描述：高溫(wen)塊(kuai)體壓電分析儀 aixPES-600/800

本系統(tong)主(zhu)要用(yong)於(yu)高溫(wen)下(xia)的(de)壓(ya)電塊(kuai)體陶瓷樣品(pin)的(de)全(quan)面(mian)電(dian)性能和機(ji)電(dian)性能的(de)表(biao)征(zheng)。
壓電(dian)測試(shi)溫(wen)度(du)可以達(da)到(dao)室(shi)溫(wen)到(dao)600℃或(huo)室(shi)溫(wen)到(dao)800℃兩(liang)種(zhong)溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei)。

大信號(hao)和(he)小(xiao)信號(hao)材料的(de)特(te)征(zheng)可以在壹(yi)定(ding)溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei)內表(biao)征(zheng)。樣品(pin)上的(de)電(dian)流響(xiang)應(ying)測(ce)量是(shi)通過精(jing)確的(de)虛(xu)擬(ni)接(jie)地方法(fa)衡量(liang)電(dian)壓(ya)激(ji)勵(li)信號(hao)。樣品(pin)的(de)微(wei)位(wei)移同(tong)時(shi)通過激(ji)光幹(gan)涉儀進(jin)行測量(liang)。

高溫(wen)塊(kuai)體壓電分析儀 aixPES-600/800

本系統(tong)主(zhu)要用(yong)於(yu)高溫(wen)下(xia)的(de)壓(ya)電塊(kuai)體陶瓷樣品(pin)的(de)全(quan)面(mian)電(dian)性能和機(ji)電(dian)性能的(de)表(biao)征(zheng)。
壓電測試(shi)溫(wen)度(du)可以達(da)到(dao)室(shi)溫(wen)到(dao)600℃或室溫(wen)到(dao)800℃兩種(zhong)溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei)。

大信號(hao)和(he)小(xiao)信號(hao)材料的(de)特(te)征(zheng)可以在壹(yi)定(ding)溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei)內表(biao)征(zheng)。樣品(pin)上的(de)電(dian)流響(xiang)應(ying)測(ce)量是(shi)通過精(jing)確的(de)虛(xu)擬(ni)接(jie)地方法(fa)衡量(liang)電(dian)壓(ya)激(ji)勵(li)信號(hao)。樣品(pin)的(de)微(wei)位(wei)移同(tong)時(shi)通過激(ji)光幹(gan)涉儀進(jin)行測量(liang)。

應用(yong)：
材料性能的(de)研(yan)究與(yu)開(kai)發
器(qi)件質(zhi)量(liang)
大信號(hao)和(he)小(xiao)信號(hao)測(ce)試(shi)
溫(wen)度(du)依賴性測試(shi)
可靠性和疲勞試(shi)驗
漏電流測(ce)試(shi)

優(you)點(dian)：
壹(yi)個系(xi)統(tong)就(jiu)可以進(jin)行(xing)塊(kuai)體陶瓷材料的(de)壓(ya)電和(he)鐵電性能進行綜合評價(jia)，如傳感(gan)器(qi)和執(zhi)行(xing)器(qi)
單(dan)壹(yi)軟件進(jin)行(xing)外部(bu)硬件控制(zhi)（如溫(wen)度(du)控制(zhi)器(qi)、高壓放大器(qi)、位(wei)移傳感(gan)器(qi)、示(shi)波(bo)器(qi)）和數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)
遠程接(jie)入(ru)和腳(jiao)本控制(zhi)
選件可實(shi)現(xian)數(shu)據庫(ku)連(lian)接(jie)（ODBC）方便(bian)對(dui)材料/設(she)備進(jin)行(xing)表(biao)征(zheng)
針(zhen)對用(yong)戶(hu)應(ying)用(yong)和(he)要(yao)求的(de)硬(ying)件
升級(ji)服(fu)務(wu)，用(yong)戶(hu)支(zhi)持

特(te)點(dian)：
支持的(de)硬(ying)件：
內置(zhi)或(huo)外置(zhi)的(de)高壓放大器(qi)（+/-100V到+/-10 kV）
塊(kuai)體陶瓷樣品(pin)夾(jia)具
溫(wen)度(du)控制(zhi)器(qi)和溫(wen)度(du)腔(qiang)
位(wei)移傳感(gan)器(qi)（如激光(guang)幹(gan)涉儀、電(dian)容或電(dian)感(gan)）
外置(zhi)鎖(suo)相放大器(qi)或阻(zu)抗橋(qiao)

測試(shi)功能(neng)：
大信號(hao)電(dian)極(ji)化和位(wei)移（單(dan)壹(yi)極化和雙(shuang)化）
小(xiao)信號(hao)電(dian)容(rong)、損(sun)耗(hao)、壓電(dian)系(xi)數與(yu)單(dan)壹(yi)和雙(shuang)極(ji)直(zhi)流偏壓(ya)
電性能和機(ji)電(dian)性能隨溫(wen)度(du)的(de)變化研(yan)究
熱釋電測(ce)試(shi)
漏電流測(ce)試(shi)
疲勞測試(shi)
阻(zu)抗測試(shi)
用(yong)戶(hu)定(ding)義(yi)激(ji)勵(li)波(bo)形

軟件：
Windows 7操作系統(tong)
通過GPIB或以太網的(de)遠程接(jie)入(ru)和腳(jiao)本控制(zhi)
通過ODBC接(jie)口(kou)的(de)數(shu)據庫(ku)連(lian)接(jie)
測試(shi)數據(ju)通過ASCII形式(shi)輸出
測試(shi)數據(ju)交(jiao)換(huan)通過aixPlorer軟件或Resonance Analyzer。