描述(shu)：JKZC-DCHH系列(lie)高(gao)低溫(wen)真(zhen)空探(tan)針臺(tai)是(shi)我(wo)司(si)自主研(yan)發(fa)的(de)壹(yi)款在(zai)環(huan)境(jing)下(xia)給(gei)樣(yang)品加載電(dian)學(xue)信號(hao)的(de)設備(bei)。可(ke)以(yi)實(shi)現(xian) 器件(jian)及(ji)材(cai)料表(biao)征的IV/CV特性(xing)測試，射(she)頻測試，光電(dian)測試等。通(tong)過(guo)液氮或(huo)者壓縮機(ji)制冷(leng)，可(ke)以(yi)在防輻射(she)屏內(nei)營(ying)造壹(yi)個(ge)穩(wen)定(ding)的測試環境(jing)。在(zai)特殊(shu)材(cai)料，半(ban)導(dao)體(ti)器件(jian)等(deng)研究(jiu)方向(xiang)具(ju)有(you)廣泛(fan)運(yun)用。

JKZC-DCHH系列(lie)高(gao)低溫(wen)真(zhen)空探(tan)針臺(tai)

產品概(gai)要(yao)

JKZC-DCHH系列(lie)高(gao)低溫(wen)真(zhen)空探(tan)針臺(tai)是(shi)我(wo)司(si)自主研(yan)發(fa)的(de)壹(yi)款在(zai)環(huan)境(jing)下(xia)給(gei)樣(yang)品加載電(dian)學(xue)信號(hao)的(de)設備(bei)。可(ke)以(yi)實(shi)現(xian) 器件(jian)及(ji)材(cai)料表(biao)征的IV/CV特性(xing)測試，射(she)頻測試，光電(dian)測試等。通(tong)過(guo)液氮或(huo)者壓縮機(ji)制冷(leng)，可(ke)以(yi)在防輻射(she)屏內(nei)營(ying)造壹(yi)個(ge)穩(wen)定(ding)的測試環境(jing)。在(zai)特殊(shu)材(cai)料，半(ban)導(dao)體(ti)器件(jian)等(deng)研究(jiu)方向(xiang)具(ju)有(you)廣泛(fan)運(yun)用。

極(ji)低溫(wen)測試:因(yin)為晶(jing)圓在(zai)低溫(wen)大氣(qi)環境(jing)測試時，空氣(qi)中的水汽會(hui)凝(ning)結(jie)在晶(jing)圓上(shang)，會導(dao)致漏電(dian)過(guo)大或(huo)者探(tan)針無(wu)法接(jie)觸(chu)電(dian)極(ji)而(er)使測試失敗(bai)。避免(mian)這些需(xu)要把真(zhen)空腔(qiang)內的(de)水汽在(zai)測試前(qian)用泵(beng)抽走，並且保持整個(ge)測試過(guo)程 泵(beng)的運(yun)轉(zhuan)。

高(gao)溫(wen)無(wu)氧(yang)化(hua)測試:當(dang)晶圓加(jia)熱(re)至(zhi)300°C,400°C,500°C甚(shen)至(zhi)更(geng)高(gao)溫(wen)度時(shi)，氧化現(xian)象(xiang)會(hui)越來(lai)越明(ming)顯(xian)，並且溫(wen)度越(yue) 高(gao)氧化越(yue)嚴重。過(guo)度氧(yang)化會導(dao)致晶圓電(dian)性(xing)誤差，物(wu)理(li)和機(ji)械(xie)形(xing)變(bian)。避免(mian)這些需(xu)要把真(zhen)空腔(qiang)內的(de)氧(yang)氣(qi)在測試前(qian)用泵(beng)抽走,並且保持整個(ge)測試過(guo)程泵(beng)的運(yun)轉(zhuan)。

技(ji)術特點(dian)

-防輻射(she)屏和(he)熱(re)沈(chen)設計；

•降(jiang)溫(wen)速(su)度快，常(chang)溫(wen)降(jiang)至(zhi)77k<25mins,大大提(ti)高(gao)測試效率(lv)；

•液氮自動(dong)控(kong)制系統(tong)，液氮流(liu)量(liang)模(mo)塊和(he)溫(wen)度控(kong)制模(mo)塊壹(yi)起(qi)聯(lian)動(dong)共(gong)同(tong)控(kong)制溫(wen)度。

詳(xiang)細(xi)參(can)數

搭配產品/半(ban)導(dao)體(ti)參(can)數分(fen)析儀(yi)

我(wo)們(men)經(jing)過(guo)近10年的(de)發(fa)展(zhan),在測試儀(yi)器(qi)與(yu)探(tan)針臺(tai)的搭(da)配方面(mian)具(ju)備(bei)十分(fen) 豐富(fu)的(de)經(jing)驗。半(ban)導(dao)體(ti)參(can)數分(fen)析儀(yi)方面(mian)，我們(men)和是(shi)德科技(ji)(Keysight)、泰(tai)克(Tektronix)、概(gai)倫(lun)電(dian)子(PRIMARIUS)等(deng)公(gong)司(si)的(de)半(ban)導(dao)體(ti)參(can)數分(fen)析儀(yi)有(you)過(guo)多(duo)次(ci)搭配經(jing)驗，系列(lie)型號(hao)有(you)Keysight B1500A、Keith ley 4200A-SCS、PRIMARIUS FS-Pro等,並為(wei)用戶提(ti)供(gong)半(ban)導(dao)體(ti)參(can)數分(fen)析 儀(yi)與(yu)探(tan)針臺(tai)集成(cheng)測試方案和服(fu)務(wu)。

 搭(da)配產品/矢量(liang)網絡(luo)分(fen)析儀(yi)

依(yi)靠與(yu)儀(yi)器(qi)設備(bei)廠商(shang)和(he)設備(bei)集成(cheng)經(jing)銷(xiao)商(shang)所(suo)保持良(liang)好的(de)合(he)作(zuo)關(guan)系，我(wo)司(si)可(ke)為(wei)用戶提(ti)供(gong)是(shi)德科技(ji)(Keysight)、中(zhong)電(dian)思儀(yi)(Ceyear)等(deng)公(gong)司(si)的(de)網(wang)絡(luo)分(fen)析儀(yi)和(he)模(mo)塊，有(you)Keysight E5063A/E5072A/E5061B/E5080B ENA、Keysight(N522x/3x/4xB) PNA、Keysight N5290A/ N5291A、Ceyear 3762A/B/C-S、Ceyear 3671C/D/E等,各系列(lie)型號(hao)的(de)矢量(liang)網絡(luo) 分(fen)析儀(yi)和(he)毫米(mi)波(bo)網絡(luo)分(fen)析儀(yi)，涵蓋不同測量(liang)頻率(lv)範(fan)圍、性(xing)能(neng)和功能(neng)，並 為用戶提(ti)供(gong)網(wang)絡(luo)分(fen)析儀(yi)與(yu)探(tan)針臺(tai)集成(cheng)測試方案和服(fu)務(wu),具(ju)備(bei)豐富(fu)的(de)測 試經(jing)驗。

搭配產品/其他(ta)類(lei)型源(yuan)表(biao)

在其它類(lei)型源(yuan)表(biao)方面(mian)，比如(ru)tek2450,tek2600,keysight2900,普(pu)賽(sai)斯(si)S300,鐵(tie)電(dian)分(fen)析儀(yi)，各類(lei)示(shi)波(bo)器，各類(lei)電(dian)源(yuan)，頻譜儀(yi)等(deng)等都(dou)有(you)多(duo)年(nian)的(de)搭(da)配經(jing)驗。