描述(shu)：鐵電壓(ya)電分析儀(yi) TF Analyzer 1000
TF ANALYZER 1000是(shi)壹(yi)款(kuan)緊(jin)湊型(xing)鐵電壓(ya)電分析儀(yi)，具備鐵電、壓(ya)電材(cai)料(liao)所(suo)有基本(ben)特性測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)，可(ke)與(yu)激光幹涉(she)儀(yi)和SPM掃描探(tan)針顯微(wei)鏡(jing)等(deng)微(wei)位(wei)移傳感器聯(lian)用(yong)，適用(yong)於(yu)薄(bo)膜(mo)、厚膜和塊狀陶(tao)瓷(ci)及鐵電器件(jian)等(deng)分析測(ce)試(shi)。

鐵電壓(ya)電分析儀(yi) TF Analyzer 1000

TF ANALYZER 1000是(shi)壹(yi)款(kuan)緊(jin)湊型(xing)鐵電壓(ya)電分析儀(yi)，具備鐵電、壓(ya)電材(cai)料(liao)所(suo)有基本(ben)特性測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)，可(ke)與(yu)激光幹涉(she)儀(yi)和SPM掃(sao)描探(tan)針顯微(wei)鏡(jing)等(deng)微(wei)位(wei)移傳感器聯(lian)用(yong)，適用(yong)於(yu)薄(bo)膜(mo)、厚膜和塊狀陶(tao)瓷(ci)及鐵電器件(jian)等(deng)分析測(ce)試(shi)。 

主(zhu)要(yao)技術指標(biao)： 
電(dian)壓範(fan)圍：±12V標(biao)配 （可(ke)擴(kuo)展到(dao) +/- 10kV） 
測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)：0.01Hz～1000Hz 
最(zui)大(da)疲(pi)勞測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)：50kHz 
最(zui)小脈沖(chong)寬(kuan)度：20μs 
輸(shu)出(chu)電阻(zu)：50Ω 
最(zui)大(da)電(dian)容(rong)：100nF 
輸(shu)出(chu)電流(liu)：+/-50mA 
電(dian)流放(fang)大(da)器：電(dian)流(liu)大(da)小(xiao)範(fan)圍：1nA~1A

可(ke)測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)： 
測(ce)試(shi)軟(ruan)件(jian)aixPlorer基(ji)於(yu)Windows 7操(cao)作(zuo)系統，操(cao)作(zuo)極(ji)為(wei)便(bian)捷 
測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)：
  - 動(dong)態(tai)電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian) (Hysteresis)：測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)0.01Hz~1000Hz 
  - 疲(pi)勞 (Fatigue)：50KHz 
  - 保持力(li) (Retention) 
  - 印(yin)跡(ji) (Imprint)  
  - 漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)試(shi) (Leakage Current) 
  - C(V) 曲(qu)線(xian)測(ce)試(shi) 
  - 壓(ya)電性能測(ce)試(shi) (蝴蝶(die)曲(qu)線(xian)、d33曲(qu)線(xian))
  - 變(bian)溫性能測(ce)試(shi) (Thermo Measurement)