描述(shu)：非標(biao)探(tan)針臺(tai)/微(wei)型(xing)探(tan)針臺(tai)/倒(dao)裝(zhuang)手(shou)動測(ce)試夾具/光電流(liu)測(ce)試顯微(wei)鏡(jing)/TEC制冷(leng)卡盤/磁場探(tan)針臺(tai)(無(wu)磁設計(ji))/110g以上(shang)高頻測(ce)試探(tan)針臺(tai)/自動測(ce)試系統/可升降平(ping)臺(tai)/高(gao)精(jing)度(du)納(na)米探(tan)針座(zuo)/毫(hao)米級手持(chi)式探(tan)針夾具/毫(hao)米級手持(chi)式探(tan)針夾具/FA失(shi)效(xiao)分(fen)析探(tan)針臺(tai)

非標(biao)探(tan)針臺(tai)

I (1)微(wei)型(xing)探(tan)針臺(tai)

•整(zheng)機(ji)外形尺(chi)寸:約(yue)380mmL*300mmW*320mm H,重量:約(yue)10 kg；

•雙探(tan)針座(zuo)平(ping)臺(tai)鍍(du)鏢設計(ji)，提高(gao)了(le)針(zhen)座(zuo)平(ping)臺(tai)和(he)針(zhen)座(zuo)之間(jian)的吸(xi)附力；

• ChJKZC-UCk XY微(wei)分(fen)頭(tou)設(she)計(ji)，行(xing)程(cheng)25mm*25mm,精度(du)2um；

• ChJKZC-UCk大(da)小：2英寸，中心(xin)吸(xi)附孔(kong)和(he)多圈吸(xi)附環(huan)固(gu)定(ding)樣(yang)品(pin),均(jun)獨(du)立(li)控制；

•卡盤電學(xue)獨(du)立(li)懸空(kong)，帶(dai)4mm香(xiang)蕉(jiao)頭(tou)插(cha)口,可以(yi)作為背電極(ji)使(shi)用(yong)；

-臺(tai)體(ti)底(di)板(ban)帶高性能防震海綿，可壹(yi)定(ding)程(cheng)度(du)減(jian)小外界(jie)震動對(dui)測(ce)試的幹(gan)擾;

•整(zheng)機(ji)人(ren)體(ti)工(gong)程(cheng)學(xue)設(she)計(ji)，操作簡單(dan)，使用便捷。

| (2)倒(dao)裝手動(dong)測(ce)試夾具

-可給(gei)樣(yang)品(pin)加載DC或(huo)者(zhe)RF信號；

•樣(yang)品(pin)可在(zai)0~180度(du)任(ren)意(yi)角(jiao)度(du)內(nei)進(jin)行(xing)旋轉(zhuan)並固定(ding)；

-具備微(wei)調(tiao)功(gong)能，精(jing)度(du)0.1度(du)；

•玻(bo)璃(li)樣(yang)品(pin)載(zai)臺(tai)，高(gao)透(tou)光性；

•可無(wu)磁化(hua)設(she)計(ji)，在(zai)光學(xue),電磁等(deng)環(huan)境(jing)中運用較為廣。

| (3)光電流(liu)測(ce)試顯微(wei)鏡(jing)

-可在(zai)原(yuan)有(you)光路基礎上(shang)可以(yi)導入另(ling)壹(yi)路光源，用於(yu)輻(fu)照樣(yang)品(pin)以(yi)測(ce)試樣(yang)品(pin)在(zai)特(te)定(ding)波長(chang)及能量下電學(xue)性(xing)能；

-顯(xian)微(wei)鏡(jing)設(she)計(ji)為雙光路或(huo)3光路，其中壹(yi)路為導入光通(tong)路，另壹(yi)到兩(liang)路為成像(xiang)光路導入光為平(ping)行(xing)的激光或(huo)其它線(xian)性(xing)光源 ,波長(chang)範(fan)圍(wei)200nm~20000nm,中間可加入多個波(bo)片過(guo)濾(lv),起(qi)偏(pian)及偏(pian)振角(jiao)度(du)無(wu)級360度(du)調(tiao)節。光斑(ban)輻(fu)照直徑(jing)有(you)650nm紅光 指示。所有(you)模(mo)塊均(jun)可拉(la)出設(she)計(ji)，對(dui)導入光性質無(wu)影響；

-導入光光路可選(xuan)擇光時間開關,精(jing)確(que)控制導入光的輻(fu)照時間(jian)，精度(du)1ms,範(fan)圍(wei)2ms~oo,在(zai)控(kong)制界(jie)面上(shang)可對(dui)各種參(can)數進(jin) 行(xing)詳(xiang)細(xi)設置，成(cheng)像(xiang)光路為同軸照明(ming)金(jin)相成(cheng)像，其中壹(yi)路為1倍(bei)成(cheng)像，可選(xuan)擇第2路成像，為物(wu)鏡的0.25-10倍(bei)率(lv)，通(tong)常在(zai)高(gao) 低(di)溫(wen)測(ce)試系統裏會(hui)用到，同壹(yi)個物(wu)鏡不(bu)切換，得到(dao)兩(liang)個不(bu)同視(shi)野的成(cheng)像。

（4）TEC制冷(leng)卡盤

•釆(釆)用TEC制冷(leng)，無(wu)需液氮，使用(yong)方(fang)便(bian)；

可給(gei)樣(yang)品(pin)提(ti)供不(bu)同溫(wen)度(du)環(huan)境(jing)；

-樣(yang)品(pin)臺(tai)大(da)小(xiao)可選(xuan)，防幹(gan)擾(rao)設(she)計(ji)，具備良(liang)好的接地(di)性能;

•溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei):負45°C~150°C,溫(wen)度(du)分(fen)辨(bian)率(lv)：0.1°C,

溫(wen)度(du)穩(wen)定(ding)性：土 0.3°C；

•樣(yang)品(pin)臺(tai)微(wei)調(tiao)升降，行(xing)程(cheng)0-10mm,精度(du)10um.

 (5)磁(ci)場(chang)探(tan)針臺(tai)(無(wu)磁設計(ji))

•在(zai)探(tan)針臺(tai)的基(ji)礎上(shang)，可加載三(san)維(wei)磁場(chang)，多維(wei)磁場(chang)，磁場(chang)強度(du)，精(jing)度(du)和(he)間(jian)隙均(jun)可調(tiao)整(zheng);

-高剛(gang)性結(jie)構，所有(you)零(ling)配件(jian)均(jun)采(cai)用(yong)無(wu)磁化(hua)材(cai)料(liao)；

-可加載高(gao)低溫(wen)，可同時(shi)進(jin)行(xing)DC和(he)RF測(ce)試；

可以(yi)旋轉(zhuan)，科客制化(hua)。

|⑹110g以(yi)上(shang)高頻測(ce)試探(tan)針臺(tai)

-可配合(he)市(shi)場主流(liu)擴頻模(mo)塊進(jin)行(xing)超高頻測(ce)試；

•大行(xing)程(cheng)高精(jing)度(du)探(tan)針座(zuo),X-Y-Z-Theta四軸控制；

-顯(xian)微(wei)鏡(jing)可以(yi)在(zai)2英寸*2英寸*2英寸範(fan)圍(wei)內(nei)移動,擴大(da)了顯(xian)微(wei)鏡(jing)視(shi)場(chang)；

-兼(jian)容(rong)直流(liu)與高(gao)頻信號；

-可以(yi)定(ding)制,可升級性強(qiang)；

-最(zui)大可以(yi)測(ce)試12英寸樣(yang)品(pin),探(tan)針臺(tai)chJKZC-UCk具(ju)備升降功能，便(bian)於(yu)樣(yang)品(pin)和(he) 探(tan)針的快(kuai)速(su)分(fen)離。

(7)自動測(ce)試系統

-自動探(tan)針測(ce)試系統，可以(yi)與半(ban)參(can)，網(wang)分(fen)聯動(dong)；

-電動二維(wei)平(ping)臺(tai)，可手(shou)動和(he)電動操作；

• ChJKZC-UCk XY軸運動行(xing)程(cheng)100*100mm,復(fu)定(ding)位精(jing)度(du)＜±lum；

• X-Y軸驅動:電機(ji)+絲(si)桿(gan)+光柵尺(chi)；

-探(tan)針/光纖(xian)探(tan)針XYZ軸電動模(mo)塊30*30*30mm,復(fu)定(ding)位精(jing)度(du)W ±lum；

-X-Y-Z軸驅動:電機(ji)+絲(si)桿(gan)+光柵尺(chi)。

| (8)可升降平(ping)臺(tai)

產(chan)品(pin)型(xing)號(hao)：T-station

產(chan)品(pin)參(can)數：

-尺(chi)寸和(he)重(zhong)量定(ding)制；

-單(dan)個探(tan)針座(zuo)平(ping)臺(tai)最(zui)多可同時(shi)放置3個探(tan)針座(zuo)；

-探(tan)針座(zuo)平(ping)臺(tai)表(biao)面鍍鏢，增大與探(tan)針座(zuo)之間(jian)的吸(xi)附力;

-隱(yin)匿(ni)螺紋(wen)固(gu)定(ding)於(yu)標準(zhun)蜂窩(wo)板(ban)，美觀，並且(qie)方(fang)便(bian)拆(chai)卸(xie)；

-平(ping)臺(tai)可升降，升降高度(du)和(he)精(jing)度(du)可定(ding)制；

-可配合(he)光電流(liu)顯微(wei)鏡(jing)使(shi)用。

| (9)高精(jing)度(du)納(na)米探(tan)針座(zuo)

產(chan)品(pin)型(xing)號(hao)：JKZC-DCH-20nm

產(chan)品(pin)參(can)數：

-X軸分(fen)辨(bian)率(lv)：20nm,行(xing)程(cheng)30um (旋鈕(niu)控制盒(he))；

-YZ軸分(fen)辨(bian)率(lv)：10um,行(xing)程(cheng)+-6.5mm；

-釆(釆)用高精(jing)度(du)壓(ya)電陶(tao)瓷(ci)設計(ji)，可以(yi)固定(ding)步距(ju)撥動(dong)樣(yang)品(pin)或(huo)者(zhe)納米線(xian)。

(10)毫(hao)米級手持(chi)式探(tan)針夾具

產(chan)品(pin)型(xing)號(hao)：JKZC-DCH

產(chan)品(pin)參(can)數

•整(zheng)體尺(chi)寸:20*20*180mm;

-萬(wan)向(xiang)調節旋(xuan)鈕(niu)，方向(xiang)可調(tiao)，松緊(jin)可調(tiao)；

磁吸(xi)底(di)座(zuo)，直徑(jing)20mm;

•兼(jian)容(rong)彈簧(huang)針和(he)晶圓針(zhen)；

-Cable接頭(tou)可定(ding)制三(san)軸，同軸或(huo)者(zhe)其它。

(11) FA失(shi)效(xiao)分(fen)析探(tan)針臺(tai)

產(chan)品(pin)型(xing)號(hao)：FA

產(chan)品(pin)參(can)數

•探(tan)針臺(tai)系統可以(yi)選用(yong)：4~12英寸JKZC-DN系列探(tan)針臺(tai)。

•激光系統可以(yi)選用(yong)美國ESI三(san)波段(duan)激光器(qi)或(huo)者(zhe)法國 quantel激光器(qi)

•美(mei)國ESI (NEWWAVE)激光器(qi)參(can)數

鐳(lei)射(she)波(bo)長1064和(he)532nm和(he)355nm

輸出(chu)功(gong)率(lv)2.2mJ/pulse

擊(ji)打頻率(lv)lHz~50Hz

可加工(gong)的材(cai)質:Copper/Gold/Poly Silicon/Alu minum/Silicon Dixoide等(deng)

最(zui)小加工(gong)尺(chi)寸1微(wei)米(使用100X物(wu)鏡)

         最(zui)大加工(gong)尺(chi)寸40微(wei)米(使用50X物(wu)鏡)