描(miao)述(shu)：內存(cun)窗(chuang)口(kou)信息是基於(yu)對(dui)器(qi)件(jian)*集成後(hou)進行(xing)模擬(ni)電(dian)滯回(hui)線測(ce)量後(hou)得出(chu)的(de)。

應用領(ling)域：
鐵(tie)電(dian)存儲(chu)器(qi)的(de)生產(chan)
生產(chan)過(guo)程中(zhong)的(de)質(zhi)量控制，以(yi)便(bian)不(bu)會影(ying)響(xiang)到CMOS生產(chan)過(guo)程
在MHz的(de)操作(zuo)速度下(xia)，單級電(dian)滯回(hui)線數(shu)據(ju)

優(you)點(dian)：
生產(chan)過(guo)程的(de)工(gong)藝優(you)化(hua)
在(zai)MHz範(fan)圍(wei)的(de)時(shi)間(jian)影響(xiang)測(ce)試
適(shi)用(yong)於2T-2C 設計(ji)和1T-1C設(she)計(ji)

鐵(tie)電(dian)隨機(ji)存儲(chu)器(qi)測(ce)試儀
FeRAM (Ferroelectric Random Access Memory) Cell Tester

內存(cun)窗(chuang)口(kou)信息是基於(yu)對(dui)器(qi)件(jian)*集成後(hou)進行(xing)模擬(ni)電(dian)滯回(hui)線測(ce)量後(hou)得出(chu)的(de)。

應用領(ling)域：
鐵(tie)電(dian)存儲(chu)器(qi)的(de)生產(chan)
生(sheng)產(chan)過(guo)程中(zhong)的(de)質(zhi)量控制，以(yi)便(bian)不(bu)會影(ying)響(xiang)到CMOS生(sheng)產(chan)過(guo)程
在(zai)MHz的(de)操作(zuo)速度下(xia)，單級電(dian)滯回(hui)線數(shu)據(ju)

優(you)點(dian)：
生(sheng)產(chan)過(guo)程的(de)工(gong)藝優(you)化(hua)
在(zai)MHz範(fan)圍的(de)時(shi)間(jian)影響(xiang)測(ce)試
適(shi)用(yong)於2T-2C 設(she)計(ji)和1T-1C設(she)計(ji)
從(cong)模擬(ni)測(ce)試數(shu)據(ju)得出(chu)內存(cun)窗(chuang)口(kou)信息
客(ke)戶(hu)可(ke)定制測(ce)試環境(jing)
升(sheng)級服(fu)務(wu)
客(ke)戶(hu)支持

程序功(gong)能：
可(ke)以(yi)在單(dan)壹器(qi)件(jian)上進行(xing)電(dian)滯回(hui)線、PUND脈(mai)沖測(ce)試等(deng)測(ce)試過(guo)程。
上(shang)升時(shi)間(jian)可(ke)實現1μm，自定義(yi)的(de)測(ce)試脈(mai)沖可(ke)以(yi)用於(yu)測(ce)試不(bu)同(tong)類型(xing)的(de)失效機(ji)制。預極(ji)化(hua)脈(mai)沖參數(shu)可(ke)以(yi)在測(ce)試序列裏(li)單獨(du)設(she)置(zhi)。
可(ke)以(yi)使用(yong)Access Time程序進行(xing)相同脈(mai)沖強(qiang)度下(xia)不(bu)同(tong)幅值相(xiang)同脈沖寬度(du)或相同脈沖幅(fu)值(zhi)不(bu)同(tong)脈沖寬度(du)的(de)測(ce)試。
這(zhe)些測(ce)試是(shi)基於(yu)的(de)技術(shu)：原(yuan)位(wei)寄(ji)生(sheng)電(dian)容補償(chang)。

特(te)點(dian)：
FeRAM測(ce)試儀是(shi)用(yong)來記(ji)錄全(quan)面(mian)的(de)測(ce)試單(dan)元電(dian)滯回(hui)線的(de)，測(ce)試儀生(sheng)成(cheng)所需要(yao)的(de)時(shi)間(jian)。
如果(guo)芯(xin)片(pian)的(de)布(bu)局(ju)發(fa)生變(bian)化(hua)，可(ke)以(yi)自動獲取(qu)材(cai)料特(te)性(xing)較大的(de)陣(zhen)列(lie)。這種情況(kuang)下(xia)，測(ce)試儀是(shi)用(yong)壹個(ge)開(kai)關(guan)盒和(he)壹個(ge)探(tan)針臺工(gong)作(zuo)的(de)。軟件(jian)可(ke)以(yi)自動調整(zheng)設(she)置(zhi)的(de)參數(shu)。
參數(shu)的(de)統計(ji)評價是(shi)通(tong)過(guo)aixPlorer完成的(de)。
FeRAM測(ce)試儀最(zui)大(da)的(de)優(you)點(dian)就是(shi)可(ke)以(yi)使重(zhong)要信息流(liu)程化(hua)，從(cong)而(er)提高(gao)產(chan)量，降(jiang)低(di)了成本(ben)，從(cong)而減(jian)少(shao)了(le)產(chan)品(pin)上市(shi)的(de)時(shi)間(jian)。相關(guan)的(de)數(shu)字結(jie)果(guo)和(he)模擬(ni)實驗提供(gong)了(le)重(zhong)要信息。
FeRAM測(ce)試儀擁(yong)有(you)高分(fen)辨(bian)測(ce)量和(he)速度到(dao)微秒的(de)測(ce)量功(gong)能。