描述：低溫塊體(ti)壓電(dian)分析(xi)儀(yi) aixPES-Cryo
本(ben)系統(tong)主要(yao)用於(yu)高低溫下(xia)的(de)壓(ya)電(dian)塊體(ti)陶(tao)瓷樣品的(de)全面(mian)電(dian)性(xing)能和(he)機(ji)電(dian)性(xing)能的(de)表征。壓電(dian)測試(shi)溫度可以達(da)到-100℃到+600℃。

大信(xin)號和(he)小信號材(cai)料(liao)的(de)特(te)征可以在壹(yi)定溫度範圍內(nei)表征。樣品上的(de)電(dian)流響(xiang)應測(ce)量(liang)是通過精確(que)的(de)虛(xu)擬接(jie)地(di)方(fang)法衡量(liang)電(dian)壓激勵信(xin)號。樣(yang)品的(de)微(wei)位(wei)移同(tong)時(shi)通過激光(guang)幹涉儀(yi)進(jin)行測量(liang)。

低(di)溫塊體(ti)壓電(dian)分析(xi)儀(yi) aixPES-Cryo

本系統(tong)主要(yao)用於(yu)高低溫下(xia)的(de)壓(ya)電(dian)塊體(ti)陶(tao)瓷樣品的(de)全面(mian)電(dian)性(xing)能和(he)機(ji)電(dian)性(xing)能的(de)表征。
壓(ya)電(dian)測試(shi)溫度可以達(da)到-100℃到+600℃。

大信號和小(xiao)信(xin)號(hao)材(cai)料(liao)的(de)特(te)征可以在壹(yi)定溫度範圍內(nei)表征。樣品上的(de)電(dian)流響(xiang)應測(ce)量(liang)是通過精確(que)的(de)虛(xu)擬接(jie)地(di)方(fang)法衡量(liang)電(dian)壓激勵信(xin)號。樣(yang)品的(de)微(wei)位(wei)移同(tong)時(shi)通過激光(guang)幹涉儀(yi)進(jin)行測量(liang)。

應用：
材(cai)料(liao)性(xing)能的(de)研(yan)究(jiu)與(yu)開發
器(qi)件質(zhi)量(liang)
大信號(hao)和小(xiao)信(xin)號測試(shi)
溫度依賴性(xing)測試(shi)
可靠性(xing)和疲勞試(shi)驗(yan)
漏(lou)電(dian)流測(ce)試(shi)

優(you)點(dian)：
壹(yi)個(ge)系統(tong)就可以進行(xing)塊(kuai)體陶(tao)瓷材(cai)料(liao)的(de)壓(ya)電(dian)和鐵(tie)電(dian)性(xing)能進(jin)行(xing)綜(zong)合(he)評(ping)價，如傳感器(qi)和執(zhi)行器(qi)
單壹(yi)軟件(jian)進行(xing)外(wai)部硬(ying)件(jian)控制（如溫度控制器(qi)、高壓(ya)放(fang)大(da)器(qi)、位(wei)移傳感器(qi)、示(shi)波(bo)器(qi)）和數據(ju)采(cai)集(ji)
遠(yuan)程(cheng)接入和腳(jiao)本控制
選(xuan)件可實(shi)現(xian)數據(ju)庫(ku)連接(jie)（ODBC）方(fang)便對(dui)材(cai)料(liao)/設備進(jin)行(xing)表征
針(zhen)對用戶(hu)應用(yong)和要求(qiu)的(de)硬(ying)件(jian)
升級(ji)服(fu)務，用戶(hu)支持(chi)

特點(dian)：
支持(chi)的(de)硬(ying)件(jian)：
內(nei)置或(huo)外(wai)置的(de)高(gao)壓(ya)放(fang)大(da)器(qi)（+/-100V到+/-10 kV）
塊體陶(tao)瓷樣品夾(jia)具
溫度控制器(qi)和溫度腔(qiang)
位(wei)移傳感器(qi)（如激光(guang)幹涉儀(yi)、電(dian)容或(huo)電(dian)感）
外(wai)置鎖相放(fang)大(da)器(qi)或阻(zu)抗橋(qiao)

測試(shi)功(gong)能(neng)：
大信號電(dian)極化(hua)和(he)位(wei)移（單壹(yi)極化(hua)和雙(shuang)化）
小信號(hao)電(dian)容、損(sun)耗(hao)、壓(ya)電(dian)系數與(yu)單(dan)壹(yi)和雙(shuang)極直(zhi)流偏(pian)壓(ya)
電(dian)性(xing)能和(he)機(ji)電(dian)性(xing)能隨(sui)溫度的(de)變化研(yan)究(jiu)
熱(re)釋(shi)電(dian)測試(shi)
漏(lou)電(dian)流測(ce)試(shi)
疲勞測試(shi)
阻抗測試(shi)
用戶(hu)定義(yi)激勵波(bo)形(xing)

軟件：
Windows 7操作(zuo)系統(tong)
通過GPIB或以太網(wang)的(de)遠(yuan)程(cheng)接入和腳(jiao)本控制
通過ODBC接口(kou)的(de)數據(ju)庫(ku)連接(jie)
測(ce)試(shi)數據(ju)通過ASCII形(xing)式輸出
測試(shi)數據(ju)交(jiao)換通過aixPlorer軟件或Resonance Analyzer。