)/電(dian)性(xing)能測試需求的(de)測試，或背(bei)面點(dian)針(zhen)，正(zheng)面收(shou)集(ji)光(guang)線(xian)等,運(yun)用(yong)十(shi)分豐富。該定制(zhi)探針(zhen)臺具有(you)優(you)良(liang)的(de)機械(xie)系(xi)統，穩定的結(jie)構(gou)，符(fu)合人(ren)體(ti)工(gong)程學，以及(ji)多(duo)項升級(ji)功能。

JKZC-DM系(xi)列(lie)探針(zhen)臺是(shi)我(wo)司(si)壹(yi)款基(ji)於高校(xiao)教(jiao)育(yu)與實(shi)驗室而(er)研發的基(ji)礎型(xing)晶圓測試探針(zhen)臺。其(qi)結(jie)構(gou)緊湊，設(she)計(ji)精密(mi)，價(jia)格(ge)實(shi)惠，配(pei)置靈(ling)活，高性價(jia)比(bi)。在(zai)高等院校(xiao)教(jiao)學和小型(xing)實(shi)驗室科(ke)研(yan)過程(cheng)中(zhong)得到了廣(guang)泛運(yun)用(yong)，配(pei)合對(dui)應(ying)的儀(yi)器(qi)儀(yi)表(biao)，用(yong)於測試各類(lei)器(qi)件的(de)IV、CV、l-t、V-t,光(guang)電(dian)信(xin)號(hao)，1/f噪(zao)聲(sheng)測試，器(qi)件表(biao)征測試，RF射頻(pin)等。如(ru) 果(guo)您(nin)的(de)測試器(qi)件pad電(dian)極(ji)大於50um,此系列(lie)探針(zhen)臺。